Renesas利用新的低成本45納米及以上工藝改進(jìn)晶體管性能
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像以前的技術(shù)一樣,新的半導(dǎo)體制造技術(shù)有一個(gè)采用氮化鈦(TiN)金屬柵極的P型晶體管,以及一個(gè)采用傳統(tǒng)多晶硅柵極的N型晶體管。不過(guò),新的P型晶體管采用兩層?xùn)艠O結(jié)構(gòu),而不是單層?xùn)艠O,以更有效地控制門(mén)限電壓*2。而且,新型混合結(jié)構(gòu)利用應(yīng)變硅制造技術(shù)來(lái)提升驅(qū)動(dòng)電流能力。與以前的瑞薩混合結(jié)構(gòu)相比,這些創(chuàng)新產(chǎn)品的性能大約提高了20%。重要的是,新型結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)低成本制造,因?yàn)樗恍枰獙?duì)目前的制造工藝進(jìn)行重大改變。
一個(gè)包含40 nm柵極長(zhǎng)度晶體管的實(shí)驗(yàn)芯片已經(jīng)制造完成。對(duì)這個(gè)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)證實(shí)了其全球頂級(jí)水平的驅(qū)動(dòng)性能:在1.2 V電源電壓
條件下,N型晶體管為1,068μA/μm,P型晶體管為555μA/μm。
降低門(mén)限電壓同時(shí)增加驅(qū)動(dòng)電流能力
新開(kāi)發(fā)的芯片制造技術(shù)的第一個(gè)元件是新型P型晶體管柵極結(jié)構(gòu),它包括兩層氮化鈦層。高介電系數(shù)層分別是CVD-TiN層和PVD-TiN層,多晶硅根據(jù)這個(gè)順序堆積在一個(gè)硅襯底上。PVD-TiN層要比CVD-TiN層致密,因此可以抑制硅從多晶硅電極擴(kuò)散進(jìn)入CVD-TiN層,從而防止增加門(mén)限電壓的特性變化。更重要的是,實(shí)際上兩個(gè)TiN層可降低晶體管的門(mén)限電壓大約100 mV,達(dá)到滿足低漏電器件的水平。
新開(kāi)發(fā)技術(shù)的其他應(yīng)用是已經(jīng)在先進(jìn)半導(dǎo)體器件中廣泛采用的應(yīng)變硅技術(shù)。該技術(shù)可以用于瑞薩混合結(jié)構(gòu),因?yàn)檎嬲Y(jié)構(gòu)的CMIS晶體管制造工藝非常類似于傳統(tǒng)的CMOS工藝晶體管。這種應(yīng)變硅技術(shù)可改善雙向驅(qū)動(dòng)性能。它可以使通道部分變形,通過(guò)電流形成一條路徑。它還可以擴(kuò)展或縮小硅晶格間距,使電子和空穴更容易移動(dòng)。
評(píng)論