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ic測(cè)試
ic測(cè)試 文章 進(jìn)入ic測(cè)試技術(shù)社區(qū)
全球IC測(cè)試龍頭疫情持續(xù)發(fā)酵 臺(tái)積電或被波及 風(fēng)暴席卷當(dāng)?shù)卣麄€(gè)科技產(chǎn)業(yè)鏈
- 據(jù)臺(tái)灣地區(qū)經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)報(bào)道，中國(guó)臺(tái)灣半導(dǎo)體廠染疫已由京元電子、超豐等半導(dǎo)體封測(cè)廠，蔓延到晶圓代工龍頭臺(tái)積電，以及網(wǎng)通產(chǎn)品供應(yīng)商智邦科技，甚至與京元電子往來(lái)的IC設(shè)計(jì)公司員工也被要求快篩，不僅將沖擊苗栗竹南科學(xué)園區(qū)，恐將進(jìn)一步影響位于竹科的廠商，對(duì)產(chǎn)業(yè)沖擊也將由半導(dǎo)體、網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)一步擴(kuò)大到臺(tái)灣地區(qū)整個(gè)科技產(chǎn)業(yè)鏈?！ √幱陲L(fēng)暴之眼的京元電子在全球封測(cè)市占率約3.7%，為第八大封測(cè)廠。其苗栗縣廠區(qū)近日爆出多名員工確診新冠肺炎?！ 榱吮苊庖咔樵俣葦U(kuò)大，該公司相關(guān)廠區(qū)自4日夜班到6月6日的日班為止停工2天，進(jìn)行廠區(qū)消毒
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IC測(cè)試原理解析(第四部分―射頻/無(wú)線芯片測(cè)試基礎(chǔ))
- 芯片測(cè)試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測(cè)試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測(cè)試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲(chǔ)器和邏輯芯片的測(cè)試中的應(yīng)用，第三章介紹了
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集成電路獨(dú)立測(cè)試基地在鎮(zhèn)江建成
- 日前，江蘇艾科半導(dǎo)體二期項(xiàng)目在鎮(zhèn)江新區(qū)科技新城竣工開(kāi)業(yè)，其中總投資2億元的集成電路第三方獨(dú)立測(cè)試服務(wù)基地，填補(bǔ)了我省該領(lǐng)域的空白，并為鎮(zhèn)江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步，該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果，通過(guò)合作方式承擔(dān)廠商外包訂單。 此次合作，由鎮(zhèn)江現(xiàn)代服務(wù)業(yè)中中高端IC測(cè)試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設(shè)集成電路測(cè)試基地，其中，VEGI公司出資1500萬(wàn)美元用于測(cè)試設(shè)備采購(gòu)，艾科出資2億元人民幣用于測(cè)試設(shè)備采購(gòu)、環(huán)境建設(shè)及流動(dòng)資金。項(xiàng)目建成后，將為
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集成電路獨(dú)立測(cè)試基地在鎮(zhèn)江建成
- 日前，江蘇艾科半導(dǎo)體二期項(xiàng)目在鎮(zhèn)江新區(qū)科技新城竣工開(kāi)業(yè)，其中總投資2億元的集成電路第三方獨(dú)立測(cè)試服務(wù)基地，填補(bǔ)了我省該領(lǐng)域的空白，并為鎮(zhèn)江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步，該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果，通過(guò)合作方式承擔(dān)廠商外包訂單。 此次合作，由鎮(zhèn)江現(xiàn)代服務(wù)業(yè)中中高端IC測(cè)試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設(shè)集成電路測(cè) 試基地，其中，VEGI公司出資1500萬(wàn)美元用于測(cè)試設(shè)備采購(gòu)，艾科出資2億元人民幣用于測(cè)試設(shè)備采購(gòu)、環(huán)境建設(shè)及流動(dòng)資金。項(xiàng)目建成后，將
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IC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)答
- 我在測(cè)試的時(shí)候，有些DC參數(shù)在同樣的條件下幾次測(cè)試的結(jié)果相差很大。不明白是為什么? 你使用的測(cè)試機(jī)臺(tái)是 ...
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IC測(cè)試原理解析(第四部分―射頻/無(wú)線芯片測(cè)試基礎(chǔ)
- 芯片測(cè)試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測(cè)試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測(cè)試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲(chǔ)器和邏輯芯片的測(cè)試中的應(yīng)用，第三章介紹了
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藍(lán)牙收發(fā)器transceiver IC測(cè)試
- 藍(lán)牙規(guī)范的第一個(gè)正式版本1.0版已于1999年7月發(fā)布，之后許多廠商都推出了支持藍(lán)牙產(chǎn)品的高性價(jià)比集成電路芯片。隨著藍(lán)牙產(chǎn)品越來(lái)越普及，制造商需要以較低的成本完成大量測(cè)試工作。本文針對(duì)藍(lán)牙射頻前端收發(fā)器，著重
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ic測(cè)試介紹
IC測(cè)試
任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計(jì)的單片模塊，IC測(cè)試就是集成電路的測(cè)試，就是運(yùn)用各種方法，檢測(cè)那些在制造過(guò)程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無(wú)缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過(guò)程所帶來(lái)的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無(wú)論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì)產(chǎn)生不良的個(gè)體，因而測(cè)試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。
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