HAC技術(shù)在GSM手機(jī)中的應(yīng)用
作者：安榮邦 諾基亞中國(guó)投資有限公司
時(shí)間：2009-07-08
來源：電子產(chǎn)品世界
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圖5和圖6 中的圖是測(cè)試區(qū)域的電磁場(chǎng)的強(qiáng)度。比較圖5和圖6，可以明顯地看出圖6中的電磁場(chǎng)的值比較低。(請(qǐng)參照表1)
為了進(jìn)一步驗(yàn)證這種技術(shù)的有效性，我們制作了驗(yàn)證用的實(shí)際模型來驗(yàn)證我們的設(shè)計(jì)思想。圖7是增加了新技術(shù)的驗(yàn)證用模型圖片。表2是電磁場(chǎng)測(cè)試結(jié)果。圖8 是天線諧振點(diǎn)和發(fā)射效率的比較圖。上面是諧振點(diǎn)的比較，下面部分是發(fā)射效率的比較。從測(cè)試結(jié)果中可以看出，這種技術(shù)和我們想像的一樣。比較計(jì)算機(jī)仿真和測(cè)試后發(fā)現(xiàn)，不同點(diǎn)是：1)計(jì)算機(jī)仿真使用了一個(gè)頻率，而測(cè)試中用了兩個(gè)頻率;2)測(cè)試頻率和仿真頻率不完全一致。但是，從測(cè)試結(jié)果可以看出，這種方案是工作的，而且能同時(shí)降低不同頻段在測(cè)試區(qū)域的電磁場(chǎng)的值，也不影響天線的諧振點(diǎn)和發(fā)射效率，和我們?cè)O(shè)想的完全一致。
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