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安全散列算法(sha-1)器件
安全散列算法(sha-1)器件 文章 進(jìn)入安全散列算法(sha-1)器件技術(shù)社區(qū)
防偽3D打印技術(shù)
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- 摘要:本文簡(jiǎn)要分析了3D打印技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì),并針對(duì)3D打印機(jī)嵌入安全識(shí)別技術(shù)進(jìn)行剖析。 3D打印技術(shù)正在掀起制造格局的革命浪潮。您能想象通過(guò)發(fā)送雙腳的3D打印模型來(lái)定制一雙合腳的鞋嗎?這并非遙不可及。 現(xiàn)代化的3D打印技術(shù)也稱為增材制造,是利用3D模型或其它電子數(shù)據(jù)源制作幾乎任何形狀的三維固態(tài)物體的過(guò)程。作為一種增材制造方法,制造商通過(guò)向制作對(duì)象上逐層“增加”材料,形成最終產(chǎn)品(圖1)。隨著3D打印技術(shù)以及多種不同3D打印方法的快速發(fā)展,種種跡象表明3D打印是或應(yīng)該
- 關(guān)鍵字: 3D打印 EPROM 剃須刀 SHA-256 MAC 201410
淺談電子可靠性工作誤區(qū)
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- 司空見(jiàn)慣的經(jīng)驗(yàn)性的東西,其實(shí)我們都很多都是錯(cuò)的,而這一旦用于設(shè)計(jì),產(chǎn)品可靠性可想而知。所以說(shuō)“電路設(shè)計(jì)器件選型,先論證其不可行性,慎談可行性;電子設(shè)計(jì)比拼的不是誰(shuí)的設(shè)計(jì)更好,而是誰(shuí)的設(shè)計(jì)更少犯錯(cuò)誤”。 誤區(qū)1、產(chǎn)品故障=產(chǎn)品不可靠 產(chǎn)品出現(xiàn)問(wèn)題,有時(shí)候并不是研發(fā)的問(wèn)題,曾經(jīng)有案例,面向國(guó)內(nèi)中等以上發(fā)達(dá)地區(qū)的設(shè)備,因?yàn)樵趪?guó)內(nèi)用的不錯(cuò),所以出口到了哥倫比亞,但在那里頻頻故障,故障的原因在于中國(guó)中國(guó)大陸中等以上發(fā)達(dá)地區(qū)的海拔都比較低,所以高海拔地區(qū),設(shè)備的氣密性受到了挑戰(zhàn)
- 關(guān)鍵字: 器件 可靠性 參數(shù)
用Zynq SoC實(shí)現(xiàn)高效比特幣礦機(jī)系統(tǒng)
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- 要設(shè)計(jì)出一個(gè)由可行的比特幣節(jié)點(diǎn)和高效靈活的礦機(jī)等組成的完整挖礦系統(tǒng),我們需要某種功能強(qiáng)大的FPGA芯片,來(lái)同時(shí)滿足靈活性和性能要求。除FPGA外,我們還需要使用處理引擎來(lái)提高效率。在這個(gè)完整的片上系統(tǒng)(SoC)上,我們需要經(jīng)優(yōu)化的內(nèi)核來(lái)運(yùn)行包括網(wǎng)絡(luò)維護(hù)和交易處理在內(nèi)的所有要求的比特幣任務(wù)。能滿足所有這些條件的硬件就是位于ZedBoard開(kāi)發(fā)板上的Zynq-7020 SoC
- 關(guān)鍵字: SoC FPGA SHA-256
基于1-Wire總線的DS28E01加密芯片原理研究及其在FPGA加密系統(tǒng)中的應(yīng)用
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- ? 1-Wire總線只需要一根數(shù)據(jù)線即可完成數(shù)據(jù)傳輸,相比其它總線硬件電路更為簡(jiǎn)單可靠,這非常適合應(yīng)用在加密系統(tǒng)中。DS28E01是美國(guó)DALLAS公司生產(chǎn)的一款應(yīng)用非常廣泛的加密芯片,它采用了1-Wire總線結(jié)構(gòu)。本文介紹了DS28E01基于 1-Wire總線的加密工作原理,詳細(xì)分析說(shuō)明了加密過(guò)程中的關(guān)鍵指令并給出了相關(guān)時(shí)序說(shuō)明。給出了DS28E01在FPGA加密系統(tǒng)中的應(yīng)用方案。
- 關(guān)鍵字: FPGA DS28E01 1-Wire SHA-1 201402
利用高性能模擬器件簡(jiǎn)化便攜式醫(yī)療設(shè)備的設(shè)計(jì)
- 利用高性能模擬器件簡(jiǎn)化便攜式醫(yī)療設(shè)備的設(shè)計(jì),將高性能模擬外設(shè)嵌入超低功耗 MCU 中,不僅可以實(shí)現(xiàn)便攜式醫(yī)療電子設(shè)備的片上系統(tǒng)化,而且還可延長(zhǎng)電池使用壽命。本文將介紹簡(jiǎn)化便攜式電池供電醫(yī)療設(shè)備的模擬前端設(shè)計(jì)的多種方法,如將運(yùn)算放大器、ADC、DAC等高性能外
- 關(guān)鍵字: 高性能模擬 便攜式 器件 醫(yī)療設(shè)備
CoolRunner-II器件的輸入/輸出接口標(biāo)準(zhǔn)時(shí)序
- 不同接口標(biāo)準(zhǔn)的傳輸延遲存在一些差異,在如圖所示的示例中選擇兼容3.3V的LVCOMS標(biāo)準(zhǔn)作為輸入,1.8V的LVCOMS標(biāo)準(zhǔn)作為輸出。在該模型中,輸入增加一個(gè)3.3V的LVCOMS標(biāo)準(zhǔn)延遲參數(shù)TIN33,輸出增加一個(gè)1.8V的LVCOMS標(biāo)準(zhǔn)延遲
- 關(guān)鍵字: CoolRunner-II 器件 標(biāo)準(zhǔn) 輸入
高端電流檢測(cè),如何選擇合適的器件?
- 在電機(jī)控制、電磁閥控制以及電源管理(如直流-直流轉(zhuǎn)換器與電池監(jiān)控)等諸多應(yīng)用中,高精度的高端電流檢測(cè)都是必需的。在這種應(yīng)用中,對(duì)高端電流而非回路電流進(jìn)行監(jiān)控,可以提高診斷能力,如確定對(duì)地短路電流以及連續(xù)監(jiān)
- 關(guān)鍵字: 高端電流檢測(cè) 如何選擇 器件
嵌入式控制系統(tǒng)中I2C串行EEPROM器件應(yīng)用
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- 嵌入式控制系統(tǒng)中I2C串行EEPROM器件應(yīng)用,在大多數(shù)嵌入式控制系統(tǒng)中,為了避免系統(tǒng)的設(shè)置參數(shù)、運(yùn)行數(shù)據(jù)等在掉電時(shí)丟失,常采用I2C串行EEPROM作為存儲(chǔ)器。然而EEPROM存儲(chǔ)器使用時(shí)存在著一些條件會(huì)潛在地導(dǎo)致其產(chǎn)生某些非標(biāo)準(zhǔn)的甚至是錯(cuò)誤的操作。就如何提高I2C串行EEPROM器件應(yīng)用的可靠性和準(zhǔn)確性,提出了相關(guān)的保護(hù)和處理措施,這些措施對(duì)于EEPROM的實(shí)際應(yīng)用具有指導(dǎo)意義。
- 關(guān)鍵字: 器件 應(yīng)用 EEPROM 串行 控制系統(tǒng) I2C 嵌入式
安全散列算法(sha-1)器件介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條安全散列算法(sha-1)器件!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)安全散列算法(sha-1)器件的理解,并與今后在此搜索安全散列算法(sha-1)器件的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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