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Aeroflex推出新型全面3920數(shù)字射頻綜合測試儀
- 用于模擬系統(tǒng)、TETRA 及P25 技術的新型 3920 數(shù)字射頻綜合測試儀具有全新的增強特性，可為專業(yè)測試人員提供集成化的更多測試功能，便捷的遠程遙控操作以及功能強大的文件管理功能。 Aeroflex 3900 系列的新一代產品3920 將取代原有的 3901 及 3902 射頻測試儀。在具備更多新特性與新功能的同時，3920 仍可支持先前3901 及 3902 所能夠執(zhí)行的全部測試功能，其中包括 TETRA 移動臺、基站及直通模式測試。 3920可選裝的三位半數(shù)字萬用表能夠測量交流與
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吉時利發(fā)布基于LINUX的參數(shù)測試系統(tǒng)
- 美國吉時利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布關于其S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)的一組升級功能。其最主要升級是在每套測試系統(tǒng)中的嵌入式控制電腦上移植Linux操作系統(tǒng)（OS）。本項升級為其控制電腦提供更穩(wěn)定的OS和更長的服務壽命，減少了用戶升級新工作站和軟硬件資源的開銷。此外，此次固件升級相比原來基于UNIX的系統(tǒng)具有更高的測試產能。新軟件授權（license）方法采用USB棒作為每套測試器的硬件鑰匙，通過在不同工作站間的遷移縮短維護時間。 吉時利推出的該款采用Linux控制器的參數(shù)測試系統(tǒng)迎合了當
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科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場領先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯
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基于計算機的機床測試系統(tǒng)
- 在工業(yè)生產測試過程中，經常要對溫度、流量、壓力等模擬量進行采集，對繼電器、接觸器等開關量進行控制，此外還有步進電機和伺服電機進行精確的位移控制。開發(fā)一種基于計算機的機床測試系統(tǒng)，把各種控制量集成在一起構成閉環(huán)控制系統(tǒng)很有必要。本文以一臺計算機為主控制器，采用Windows風格接口軟件，計算和測試速度快，信息處理能力強，系統(tǒng)集成度高，工作界面友好，操作方便，實現(xiàn)了多參數(shù)測試過程自動化，提高了測試效率和準確性。 系統(tǒng)主要功能及特點 系統(tǒng)以對機床性能影響大的參數(shù)集成測試為主要目的，具有以下功能
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基于AD8302芯片的新的幅相測量系統(tǒng)
- 引 言 傳統(tǒng)的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個中小規(guī)模集成電路，不僅電路復雜，測量精度低，而且適用的頻率范圍窄，只能測量低頻或中頻信號。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF／IF幅度和相位差并計算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路，可廣泛用于GSM(全球移動通信系統(tǒng))，電力系統(tǒng)的阻波器、結合濾波器等領域。 1 AD8302性能特點 AD8302內含兩個精密匹配寬帶對數(shù)檢波器、一個相位檢波器、輸出放大器組、一個偏置單元和一個輸出參考電壓緩沖器等，能同時
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基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究
- 引 言 現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術在電子系統(tǒng)中應用已經非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設計調試和檢驗變成設計中最困難的一個流程。另一方面，當前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線，除了提供高速并行總線接口外，正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展，F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的測試和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPG
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KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進的高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產商能夠監(jiān)控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關鍵性晶體管和互連應用中提升系統(tǒng)生產能力。 “隨著半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶需要一種單一系統(tǒng)解決方案，既可支持影響良率的納米級應
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測試測量介紹
電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
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