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          電磁兼容外場(chǎng)測(cè)試中的干擾抵消技術(shù)

          作者:葛壽兵 中國電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團(tuán)公司第50研究所 時(shí)間:2009-04-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            圖3為一個(gè)由七個(gè)單元組成的“線陣”。在這個(gè)線陣中,七個(gè)單元(均為無方向的全向單元)被排列成一條直線(也可以組成“面陣”,此時(shí)所有天線單元將布置在一個(gè)平面內(nèi))。圖中各相鄰天線單元之間的間隔均相同,且相距為,這里即為陣列工作的中心頻率對(duì)應(yīng)的波長。在陣列接收入射平面電磁波時(shí),接收信號(hào)經(jīng)各個(gè)天線單元的延遲補(bǔ)償后相加輸出。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/93435.htm

            在圖3中,假定所采用的測(cè)試信號(hào)為,該測(cè)試信號(hào)的平面電磁波入射方向?yàn)?,且各個(gè)全向陣元均具有單位增益,則在相鄰天線單元間的波程差相位滯后(或超前)為:


                   (a)陣列結(jié)構(gòu)            (b)天線陣E面方向圖

            圖3 線形陣列的波束形成

           

            而用于各個(gè)天線單元的補(bǔ)償時(shí)間延遲(單位為秒)所引起相位滯后為,于是可得陣列輸出信號(hào)為

           

            式中,L為天線單元數(shù)。



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