失效文章進(jìn)入失效技術(shù)社區(qū)

IC智能卡失效的機(jī)理研究

IC智能卡作為信息時(shí)代的新型高技術(shù)存儲(chǔ)產(chǎn)品，具有容量大、保密性強(qiáng)以及攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于社會(huì)生活的各個(gè)領(lǐng)域。通常所說(shuō)的IC卡，是把含有非揮發(fā)存儲(chǔ)單元NVM或集成有微控制器MCU等的IC芯片嵌裝于塑料基片而
關(guān)鍵字：研究機(jī)理失效智能卡 IC

在3G三大標(biāo)準(zhǔn)中均是基站同步系統(tǒng)，TD-SCDMA系統(tǒng)是全網(wǎng)同步系統(tǒng)，要求所有基站之間嚴(yán)格保持時(shí)間同步對(duì)于TD-SCDMA通信系統(tǒng)的重要性不言而喻。由于缺乏先進(jìn)的網(wǎng)絡(luò)同步技術(shù)，TD-SCDMA基站普遍采用全球定位系統(tǒng)(GPS)同步[
關(guān)鍵字：失效影響同步 GPS 網(wǎng)絡(luò) TD-SCDMA

1 引言長(zhǎng)期以來(lái)，人們對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境模擬試臉時(shí)，大多采用單項(xiàng)環(huán)境的試驗(yàn)方法，即在某一時(shí)間內(nèi)只對(duì)一種產(chǎn)品施加一項(xiàng)環(huán)境條件，如單項(xiàng)濕度試驗(yàn)、單項(xiàng)沖擊試驗(yàn)等，很少在某一時(shí)間內(nèi)同時(shí)對(duì)一種產(chǎn)品施加兩項(xiàng)以上
關(guān)鍵字：失效機(jī)理分析環(huán)境綜合溫度濕度振動(dòng) 加速度計(jì)

　　1 問(wèn)題的提出　　我公司生產(chǎn)的USBkey產(chǎn)品所使用的MCU電路，自2007年9月初USBkey產(chǎn)品開(kāi)始量產(chǎn)化后，我們對(duì)其部分產(chǎn)品做了電老化試驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)該款電路早期失效問(wèn)題達(dá)不到我們要求，上電以后一段時(shí)間內(nèi)失效率為千分之一點(diǎn)五左右。為此，我們從去年10月到今年2月對(duì)所生產(chǎn)的產(chǎn)品(已發(fā)出的除外)全部進(jìn)行了電老化篩選，通過(guò)這項(xiàng)工作發(fā)現(xiàn)了一些規(guī)律性的東西，對(duì)提高電子產(chǎn)品的安全可靠性有一定指導(dǎo)意義。　　2 試驗(yàn)條件的設(shè)定　　造成電路早期失效的原因很多，從IC設(shè)計(jì)到半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝、電路封裝、焊接裝配等
關(guān)鍵字： MCU IC設(shè)計(jì) 失效集成電路