微處理器和JTAG總線橋接接口(06-100)

　　數字邏輯設計人員在實現設計目標時有不少工具可用。為適應所需的大量邏輯數和數據率，設計人員可選用FPGA。FPGA在相對小的空間內，以多引腳數封裝提供巨大數量的數字邏輯門。

　　在印刷電路板(PCB)放置多個多引腳FPGA和其他器件，確保所有互連的完整無損是比較困難的。在制造中用X射線技術可以檢驗大概的互連問題， 而需要更精確的方法來檢測制造、調試和復雜PCB更換的互連問題。

　　一種方法是JTAG(IEEE1149.1)技術。JTAG(聯合測試行動組)功能包括基本的輸入/輸出邊界掃描控制(由1149.1規范確定)以及內部資源的重新編程性和控制。數字設計中所用的很多元件都具有JTAG性能。微處理器可用JTAG提供調試接入。FPGA和CPLD可用JTAG編程。這些JTAG性能為制造、設計和服務人員提供一個強有力的生產高質量板的工具。

　　在系統中實現JTAG控制邏輯時，考慮DFT(design-for-test)，而這與一般的FPGA設計技術是矛盾的。

　　DFT設計考慮包括：

　　·主要的測試/調試能力必須與系統開發每個階段的FPGA功能無關。

　　·FPGA需要在現場更新測試控制邏輯，并且在重新編程期間應變得不起作用。假若希望系統是“5個9”(99.999%)可用的，則需要另一種FPGA結構。

　　·FPGA通常是JTAG掃描鏈的部分，而且感興趣的是FPGA互連的檢驗。FTAG控制邏輯不能置FPGA進入測試模式，并同時工作在非測試模式。

　　一個小的定制非易失性的即時接通可編程邏輯(PLD)能很好的適合系統DFT考慮。這樣的一種器件可提供足夠的邏輯和足夠的I/O組，使其容易調試和接口到JTAG，以便提供測試性、重新可編程性的控制功能性。這使得小的PLD成為板測試無故障的理想元件。

　　典型的PCB測試結構

　　JTAG的主要用途集成在制造測試。它對開發環境有損害，它主要是處理任務而不是制造級連接性測試。圖1示出典型的PCB測試結構。