測量 文章 進入測量技術(shù)社區(qū)
抖動-示波器測量的最高境界
- 抖動話題是示波器測量的最高境界，也是最風云變換的一個話題，這是因為抖動是示波器測量的諸多功能中最和“數(shù)學”相關(guān)的。 玩數(shù)學似乎是需要一定境界的。 1，抖動和波形余輝的關(guān)系有一種比較傳統(tǒng)的測量抖動的方法，就是利用余輝來查看信號邊沿的變化，然后再用光標測量變化的大?。ㄈ鐖D1所示）。后來高端一點的示波器具有“余輝直方圖”的功能，利用余輝直方圖和相關(guān)參數(shù)可以自動測量出信號邊沿變化的余輝的變化范圍。 在上個世紀90年代初示波器有了真正意義的“測量統(tǒng)計”功能之后，這個方法就逐漸被淘汰了。&n
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【對話前沿KOL】探析電子測試和測量行業(yè)發(fā)展趨勢
- Boen提倡采用全面的協(xié)作方法來推進AI/ML技術(shù)，她認為創(chuàng)新對于促進社會進步至關(guān)重要，可以改變我們的工作和生活方式。她的理由是，技術(shù)開發(fā)能夠促使該行業(yè)推出新的市場解決方案。泰克戰(zhàn)略技術(shù)和先進集成電路 (AICS) 總監(jiān)Sarah Boen與Electronic Specifier對話，以下內(nèi)容為本文對話要點。測試和測量行業(yè)在過去十年中取得了巨大發(fā)展，目前有哪些關(guān)鍵變化正在改變行業(yè)格局？過去二十年，我有幸在測試和測量行業(yè)工作，我想說，該行業(yè)當前充滿了巨大且振奮人心的變化。測試和測量行業(yè)過去提供通用解決方案
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MV.C機器視覺高光譜成像系統(tǒng)及其應(yīng)用
- 高光譜成像技術(shù)是近些年來迅速發(fā)展起來的、一種全新的影像分析檢測技術(shù),它是集圖像傳感器、精密光學，精密機械、計算機信息處理技術(shù)于一體的綜合性技術(shù)。在高光譜數(shù)據(jù)采集過程中,成像光譜儀以納米級的光譜分辨率,以幾十或幾百個波段對檢測目標成像,形成海量數(shù)據(jù)的數(shù)字影像集（也稱數(shù)據(jù)立方體Data Cube），實現(xiàn)了目標的光譜信息、空間信息及輻射信息的同步獲取,因而在目標檢測和目標識別領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用價值和廣闊的發(fā)展前景。高光譜成像相比傳統(tǒng)的影像技術(shù)有以下的優(yōu)點在相應(yīng)的光譜范圍內(nèi)，具有上百個光譜通道的影像數(shù)據(jù)，影像上每
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Diodes 公司的高精度雙向電流顯示器能以較低的 BoM 成本達到精確測量的結(jié)果
- Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq：DIOD) 今日宣布推出一系列采用高穩(wěn)定性零點漂移架構(gòu)的雙向電流顯示器。這些裝置能夠在廣泛的共模電壓范圍內(nèi)準確測量極低感測電壓。主要產(chǎn)品應(yīng)用項目包括筆記本電腦、電池充電器、工業(yè)伺服裝置、服務(wù)器、服務(wù)器農(nóng)場中的電源機架和機器人系統(tǒng)。ZXCT199 系列電流顯示器裝置有六款產(chǎn)品可供選擇，每一款都有一個高精準運行的精密截波穩(wěn)定運算放大器。其低補償電壓使得電流感應(yīng)在分流器上的最大壓降，低至 10mV 滿刻度。這么一來便能使用平價、低值的分流電阻器組件來測量大電
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從測量入手，判斷 AI 算法的潛力
- 人工智能（AI）算法包含三個基本核心要素：1) 具備測量能力；2) 知道其中有多少測量需要進一步處理；3) 并行處理多路輸入的能力。是德科技全球企業(yè)和產(chǎn)品營銷副總裁 Jeff Harris系統(tǒng)的潛力是指它的可測性以及可達到的測量深度，而潛力的發(fā)揮則指的是決定系統(tǒng)必須將哪些方面的測量結(jié)果發(fā)送給處理器進一步處理。最后，傳感器融合指的是了解如何以正確的比例將不同傳感器的測量結(jié)果合并在一起，算法的智商有多高，推理的潛力有多大，這是我們探索的關(guān)鍵。通過反饋環(huán)路增強傳感器融合，算法將能夠校驗和糾正自身的邏輯
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imc發(fā)布NVH聲學與振動測量系統(tǒng)
- 圖：新版imc WAVE 2022與imc CRONOSflex測量模塊，聯(lián)手提供性能卓越的NVH數(shù)據(jù)分析。 imc 測試測量面向全球用戶，發(fā)布其全新版 imc WAVE 2022 — 這是一款功能強大聲學與振動的軟件，聯(lián)合性能卓越的imc數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，進行符合標準的噪聲與振動分析。imc WAVE 2022由四個可相互組合的分析儀組成，根據(jù)標準提供聲功率評估、結(jié)構(gòu)分析、振動和旋轉(zhuǎn)機械等綜合分析功能。軟件操作簡單，只需幾步就能指導(dǎo)用戶從配置、校準、測量到專業(yè)報告，縮短設(shè)置時間，并快速、安全地為N
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用于檢測裸硅圓片上少量金屬污染物的互補性測量技術(shù)
- I.?前言本文旨在解決硅襯底上的污染問題，將討論三種不同的金屬污染。第一個是鎳擴散，又稱為快速擴散物質(zhì)[1]，它是從晶圓片邊緣上的一個污點開始擴散的金屬污染。第二個是鉻污染，它是從Bulk體區(qū)內(nèi)部擴散到初始氧化膜[2]，并在晶圓片上形成了一層較厚的氧化物。第三個是晶圓片邊緣周圍的不銹鋼污染。本文的研究目的是根據(jù)金屬和圖1所示的污染特征找到污染的根源。圖1 三個金屬污染示例的映射圖。從左至右：鎳擴散的微掩膜缺陷圖；較厚的鉻氧化沉積層；晶圓片邊緣上不銹鋼污染電子晶圓片檢測(EWS)映射圖AI.&nb
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無線水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)
- 簡介飲料生產(chǎn)、制藥廠、廢水處理廠等多個行業(yè)都依靠水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)對重要水質(zhì)指標進行測量和控制。定義水的物理、化學和生物學特性的參數(shù)可作為水質(zhì)指標。例如：◆? ?物理：溫度和濁度◆?? 化學：pH值、氧化還原電位(ORP)、電導(dǎo)率和溶解氧◆?? 生物學：藻類和細菌本文重點討論歷來不可或缺但不可靠而造成實施負擔的化學測量參數(shù)。電化學是化學的一個分支，通過測量電子從一種反應(yīng)物到另一種反應(yīng)物的轉(zhuǎn)移來表征還原-氧化反應(yīng)的行為。電化學技術(shù)可以直接或間接用于檢測和
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工程師溫度傳感指南 | 了解設(shè)計挑戰(zhàn)，掌握解決方案！
- 在個人電子產(chǎn)品、工業(yè)或醫(yī)療應(yīng)用的設(shè)計中，工程師必須應(yīng)對同樣的挑戰(zhàn)，即如何提升性能、增加功能并縮小尺寸。除了這些考慮因素外，他們還必須仔細監(jiān)測溫度以確保安全并保護系統(tǒng)和消費者免受傷害。眾多行業(yè)的另一個共同趨勢是需要處理來自更多傳感器的更多數(shù)據(jù)，進一步說明了溫度測量的重要性：不僅要測量系統(tǒng)或環(huán)境條件，還要補償其他溫度敏感元件，從而確保傳感器和系統(tǒng)的精度。另外一個好處在于，有了精確的溫度監(jiān)測，無需再對系統(tǒng)進行過度設(shè)計來補償不準確的溫度測量，從而可以提高系統(tǒng)性能并降低成本。三大溫度設(shè)計挑戰(zhàn)?? &nbs
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Digi-Key Electronics宣布與Analog Devices就創(chuàng)新型MeasureWare平臺項目建立合作關(guān)系
- 美國 , 明尼蘇達州 , 錫夫里弗福爾斯市 - 2019 年 10 月 08 日全球電子元器件分銷商 Digi-Key Electronics 今天宣布，將與 Analog Devices 就全新創(chuàng)新型 MeasureWare 平臺建立合作關(guān)系。通過這種多傳感器平臺，Digi-Key 的客戶能夠立即獲得合格產(chǎn)品的可供貨數(shù)量和定價，從而著手開始設(shè)計。Digi-Key 全球供應(yīng)商管理副總裁 David Stein 表示：“Analog Device 選擇我們成為這一全新直觀平臺的合作伙伴，我們對此感到由衷地自
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ADI的MeasureWare為精確測量帶來變革，幫助用戶更好地解讀其世界
- 近日，中國北京——Analog Devices, Inc. (ADI)宣布推出MeasureWare，這是一套即插即用的硬件測量套件和軟件工具，可幫助滿足多個行業(yè)不斷增長的精確測量需求，其中包括精密農(nóng)業(yè)、設(shè)備健康監(jiān)測、電化學和其他需要精確測量的領(lǐng)域。用戶需要實時的數(shù)據(jù)洞察能力，但可能缺乏時間或相關(guān)的專業(yè)知識，無法吃透相應(yīng)的數(shù)據(jù)手冊或進行復(fù)雜的固件開發(fā)，MeasureWare?的推出為這些用戶帶來了ADI的電子工程經(jīng)驗。ADI的?MeasureWare?解決方案可將設(shè)備與周圍的
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測量介紹
測量的概念
所謂測量，是指用實驗的方法，將被測量（未知量）與已知的標準量進行比較，以得到被測量大小的過程；是對被測量定量認識的過程。
測量的定義
1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點的坐標的學科。
2.當前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學科。
測量學的內(nèi)容包括測定和測設(shè)兩個部分。測定是指使用測量儀器和工具，通過測 [ 查看詳細 ]
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