沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)
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在電平-1~3V和頻率范圍DC~100MHz檢測共模信號(hào)。進(jìn)入1個(gè)開路的共模信號(hào)抑制電平是400mVPK-PK。DC接入措施允許1個(gè)DC信號(hào)(一般從測試頭得到)加到DUT上。
實(shí)現(xiàn)硬件特性是BIST Assist 工作中心軟件,此軟件為環(huán)路量差的設(shè)置和調(diào)試提供GUI設(shè)計(jì)。另附加的圖像設(shè)備支持圖像生成,抖動(dòng)容差性能圖動(dòng)態(tài)的跟蹤編程環(huán)路參量變化。
BIST和串行鏈路改變著測試前景,使測試成本大大降低。
BIST Assist用Rel4.3HP-UX11或Linux操作系統(tǒng)在93000 SoC Tester上運(yùn)行。目標(biāo)DUT必須支持環(huán)回/BIST測試模式。■(冰)
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