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          中國32nm技術(shù)腳步漸近

          作者: 時間:2009-11-02 來源:SEMI 收藏

            離我們還有多遠(yuǎn)?技術(shù)難點(diǎn)該如何突破?材料與設(shè)備要扮演何種角色?10月28日于北京舉辦的先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)研討會即圍繞“技術(shù)發(fā)展與挑戰(zhàn)”這一主題進(jìn)行了探討。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/99450.htm

            節(jié)點(diǎn)挑戰(zhàn)無限

            “45nm已進(jìn)入量產(chǎn),32nm甚至更小的22nm所面臨的挑戰(zhàn)已擺在我們面前。”中芯國際資深研發(fā)副總裁季明華博士在主題演講時說,“總體來說,有四個方面值得我們注意。首先是CMOS邏輯器件如何與存儲器件更還的集成在一起;其次是SOC技術(shù)的巨大挑戰(zhàn),如低功耗問題等;第三是現(xiàn)在比較熱門的3D IC和SIP集成;最后一個是如何建立更廣泛的研發(fā)平臺和聯(lián)合機(jī)制,創(chuàng)造所謂的super foundry。”32nm技術(shù)面臨巨大的研發(fā)成本和制造挑戰(zhàn),需要結(jié)合各方資源通力合作。創(chuàng)造全兼容的CMOS技術(shù)平臺、全兼容IP以及全球性全兼容芯片代工服務(wù)將是未來的發(fā)展趨勢。

            KLA-Tencor中國區(qū)技術(shù)總監(jiān)任建宇博士認(rèn)為,對于芯片制造來說,工藝控制至關(guān)重要。45nm節(jié)點(diǎn)的測量步驟已超過200步,到了32nm或更小節(jié)點(diǎn),工藝精度要求將會更為苛刻,測量步驟會更加繁瑣?,F(xiàn)在能夠預(yù)知的困難集中在高k金屬柵部分的channel工藝控制、掩膜版缺陷的檢測、硅片其它缺陷的及時識別判斷等。“小節(jié)點(diǎn)意味著圖形更加細(xì)微,新的缺陷也會層出不窮,提高檢測的靈敏度和分別率必不可少。”任建宇博士坦言,“同時,制造業(yè)不同于單純研發(fā),對于生產(chǎn)效率有更高的要求,因此提高檢測速度也是我們不可回避的問題。”

            工藝如何齊頭并進(jìn)?

            技術(shù)歷來是半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線圖中的重頭戲,對于它的討論和研究不絕于耳。ASML的中國區(qū)資深戰(zhàn)略市場經(jīng)理Curtis Liang博士就32nm節(jié)點(diǎn)技術(shù)的進(jìn)展進(jìn)行了闡述。“32nm對于存儲器件的制造來說是一個新的轉(zhuǎn)折點(diǎn),因?yàn)楹芏嘈碌募夹g(shù)將在這里被采用。”Curtis Liang說,“在小節(jié)點(diǎn)引入浸入式光刻已毫無懸念,但是諸如光刻膠、浸入液等配套技術(shù)還有不小的進(jìn)步空間。現(xiàn)在大家也都在談?wù)撾p重圖形,但是從長遠(yuǎn)角度來看,它應(yīng)該是浸入式光刻與EUV光刻之間的一個過渡。”

            東南亞區(qū)光刻應(yīng)用總監(jiān)林思閩博士認(rèn)為,32nm節(jié)點(diǎn)對于光刻工藝來說,意味著如何實(shí)現(xiàn)精確的柵極CD控制,線條邊緣粗糙度以及OPC等也將困難重重。光源是光刻機(jī)上最重要的組成部分之一,光源的能量、穩(wěn)定性、壽命等在某種程度上影響著光刻技術(shù)的發(fā)展。特別是未來有可能會采用的EUV光刻,光源的質(zhì)量更是舉足輕重的。32nm節(jié)點(diǎn)目前來看還是以浸入式光刻配合雙重圖形技術(shù)為主,再往下發(fā)展,EUV的機(jī)會將會很大。

            半導(dǎo)體材料不容忽視

            當(dāng)越來越多的新材料被引入半導(dǎo)體制造時,對于它的作用愈發(fā)引起人們的興趣。Cabot的亞洲研發(fā)總監(jiān)吳國俊博士對32nm節(jié)點(diǎn)的CMP材料提出了自己的看法。“CMP工藝與其它工藝有很大的不同,那就是它會更多的依賴于材料,如研磨料和研磨墊,。換句話說,材料的發(fā)展引領(lǐng)者CMP技術(shù)的進(jìn)步。”吳國俊博士說,“我們現(xiàn)在常常提到的很多新結(jié)構(gòu),如高k金屬柵和低k互連等都引入了很多新興材料,CMP不僅要求迅速的實(shí)現(xiàn)拋光的目的,還要保證盡可能少的殘留和缺陷。目前的研發(fā)重點(diǎn)是對于不同材料實(shí)現(xiàn)良好的選擇比,減少劃傷等缺陷問題。

            安集微電子的王淑敏博士則強(qiáng)調(diào)了環(huán)保的重要性。CMP材料的發(fā)展過程中不僅要考慮技術(shù)和經(jīng)濟(jì)因素,對于材料所帶來的環(huán)境問題也同樣值得業(yè)界深思。



          關(guān)鍵詞: Cymer 32nm 光刻

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