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          EEPW首頁(yè) > 工控自動(dòng)化 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于多特征SVMs分類器的手語識(shí)別*

          基于多特征SVMs分類器的手語識(shí)別*

          作者:楊全 西安文理學(xué)院 計(jì)算機(jī)科學(xué)系 彭進(jìn)業(yè) 西北大學(xué) 信息科學(xué)與技術(shù)學(xué)院 時(shí)間:2009-04-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/93422.htm

            的主要思想是建立一個(gè)超平面作為決策曲面,使得正例和反例之間的隔離邊緣被最大化。對(duì)于二維線性可分情況,令 H為把兩類訓(xùn)練樣本沒有錯(cuò)誤地分開的分類線,H1,H2分別為過各類中離分類線最近的樣本且平行于分類線的直線,它們之間的距離叫做分類間隔。所謂最優(yōu)分類線就是要求分類線不但能將兩類正確分開,而且使分類間隔最大。在高維空間,最優(yōu)分類線就成為最優(yōu)分類面[8,9]。

            設(shè)線性可分樣本集為(xi,yi)),i=1,2,…,n,x∈Rd,即x是d維特征向量,y∈{+1,-1}是類別標(biāo)號(hào),d維空間線性判斷函數(shù)的一般形式為g(x)=w×x+b,分類面方程為:w×x+b=0 (1)

            式中w為權(quán)向量,b為分類閾值。要求分類面對(duì)所有樣本正確分類,就是要求它滿足:

            Yi[w×xi+b]-1≥0,i=1,2,…,n (2)

            滿足上述條件且使||w||2最小的分類面就叫做最優(yōu)分類面, H1,H2上的訓(xùn)練樣本點(diǎn),也就是使式(2)中等號(hào)成立的樣本點(diǎn),稱作支持向量。解這個(gè)最優(yōu)化問題后得到的最優(yōu)分類函數(shù)是:

            在學(xué)習(xí)樣本是線性不可分,但卻是非線性可分的情況下,可以通過非線性變換把學(xué)習(xí)樣本變換到高維空間,使其在高維空間里是線性可分的。用 K(x,y)代替原來的點(diǎn)積(x·y),Mercer定理指出, K(x,y)通過與其相聯(lián)系的非線性變換Φ隱含地把特征向量映射到高維特征空間,使得學(xué)習(xí)樣本成為線性可分的。常用的有:



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