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          基帶衰落仿真在手機綜測的應用

          作者: 時間:2012-09-03 來源:網(wǎng)絡 收藏

          一、 什么是衰落?

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/260032.htm

          衰落從范圍上來講,大體分為三種情況:大區(qū)域衰落,小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示,大區(qū)域衰落指的是信號在長距離(幾百個波長以上)傳播時的平均衰減,主要由大氣損耗,建筑物或大的物體如山丘、樹木遮擋所引起。

          圖1 大區(qū)域衰落

          圖2 小區(qū)域衰落

          圖3 室內(nèi)衰落

          小區(qū)域衰落主要有多徑傳播和多普勒頻移所引起(如圖2所示)。信號有基站發(fā)出來可能會通過直射、反射或散射才能到達接收者,不同路徑信號的強度和時延都會有所不同。另外由于接收者是運動的,它會不停地經(jīng)過信號高強度區(qū)域或低強度區(qū)域。還有一個影響是由于接收者的高速運動,會導致相對頻移,如果向著發(fā)射機方向運動,頻率會升高,背離發(fā)射機方向,頻率會降低。

          室內(nèi)環(huán)境與小區(qū)域衰落的情況類似(如圖3所示),信號在傳播過

          程中會受到反射、折射、散射的影響,比如在辦公室的環(huán)境中,各種金屬的設備、家具等都會對信號產(chǎn)生多徑效應。

          衰落的環(huán)境會對無線通信系統(tǒng)的通信質(zhì)量造成很大的影響,大區(qū)域的衰落主要表現(xiàn)在由于距離產(chǎn)生的路徑損耗,這會導致系統(tǒng)信噪比的減低。小區(qū)域的多徑效應和多普勒效應會引起碼間干擾,還會引起同步和鎖相的問題。

          二、 無線設備抗衰落性能測試的一般方法

          由于衰落對通信造成很大的影響,在移動接收機設計的時候,就必須采取各種辦法來保證足夠的余量防止衰落問題。所以,在移動設備的開發(fā)和生產(chǎn)階段,模擬衰落的環(huán)境對設備進行測試。

          各種移動終端的測試標準中,都對衰落環(huán)境下的測試做了明確的規(guī)定,如下表所示。W-CDMA 在3GPP 標準TS 34.121 V3.12.0 中規(guī)定了以下的測試:

          7.3 Demodulation in multi-path fading, case 1, 2, 3, 4, 6

          7.4 Demodulation in moving propagation

          7.5 Demodulation in birth/death propagation

          7.6 Demodulation of DCH in downlink

          CDMA2000 在3GPP標準C.S0011B中規(guī)定了以下測試:

          3.3.4 Demodulation performance in multipath fading

          3.4.2 Demodulation performance in multipath fading

          3.4.7 Demodulation performance in multipath fading with

          closed loop power control (FPC_MODE = '000')

          3.4.8 Demodulation performance in multipath fading with

          closed loop power control (FPC_MODE = '010')

          3.4.9 Demodulation performance in multipath fading with

          closed loop power control (FPC_MODE = '000', '001', and '010')

          3.4.10 Demodulation performance in multipath fading with

          closed loop power control (FPC_MODE = '000') and transmit diversity

          3.4.11 Demodulation performance in multipath fading with

          closed loop power control (FPC_MODE = '010') and transmit diversity

          圖4 常見的衰落環(huán)境的方法

          在目前的許多測試系統(tǒng)中,大多采用在RF鏈路上插入衰落的辦法( 如圖4所示)。

          這種方法先把要衰落的信號進行下變頻,然后數(shù)字化。 衰落的模型加入數(shù)字化的信號,然后數(shù)模變換、上變頻成RF信號。最后還要加入相應的噪聲信號。這里噪聲信號必須保證與衰落的模型分別加入,因為噪聲(AWGN)對于任何多徑信道都是獨立的。 因此,在這個過程中有兩個地方必須注意,一個是模數(shù)/數(shù)模變換時的變換損失,另一個是對噪聲信號幅度的校準。

          變換損耗發(fā)生在每次把信號從模擬到數(shù)字取樣的時候,或從數(shù)字恢復到模擬的時候。這會帶來一定的系統(tǒng)誤差,只有把這個系統(tǒng)誤差降低到盡可能小的時候,衰落仿真的精度才是可靠的。

          在往信號上面加AWGN的時候,至關重要的是幅度要準確,它必須在衰落之后加,以便保證背景噪聲沒有被衰落衰減。但是添加噪聲在改變載干比(C/N)的同時,也改變了總功率幅度。為了保證噪聲幅度準確,必須確定衰落后的載波功率幅度,這會消耗很長的時間,因為對輸出的功率要進行反復的測量才能得到統(tǒng)計上正確的幅度。

          三、 基帶仿真與綜合測試儀結(jié)合實現(xiàn)CDMA、1xEVDO、W-CDMA抗衰落測試

          由于圖4種介紹的衰落系統(tǒng)比較復雜,系統(tǒng)造價也比較高。 對于許多只對手機接收機衰落環(huán)境下性能測試的部門來說,成本負擔比較重。為此,安捷倫公司用成本低廉的仿真卡與設計了一套價格低廉,使用方便的測試方案。 具體方案如圖5所示。

          圖5 安捷倫科技仿真卡與結(jié)合的測試方案

          基帶仿真是一種新的衰落仿真方法,它由安裝在PC中的PCI基帶仿真卡N5101A和衰落仿真軟件組成,它在數(shù)字部分完成衰落環(huán)境的仿真,并對噪聲信號校準。 通過安裝504選件,可以與衰落仿真卡接口。 這樣,8960 要送給手機的信號,在基帶處理部分先送到仿真卡,添加了衰落環(huán)境和噪聲后,送回到8960的RF鏈路。對于手機來說,接收到的信號仿佛經(jīng)過了衰落的環(huán)境。同時,用戶可以通過PC對8960進行遠程控制,完成自動測試。安捷倫公司的自動化測試軟件WTM已經(jīng)把標準中定義的衰落環(huán)境測試定義成了標準的測試項目,用戶如果運行WTM測試軟件,只需選擇相應的測試項目,就可以方便地完成測試。

          結(jié)論:衰落會對無線信號質(zhì)量造成很大的影響,為了克服這種影響,移動設備的接收機要進行再衰落環(huán)境下的性能測試。安捷倫公司設計的基帶衰落仿真器與儀相結(jié)合的測試方案配置簡單,價格便宜,使用方便,比較適合各種規(guī)模的研發(fā)機構或質(zhì)量認證部門應用。



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