電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(shù)
—— Eliminating Interference in EMC Measurement
作者：葛壽兵 中國電子科技集團公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團公司第50研究所
時間：2009-04-14
來源：電子產(chǎn)品世界
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引言
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/93435.htm由于大型電子設(shè)備在進行電磁兼容(EMC)性考核時，很難進入屏蔽室進行而只能在室外開闊場地進行，從而難以控制測試時的環(huán)境背景噪聲電平，使測試結(jié)果出現(xiàn)很大誤差。如何區(qū)分背景噪聲信號，鑒別出受試設(shè)備發(fā)出的被測信號一直是EMC測試中的一個難題。在各種不同的背景信號中，同頻干擾與被測信號無法通過頻譜進行分離，本文的目的就是想用空間分離技術(shù)，通過適當(dāng)?shù)臏y試方法，對于任意方向的同頻干擾信號進行有效的擬制，從而得到有效的測試結(jié)果。
消除同頻干擾的基本方法
合成場分析
在圖1所示的測試環(huán)境中，設(shè)待測信號與干擾信號均為線極化(在工程實際中，這樣的假設(shè)是合理的)，待測信號電場強度為：
干擾信號電場強度
待測電場為向線極化，沿向傳播，式(1)中Epm是被測信號源處的電場強度值;rp是被測信號到測試點的距離;wp是被測信號的初始相位;wp是被測信號角頻率。
圖1 電磁兼容性測試環(huán)境示意圖
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