LED應用于照明除了節(jié)能外,長壽命也是其十分重要的優(yōu)勢。目前由于LED 熱性能原因,LED 及其燈具不能達 到理想的使用壽命;LED 在工作狀態(tài)時的結溫直接關系到其壽命和光效;熱阻則直接影響LED 在同等使用條件下 LED 的結溫
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原理 測試 溫及熱 LED 電壓
為提高下行和上行分組數(shù)據(jù)的速率和容量，現(xiàn)在已經(jīng)在全球范圍內(nèi)大規(guī)模地部署UMTS高速下行分組接入(HSDPA)和高速上行分組接入(HSUPA)網(wǎng)絡。在3GPP中，HSDPA作為Rel-5引入，而HSUPA則是3GPP Rel-6的一個非常重要的特性
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方案 測試 終端 HSPA
陀螺電機是慣性器件陀螺儀的主要構成部分，而陀螺儀是慣性導航系統(tǒng)的核心元件，廣泛運用于艦船導航和各種武器系統(tǒng)中。陀螺電機的性能好壞，將直接影響陀螺儀的性能以及整個慣導系統(tǒng)的導航精度，因此，對于陀螺電
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電源 方案設計 測試 可調(diào) 數(shù)字 陀螺
電氣強度測試(Electric Strength Test)是產(chǎn)品安全測試領域中常見的電氣測試項目之一，幾乎所有涉及到電氣絕緣強度的*估都一定會包含所謂的“打耐壓”測試，也因此電氣強度測試也被稱作耐壓測試，其常見
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電氣 測試 絕緣性能 電氣強度
一 前言 在高速串行技術如此廣泛應用的今天，簡單易用的USB堪稱是PC平臺上最成功的I/O技術，普及率幾乎100%。而且隨著終端用戶對于高速USB設備應用需求的不斷增加，越來越多的嵌入式通信類終端產(chǎn)品開始增加了
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主機 測試 USB2.0 嵌入式 通信 終端 基于
該文詳細討論了射頻電纜及測試電纜組件的各項指標和性能，為廣大測試工程人員在選用高性能高可靠性射頻測試電纜組件時所應關注的幾個方面提出了專業(yè)建議。
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電纜 指標 性能 測試 射頻 組件
HDMI1.4基礎技術及測試需求, 1 引言 從入門高清消費電子級產(chǎn)品到高端家庭影院系統(tǒng)，包括電視，機頂盒，DVD 播放機和A/V接收器，HDMI(High-DefiniTIon Multimedia InteRFace)接口快速地在消費者中普及，圖1為HDMI應用實例。HDMI是一個非常
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需求 測試 技術 基礎 HDMI1.4
The Challenge: 開發(fā)基于PC機的壽命測試系統(tǒng)來替換傳統(tǒng)的基于人工的系統(tǒng)，用于航天執(zhí)行器的壽命測試。 The Solution: 借助于NI LabVIEW軟件，使用PCI數(shù)據(jù)采集硬件進行壽命仿真，使用NI CompactRIO硬件用
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LabVIEW 航天 測試 軟硬件
超聲波電機的運轉需要一個兩相相差90°(或可調(diào))的高頻交流信號源。本方案采用DDS技術的設計思路，用VHDL硬件描述語言對FPGA器件編程產(chǎn)生了兩相四路高頻信號。該信號經(jīng)過驅(qū)動隔離電路施加于H橋逆變器中，在電感的平滑作用下，生成了滿足USM測試要求的可調(diào)頻、調(diào)相、調(diào)幅的兩相高頻交流信號源，成功地對USM45電機進行了驅(qū)動測試。該電路可用于研究超聲波電機的運行狀態(tài)的研究及獲取其最佳工作點參數(shù)。
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測試 電源 設計 USM 技術 FPGA DDS 基于
DRM系統(tǒng)采用OFDM調(diào)制方式，引入了先進的信源信道編碼和調(diào)制技術，使得AM波段的音頻廣播質(zhì)量大大提高，在保持現(xiàn)有10kHz帶寬時接近了FM廣播的質(zhì)量?！ ”疚氖紫群唵谓榻BDRM系統(tǒng)，然后重點討論DRM測試接收機的設計背景
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方案 設計 接收機 測試 DRM
USB由于具備下面幾個優(yōu)勢，從而成為使用者開發(fā)測試和測量測量應用的簡單選擇。
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USB 測試 測量
引言 隨著無線局域網(wǎng)技術的發(fā)展與成熟，無線局域網(wǎng)產(chǎn)品已開始越來越多地應用到家庭、企業(yè)，和機場、咖啡廳等公共場所，為人們提供高速無線的Internet接入。目前相當多的生產(chǎn)廠商都推出了自己的無線局域網(wǎng)系列
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認證 測試 產(chǎn)品 域網(wǎng) 無線局
評估數(shù)字通信鏈路質(zhì)量的有效方法之一是眼圖，眼圖給出了每一位(第N位，介于N-1位隨機數(shù)和N+1位隨機數(shù)之間)的窗口。通信系統(tǒng)工程師一般采用傳統(tǒng)的測試儀器來測量和分析信道的誤碼率。但大部分專業(yè)工程師并不這樣做
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方法 測試 質(zhì)量 鏈路 數(shù)字 通信 評估
對于超薄介質(zhì)，由于存在大的漏電和非線性，通過標準I-V和C-V測試不能直接提取氧化層電容(Cox)。然而，使用高頻電路模型則能夠精確提取這些參數(shù)。隨著業(yè)界邁向65nm及以下的節(jié)點，對于高性能/低成本數(shù)字電路，RF電
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測試 RF 射頻 芯片 IC
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應用學科：
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應用學科：
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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