測(cè)試測(cè)量 文章 進(jìn)入測(cè)試測(cè)量技術(shù)社區(qū)
HT46R47組成的電壓頻率測(cè)量顯示電路(05-100)
- 引言 對(duì)單片機(jī)為核心構(gòu)成的智能檢測(cè)儀器,測(cè)量電壓、頻率時(shí)有多種方法。一般對(duì)電壓測(cè)量采用A/D轉(zhuǎn)換法或V/F轉(zhuǎn)換法。對(duì)頻率測(cè)量則采用測(cè)頻法或測(cè)周法。具體說： ·A/D轉(zhuǎn)換法將被測(cè)電壓信號(hào)經(jīng)過阻抗匹配,變成單片機(jī)可測(cè)量的電壓范圍,后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)得相應(yīng)的電壓值。 ·V/F轉(zhuǎn)換則將被測(cè)電壓加到V/F轉(zhuǎn)換器上,然后對(duì)輸出的頻率進(jìn)行測(cè)量,后經(jīng)單片機(jī)內(nèi)部程序的換算轉(zhuǎn)換為電壓值。 ·測(cè)頻法是利用單片機(jī)內(nèi)部計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)一定門限內(nèi)的頻率信號(hào)脈沖數(shù)。 ·測(cè)周法是計(jì)時(shí)一定數(shù)量的被測(cè)頻率信號(hào)的脈沖的時(shí)間。總的來說,每種方法
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測(cè)試系統(tǒng)開關(guān)技術(shù)(05-100)
- 設(shè)計(jì)完善的開關(guān)系統(tǒng)至少應(yīng)具備3個(gè)子系統(tǒng)：計(jì)算機(jī)控制與處理、測(cè)量?jī)x表和開關(guān)。只要再增加DUTC(被測(cè)設(shè)備)電源和DUT負(fù)載就構(gòu)成完整的功能測(cè)試設(shè)備。無可爭(zhēng)辯的是,開關(guān)子系統(tǒng)是測(cè)試系統(tǒng)的心臟,因?yàn)樗衅渌酉到y(tǒng)是測(cè)試系統(tǒng)的心臟,因?yàn)樗衅渌酉到y(tǒng)都要與它接口。因此,對(duì)它有一個(gè)全面的、正確的了解是十分必要的。
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JTAG測(cè)試(05-100)
- 現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測(cè)試中,使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)測(cè)試技術(shù)。
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試測(cè)量 JTAG 聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組 XJTAG
邊界掃描與處理器仿真測(cè)試(05-100)
- 當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測(cè)試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測(cè)試方法都有其固有的局限性。于是,測(cè)試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測(cè)試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測(cè)試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測(cè)試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測(cè)試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測(cè)試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無法比擬的。
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嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級(jí)測(cè)試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
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用LXI構(gòu)建合成儀器(05-100)
- 合成儀器(SI)由模塊化組件構(gòu)建并啟用高速處理器和近代總線技術(shù),有望給測(cè)試用戶帶來更多的功能與靈活性,較低廉的總成本、更高速操作、更小的物理占用面積以及較長(zhǎng)的使用壽命。然而,生產(chǎn)廠家和用戶共同面臨的一個(gè)問題是缺乏統(tǒng)一的,能滿足體系結(jié)構(gòu)和商品化要求的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。PXI和VXI模塊儀器是這類應(yīng)用的最佳候選,但對(duì)SI設(shè)計(jì)人員亦有諸多限制,最終形成具有專用接口與控制模塊包裝的混合系統(tǒng)。
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新一代開放式儀器接口標(biāo)準(zhǔn)LXI(05-100)
- 在推動(dòng)電子測(cè)量?jī)x器技術(shù)發(fā)展過程中,從70年代初至2000年代初的三十多年中,先后出現(xiàn)GPIB(通用儀器總線,IEEE488標(biāo)準(zhǔn))、VXI(VME總線的儀器擴(kuò)展,IEEE1515標(biāo)準(zhǔn))和PXI(PCI總線的儀器擴(kuò)展)三種開放式儀器總線,2005年9月LXI聯(lián)盟發(fā)布LXI(LAN的儀器擴(kuò)展)標(biāo)準(zhǔn)1.0版本,標(biāo)志著測(cè)量?jī)x器的新一代開放總線標(biāo)準(zhǔn)的到來。LXI標(biāo)準(zhǔn)繼承前面三種開放式總線的優(yōu)點(diǎn),在局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)(IEEE802.3)基礎(chǔ)上增加測(cè)量?jī)x器系統(tǒng)所需的功能,擴(kuò)展成為性能強(qiáng)大的結(jié)構(gòu)靈活的開放式平臺(tái),LXI聯(lián)盟發(fā)
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下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與合成儀器的發(fā)展(05-100)
- 合成儀器是有望革新測(cè)試產(chǎn)品的新型測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系,業(yè)已被業(yè)內(nèi)人士逐漸認(rèn)同。 合成儀器這個(gè)術(shù)語首先是美國(guó)國(guó)防部(DoD)下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(NxTest)集成產(chǎn)品組使用的,用來描述該研制組竭力主張的新型測(cè)試結(jié)構(gòu)體系。2002年4月,DoC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)執(zhí)行代理辦公室(EAO)正式成立NxTest IPT,由海、陸、空三軍代表組成。主要目標(biāo)有兩個(gè)：降低DoD ATS的采購和支撐成本;改進(jìn)軍事服務(wù)“ATS功能”的內(nèi)、外合作。
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WLAN 信號(hào)發(fā)生和分析測(cè)試測(cè)量解決方案
- 2820 型矢量信號(hào)分析儀和 2920 型矢量信號(hào)發(fā)生器具有最高 6GHz 的連續(xù)頻率覆蓋范圍和 40MHz 標(biāo)準(zhǔn)帶寬，支持 SISO (單入單出)和 MIMO(多入多出)結(jié)構(gòu)，是 WLAN 研發(fā)測(cè)試的理想選擇。吉時(shí)利的 WLAN 測(cè)量方案具有十分全面
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NI發(fā)布2009年測(cè)試與測(cè)量發(fā)展趨勢(shì)
- 軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢(shì)，用以提升性能和降低成本 2009年1月，如今全球經(jīng)濟(jì)現(xiàn)狀對(duì)于預(yù)算成本有著嚴(yán)格的限制，測(cè)試工程師現(xiàn)今面臨的挑戰(zhàn)將是如何尋找更高效的測(cè)試方法。美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI），作為全球測(cè)試測(cè)量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，指出2009年將極大改進(jìn)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)效率的三大趨勢(shì)——軟件定義的儀器系統(tǒng)，并行處理技術(shù)以及無線和半導(dǎo)體測(cè)試新方法。它們將幫助工程師在減少測(cè)試總成本的條件下，開發(fā)更快、更靈活的自動(dòng)化測(cè)
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2009年1月13日，泰克在上海成立的測(cè)試測(cè)量方案中心正式開幕
- 2009年1月13日，泰克在上海最新成立的測(cè)試測(cè)量方案中心正式開幕。
- 關(guān)鍵字： 泰克 測(cè)試測(cè)量
測(cè)試測(cè)量介紹
電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀……
通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試
儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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