測(cè)試測(cè)量 文章 進(jìn)入測(cè)試測(cè)量技術(shù)社區(qū)
科利登在IC China 2005展出高量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)
- 2005年8月22日，來自中國北京的消息：科利登系統(tǒng)公司 (納斯達(dá)克代碼：CMOS) 日前宣布將參展2005年 8月24號(hào)至26號(hào)在北京舉行的IC China 2005。該展會(huì)是半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商及電子行業(yè)的一個(gè)首要集會(huì)，它由中國半導(dǎo)體工業(yè)協(xié)會(huì)和中國貿(mào)促會(huì)電子信息行業(yè)分會(huì)(CCPIT-ECC)共同舉辦。 為了滿足中國區(qū)域快速增長的低成本市場(chǎng)需求，科利登將展出Sapphire家族的最新成員Sapphire D-10系統(tǒng)。Sapphire
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安捷倫剝離半導(dǎo)體提高股東收益專注測(cè)量領(lǐng)域
- 安捷倫科技今天宣布了一系列的決定，以使公司更加專注于其全球領(lǐng)先的測(cè)量業(yè)務(wù)，并為股東創(chuàng)造更多切實(shí)的價(jià)值。今天宣布的內(nèi)容包括： 以26.6億美元?jiǎng)冸x半導(dǎo)體產(chǎn)品事業(yè)部，出售給Kohlberg Kravis Roberts和Silver Lake Partners公司。 向皇家飛利浦電子公司(Royal Philips Electronics)出售其在Lumileds公司的股份，售價(jià)為9.5億美元，再加上5,000萬美元的債務(wù)。 計(jì)劃在2006年
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滿足無線移動(dòng)測(cè)試需求的頻譜分析儀
- 滿足無線移動(dòng)測(cè)試需求的頻譜分析儀 隨著各種數(shù)字電子設(shè)備投放市場(chǎng),移動(dòng)通信和無線局域網(wǎng)的應(yīng)用日益廣泛。在日常生活中，人們可能擁有其它類似的設(shè)備與應(yīng)用。這些設(shè)備與應(yīng)用包括基于無線傳輸?shù)淖詣?dòng)售票系統(tǒng)、無線標(biāo)簽、車載電子交通系統(tǒng)與防撞雷達(dá)。在半導(dǎo)體市場(chǎng)上，對(duì)含射頻電路的系統(tǒng)芯片的需求不斷增加，而頻譜分析儀則是測(cè)量這些無線通信設(shè)備和高頻信號(hào)處理器件的最基本儀器。 頻譜分析儀技術(shù)發(fā)展 為支持上述應(yīng)用，電子測(cè)量?jī)x器制造廠商正在增強(qiáng)頻譜分析儀的測(cè)試能力，并努力提高它的可操作性和數(shù)據(jù)處理能力。最近，儀器制造廠
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一種新型微弱激光檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種新型微弱激光檢測(cè)系統(tǒng) A Novel Detecting System for Low Laser 中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 翁?hào)|山 危峻 摘 要：本文介紹了一種使用以光電探測(cè)器為光敏元的、高精度的微弱激光檢測(cè)系統(tǒng)，利用音叉斬波技術(shù)和單片機(jī)對(duì)系統(tǒng)的模擬信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、校正，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱激光探測(cè)系統(tǒng)的溫度漂移特性和非線性有了較大的改善。 關(guān)鍵詞：斬波調(diào)制；檢測(cè)系統(tǒng)；單片機(jī)；非線性補(bǔ)償 本文2005年2月28日收到。翁?hào)|山，博士生，從事空間遙感及其模擬技術(shù)研究。
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全國電磁兼容設(shè)計(jì)及測(cè)試技術(shù)高級(jí)管理人員研修班
- 隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，大量技術(shù)含量高，內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜的電子產(chǎn)品正向“輕薄短小”和高功能化發(fā)展。由此而產(chǎn)生的電磁干擾所造成的危害也日益嚴(yán)重，引起了我國政府和世界各國的普遍關(guān)注。電磁兼容是電子產(chǎn)品的一項(xiàng)非常重要的質(zhì)量指標(biāo)，它不僅關(guān)系到電子產(chǎn)品本身的工作可靠性和使用安全性，而且還可能影響到其他電子設(shè)備和系統(tǒng)的正常工作，關(guān)系到電磁環(huán)境的保護(hù)問題。國際上如歐盟89/336/EEC指令（即EMC指令）、美國聯(lián)邦法典CFR 47/FCC Rules等都對(duì)電磁兼容認(rèn)證提出了明確的要求。解決產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的電磁兼容性問題，對(duì)于
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2005年8月，泛華測(cè)控公司DAQ產(chǎn)品事業(yè)部成立
- 2005年8月，泛華測(cè)控公司DAQ產(chǎn)品事業(yè)部成立
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工程師和學(xué)生現(xiàn)可使用NI LabVIEW對(duì)DSP編程
- NI LabVIEW DSP模塊為德州儀器DSP提供了圖形化編程環(huán)境 美國國家儀器有限公司發(fā)布了最新的NI LabVIEW DSP模塊，它包含了用于設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)和分析基于DSP算法和系統(tǒng)工具。最新的LabVIEW DSP模塊將LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境擴(kuò)展至嵌入式信號(hào)處理應(yīng)用程序，并且向工程師和學(xué)生提供了一個(gè)易于使用的、現(xiàn)成的方法來學(xué)習(xí)主要的信號(hào)處理技術(shù)。 “隨著最新的LabVIEW DSP模塊的發(fā)布，DSP開發(fā)者和學(xué)生擁有一個(gè)圖形化和系統(tǒng)級(jí)的選
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凌華攜重量級(jí)產(chǎn)品參展第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”
- 凌華科技于2005年7月7日在深圳香格里拉大酒店舉行的第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” 上展出其完整的 PXI 量測(cè)自動(dòng)化解決方案，以及最新推出的高效能GPIB 接口控制卡PCI-3488，以饗廣大會(huì)者。同時(shí)參會(huì)的廠商還包括Chroma、Aeroflex等國內(nèi)外業(yè)界知名企業(yè)。 在2004年舉辦的第一屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”上，凌華PXI/PCI模塊與平臺(tái)就受到與會(huì)者的熱切關(guān)注，此次活動(dòng)凌華更帶來了Pentium® M等級(jí)3U PXI系統(tǒng)控制器PXI-3800、14位130 MS/
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泰克收購測(cè)試軟件公司TDA Systems
- 世界領(lǐng)先的測(cè)試，測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商泰克公司（NYSE：TEK）今天宣布將收購TDS Systems公司。位于俄勒岡州奧斯威格湖地區(qū)的TDA Systems公司是一家提供互聯(lián)系統(tǒng)分析軟件工具的供應(yīng)商，該公司為電子測(cè)試行業(yè)的各廠商提供各種測(cè)試軟件，其中就包括泰克公司。該公司提供的用于高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試的軟件將完全地融合到泰克的采樣示波器產(chǎn)品線當(dāng)中。. “TDA Systems同泰克多年來的合作非常成功，”泰克光電產(chǎn)品線總經(jīng)理John Taggart說，“兩家公司的合作為客戶帶來了完整的
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美光和英飛凌公司首度對(duì)臺(tái)灣釋出測(cè)試訂單
- 由于蘋果計(jì)算機(jī)iPod等可攜式多媒體影音播放器（PMP）大量采用NAND 閃存作為儲(chǔ)存媒體，全球各家DRAM大廠均看好NAND市場(chǎng)未來成長潛力，目前三星與東芝合計(jì)的全球市占率接近80％，過去以動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存（DRAM）為主力的內(nèi)存廠，則積極搶入生產(chǎn)，包括Hynix、美光、英飛凌皆已開始擴(kuò)量NAND閃存。據(jù)了解，三星的2座12吋廠、Hynix的3座8吋廠、美光的1座12吋廠等，都開始以90奈米先進(jìn)制程量產(chǎn)閃存，東芝與SanDisk合資的12吋廠也在6月開始大量投片。在市場(chǎng)供給量快速揚(yáng)升之下，
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SGS 擴(kuò)展手機(jī)一致性測(cè)試，Aeroflex 贏得數(shù)百萬美元訂單
- 此次訂購使SGS 在上海及臺(tái)灣的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室得以擴(kuò)展，且使Aeroflex 能夠在中國創(chuàng)建及開拓增值的無線設(shè)計(jì)服務(wù)英國Burnham — 2005 年6 月23 日— Aeroflex 已贏得了領(lǐng)先的檢測(cè)、驗(yàn)證、測(cè)試及認(rèn)證公司SGS 數(shù)百萬美元的訂單。此次訂購有望在兩個(gè)月的時(shí)間內(nèi)執(zhí)行，其主要涉及了全套的手機(jī)和系統(tǒng)間切換測(cè)試儀器以及測(cè)試箱，它標(biāo)志著SGS 已決心擴(kuò)展其現(xiàn)有手機(jī)一致性測(cè)試業(yè)務(wù)的運(yùn)營。Aeroflex 的儀器與測(cè)試箱旨在進(jìn)一步促進(jìn)其位于上海和臺(tái)灣的兩個(gè)SGS手機(jī)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供這些服務(wù)。此次訂購也使
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NI將于7月在深圳主辦第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇
- 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）即將于7月7日在深圳主辦第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC 2005），本屆活動(dòng)的主旨是：PXI——引領(lǐng)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)的潮流，在線報(bào)名鏈接為：www.ednchina.com/pxitac。 2004年第一屆PXI TAC在北京和臺(tái)北兩地成功舉辦，共有近千名來賓到場(chǎng)參加，延承去年的成功之勢(shì)，本屆論壇將于2005年7月
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談PS-based架構(gòu)的線掃描(Line-scan)影像檢測(cè)系統(tǒng)
- 前言 機(jī)械視覺應(yīng)用在各種產(chǎn)業(yè)的生產(chǎn)制造及品質(zhì)檢測(cè)已是行之有年, 利用機(jī)械視覺可以提升檢測(cè)精度或加速生產(chǎn)速度，因此逐漸變成許多生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備必備的一環(huán)。 目前市面上的影像檢測(cè)系統(tǒng)大多采用面掃描(Area-scan)的攝影機(jī)進(jìn)行影像的采集及分析, 但是隨著產(chǎn)品尺寸的加大(例如:PCB, LCD面板, 晶圓), 在提高產(chǎn)能及精度的要求下, 面掃描攝影機(jī)的分辨率及取像速度無法滿足這些要求的事實(shí)開始浮上枱面, 而系統(tǒng)業(yè)者也開始意識(shí)到線掃描(Line-scan)攝影機(jī)的分辨率及取像速度才能滿足這些時(shí)勢(shì)所驅(qū)的產(chǎn)業(yè)需
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NI推出2005 暑期高校教師LabVIEW免費(fèi)培訓(xùn)
- 美國國家儀器有限公司近日宣布：為了支持廣大高校理工科教師更好地開展LabVIEW圖形化編程環(huán)境以及虛擬儀器技術(shù)課程的教學(xué)和實(shí)驗(yàn)，NI推出2005暑期高校教師LabVIEW免費(fèi)培訓(xùn)。培訓(xùn)對(duì)象為已購買LabVIEW軟件及相關(guān)軟硬件的老師， 培訓(xùn)課程免費(fèi)，差旅費(fèi)和住宿費(fèi)自理。 今年NI提供二套培訓(xùn)課程，分為LabVIEW Basic I 和 LabVIEW Basic II＋數(shù)據(jù)采集， 具體信息如下： 課程1： LabVIEW Basic I 課程2： LabVIEW Ba
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TLA V5.0應(yīng)用軟件帶來業(yè)界第一套自動(dòng)測(cè)試功能
- 鑒于串行數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)所具備的更高數(shù)據(jù)傳輸速率和更多樣的信號(hào)格式，整個(gè)業(yè)界正逐步向串行架構(gòu)轉(zhuǎn)變，隨之而來的是設(shè)計(jì)人員對(duì)邏輯分析儀所提出的更為苛刻的要求。當(dāng)今的工程設(shè)計(jì)人員所面臨的挑戰(zhàn)在于他們需要在更短的時(shí)間內(nèi)解決各種前所未見的串行數(shù)據(jù)測(cè)試問題從而將產(chǎn)品更快地投放市場(chǎng)，在這種情況下，他們需要一套全新的功能以應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)。TLA V5.0應(yīng)用軟件的誕生將大大增強(qiáng)邏輯分析儀在數(shù)字驗(yàn)證和除錯(cuò)等方面工作效率和生產(chǎn)力。拖放觸發(fā)自動(dòng)測(cè)試功能是最新版本的應(yīng)用軟件所提供的重要功能之一，5.0版本首次將一系列類似于示波器的自動(dòng)測(cè)試
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測(cè)試測(cè)量介紹
電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀……
通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試
儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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