測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
PXISA組委會(huì)公開會(huì)議首次在中國舉辦，探求更多本土合作意向
- PXI系統(tǒng)聯(lián)盟（PXI Systems Alliance，簡稱PXISA）聯(lián)合美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）和其它PXISA成員公司和本地各PXI產(chǎn)品供應(yīng)商的高層于2008年5月29日在北京國際飯店舉辦了PXISA組委會(huì)的公開會(huì)議，這是該規(guī)格會(huì)議首次在亞洲地區(qū)舉辦。 PXISA組織成立于1997年, 十多年來一直致力于推廣PXI標(biāo)準(zhǔn)，確保PXI的互換性，并維護(hù)PXI規(guī)范。作為一個(gè)推廣和支持PXI的行業(yè)聯(lián)合會(huì)，該組織的主要任務(wù)在于推廣PXI標(biāo)準(zhǔn)、確保
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NI成功主辦第五屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”
- 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）宣布在中國地區(qū)成功主辦第五屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）。近600多位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場(chǎng)參加會(huì)議。除了主辦商N(yùn)I以外，十余家國內(nèi)外知名的PXI供應(yīng)商如 Aeroflex, Geotest， VPC， Pickering，ZTEC，凌華科技以及本地的北京中科泛華，上海聚星儀器，成都縱橫
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致茂電子提供客戶全系列LED測(cè)試解決方案
- 國內(nèi)量測(cè)儀器大廠致茂電子在今年光電周LED展區(qū)，針對(duì)當(dāng)今最熱門的LED產(chǎn)業(yè)推出全系列的制程測(cè)試解決方案。由于LED具備輕巧、節(jié)能、環(huán)保、耐用、高亮度等多種優(yōu)異特性下，逐漸在各個(gè)產(chǎn)業(yè)的應(yīng)用上嶄露頭角。以LED的制程來說，從上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封裝(Package)，即可完成一個(gè)LED模組，并可多樣化地發(fā)揮在資訊顯示、光源、照明、通訊傳輸、遙控感測(cè)等功能應(yīng)用上，市場(chǎng)規(guī)模相當(dāng)龐大。 致茂電子所開發(fā)的LED測(cè)試設(shè)備是應(yīng)用于中游晶片切割前后及晶
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中移動(dòng)今起增招6萬TD友好用戶 不再內(nèi)定名單
- 6月5日消息，中國移動(dòng)的TD-SCDMA友好用戶政策突然改變，將不再內(nèi)定友好用戶名單，8個(gè)TD建網(wǎng)城市入網(wǎng)一年或以上的移動(dòng)用戶通過TD-SCDMA社會(huì)化業(yè)務(wù)測(cè)試的官方網(wǎng)站即可申請(qǐng)。 再招6萬友好用戶 據(jù)悉，中國移動(dòng)從6月5日開始將至7月31日將再招募6萬名TD-SCDMA社會(huì)化業(yè)務(wù)測(cè)試友好用戶。 此前，今年4月，中國移動(dòng)正式啟動(dòng)TD-SCDMA社會(huì)化業(yè)務(wù)測(cè)試及試商用，首批邀請(qǐng)了2萬名有一定代表性的用戶，對(duì)TD終端、網(wǎng)絡(luò)、業(yè)務(wù)等進(jìn)行全方位測(cè)試。 中國移動(dòng)表
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采用軟件無線電架構(gòu)加速無線設(shè)備開發(fā)和測(cè)試
- 隨著現(xiàn)在無線電應(yīng)用數(shù)量的增加―從相距數(shù)公里的兩個(gè)朋友之間的視頻交談到PDA控制的庫房環(huán)境和照明，無線標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量也在增加。每個(gè)行業(yè)都進(jìn)入無線通信的應(yīng)用領(lǐng)域，然而每個(gè)行業(yè)具有其自己的要求和規(guī)范，需要根據(jù)特定應(yīng)用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議進(jìn)行優(yōu)化。
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東方集成測(cè)試儀器攜手華為備戰(zhàn)W-CDMA
- 新一代移動(dòng)通信技術(shù)包括C2000、W-CDMA、TD。業(yè)內(nèi)專家預(yù)測(cè)，未來中國通信業(yè)將同時(shí)采用上述技術(shù)，即三網(wǎng)并用。 C2000主要是北美標(biāo)準(zhǔn)，從國際上來講目前是趨于技術(shù)更新階段，增速不會(huì)很快。而W-CDMA主要是歐洲標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)國內(nèi)發(fā)展趨勢(shì)，即將成為中國通信又一熱點(diǎn)話題。一個(gè)可以作為佐證的事實(shí)是，華為公司日前儲(chǔ)備了近400臺(tái)的手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試儀器，備戰(zhàn)W-CDMA項(xiàng)目。據(jù)華為在測(cè)試儀器領(lǐng)域的合作伙伴東方集成透露，華為為新的手機(jī)項(xiàng)目準(zhǔn)備600臺(tái)到800臺(tái)手機(jī)綜測(cè)儀，其中一半將由中國測(cè)試儀器租賃的專業(yè)公司――東
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基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)
- 1引言 數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天， 2M口日益成為重要的設(shè)備投入業(yè)務(wù)測(cè)試點(diǎn)和運(yùn)營維護(hù)測(cè)試點(diǎn)。數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天，建立綜合業(yè)務(wù)數(shù)字網(wǎng)正成為電信經(jīng)營者努力的方向。差錯(cuò)（誤碼、誤塊）性能作為數(shù)字網(wǎng)的重要傳輸性能指標(biāo)，是網(wǎng)絡(luò)營運(yùn)者進(jìn)行數(shù)字網(wǎng)建設(shè)、維護(hù)的重要依據(jù)；也是評(píng)估電信業(yè)務(wù)性能優(yōu)劣的標(biāo)準(zhǔn)之一。 因此，國際電聯(lián)（ITU-T）極為重視對(duì)差錯(cuò)的研究，近年來，針對(duì)數(shù)字網(wǎng)的設(shè)計(jì)、安裝、維護(hù)的要求，推出了一系列有關(guān)誤碼性能的建議。目前我國工程技術(shù)人員所使用的測(cè)試儀多為國外進(jìn)口產(chǎn)品,產(chǎn)品價(jià)格昂貴。而國產(chǎn)的測(cè)試儀
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受地震影響的英特爾成都封測(cè)廠恢復(fù)生產(chǎn)
- 英特爾發(fā)言人查克·穆洛伊(Chuck Mulloy)日前表示，受汶川地震影響而停產(chǎn)的成都工廠現(xiàn)已恢復(fù)運(yùn)營。 受四川汶川地震影響，英特爾成都封裝與測(cè)試工廠于5月12日暫時(shí)停產(chǎn)。該工廠共有1600員工，目前尚無人在地震中受傷。 穆洛伊在聲明中稱：“英特爾正在評(píng)估當(dāng)前的庫存、工作進(jìn)展和其他因素，以確保為用戶提供最佳服務(wù)。” 有報(bào)道稱，英特爾成都工廠的停產(chǎn)已經(jīng)造成G31、G33和945GC芯片組短缺，并導(dǎo)致價(jià)格上漲。但穆洛伊表示，英特爾本身并未提高售價(jià)。
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元器件測(cè)試篩選先后次序的決定原則
- 0引言 電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心，其技術(shù)基礎(chǔ)是電子元器件(以下簡稱元器件)，其中大部分是微電子器件。元器件是電子設(shè)備和系統(tǒng)的基本單元，為了提高系統(tǒng)的可靠性，必須首先保證元器件的可靠性，但是即使高可靠性的元器件，在最好的生產(chǎn)工藝和生產(chǎn)控制下，仍然不可避免地會(huì)產(chǎn)生一些有缺陷、質(zhì)量不符合要求的產(chǎn)品。所以在裝機(jī)前對(duì)元器件進(jìn)行測(cè)試篩選就顯得尤其重要。 元器件的篩選測(cè)試是為了在施加各種環(huán)境和電的應(yīng)力，從而將元器件中的各種缺陷激發(fā)出來，以便確定元器件電性能是否失效。電性能失效可以分為連結(jié)性失效
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安捷倫推出針對(duì)3GPP標(biāo)準(zhǔn)元器件的HSPA+測(cè)試解決方案
- 安捷倫科技宣布其矢量信號(hào)分析（VSA）軟件現(xiàn)已能夠進(jìn)行HSPA+分析，成為業(yè)界首款商用化的HSPA+信號(hào)分析測(cè)試解決方案。此外，安捷倫的另一款軟件“用于3GPP W-CDMA的Signal Studio”能夠簡化HSPA+高階調(diào)制機(jī)制的創(chuàng)建，從而使工程師可以更輕松地對(duì)基站或移動(dòng)站中的3GPP標(biāo)準(zhǔn)元器件進(jìn)行測(cè)試。兩種軟件工具配合工作，可以為現(xiàn)在的研發(fā)工程師提供所需的數(shù)據(jù)，幫助他們成功診斷物理層的信號(hào)問題。 安捷倫信號(hào)分析部副總裁Guy Sene表示：“安捷倫的S
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致茂世界首創(chuàng)CZ Mode電容性負(fù)載測(cè)試滿足各式樣的電源測(cè)試需求
- 有鑒于多組輸出的A/D電源供應(yīng)器、D/D Converters、Chargers、Batteries、Adapters等產(chǎn)品的功率一再提升，制造廠對(duì)于產(chǎn)品的測(cè)試項(xiàng)目也隨之增加，且量產(chǎn)測(cè)試速度也不斷被提升要求。致茂電子以創(chuàng)新技術(shù)研發(fā)出新一代電子負(fù)載(Model 63600系列)，此系列擁有多功能的高功率密度模組設(shè)計(jì)，單一模組最高可達(dá)400W，且在Mainframe方面，更可容納高達(dá)5個(gè)模組，最大功率可達(dá)2000W，而10 in 1的設(shè)計(jì)更能滿足廠商各式樣的電源測(cè)試需求。 致茂電子量測(cè)儀器事業(yè)部市場(chǎng)
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測(cè)試介紹
中文名稱：
測(cè)試
英文名稱：
test
定義1：
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科：
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科：
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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