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          SiC MOSFET應用技術在雪崩條件下的魯棒性評估
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • ?本文將探討如何在雪崩工作條件下評估SiC MOSFET的魯棒性。MOSFET功率變換器，特別是電動汽車驅動電機功率變換器，需要能夠耐受一定的工作條件。如果器件在續(xù)流導通期間出現(xiàn)失效或柵極驅動命令信號錯誤，就會致使變換器功率開關管在雪崩條件下工作。因此，本文通過模擬雪崩事件，進行非鉗位感性負載開關測試，并使用不同的SiC MOSFET器件，按照不同的測試條件，評估技術的失效能量和魯棒性。
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          • 關鍵字：
                        MOSEFT  VDS  UIS  DUT                          
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          Verkotan采用羅德與施瓦茨的PWC技術進行5G NR OTA基站測試
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 測試與測量方案供應商羅德與施瓦茨（Rohde & Schwarz）近期推出了R&S PWC200，這是市場上第一款平面波轉換器（PWC）。Verkotan是第一家選擇此技術的獨立測試機構，以空口（OTA）的方式測試5G NR FR1基站。羅德與施瓦茨PWC200擴展了其5G NR測試產品組合，該產品是為5G大規(guī)模MIMO基站測試而開發(fā)的，用于生產和研發(fā)環(huán)節(jié)。?平面波轉換器支持大部分3GPP認證項目，并具有156個寬帶Vivaldi天線組成的雙向陣列，這些天線放置在靠近被測設備（D
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          • 關鍵字：
                        PWC  OTA  DUT  NR                          
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          羅德與施瓦茨和聯(lián)發(fā)科技共同驗證 5G NR 動態(tài)頻譜共享（DSS）
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 如今，4G LTE網絡已經成功部署，從而6 GHz以下的頻率被大量利用，如何在這些低頻段上部署5G NR？這給全球網絡運營商帶來了新的挑戰(zhàn)。動態(tài)頻譜共享（DSS）是一種使移動網絡運營商可以在同一頻帶中使用LTE和5G NR的技術。?標準化共存方法的深入驗證是該技術成功的關鍵。羅德與施瓦茨和聯(lián)發(fā)科技科公司通過利用獨特的專業(yè)知識共同合作，并進行了驗證，該驗證使用了羅德與施瓦茨的R＆S CMX500 5G NR無線電通信測試儀平臺以及聯(lián)發(fā)科技提供的被測設備（DUT）。幾乎所有初始的5G NR FR1部
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          • 關鍵字：
                        DSS  DUT                          
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          鼎陽科技發(fā)布SSG5000X系列射頻模擬/矢量信號源
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 近日，深圳市鼎陽科技股份有限公司發(fā)布SSG5000X系列射頻模擬/矢量信號發(fā)生器。射頻輸出頻率高達6 GHz, 內部基帶源帶寬150 MHz。SSG5000X 可作為本地振蕩器（LO）,發(fā)射器（transmitter），或干擾信源，廣泛應用于測試器件、接收機及各種通信系統(tǒng)，適用于生產和研發(fā)場景。強大的ARB模式消費類電子發(fā)展迅速，工程師在驗證產品性能時，需要模擬多種通信標準和協(xié)議信號。SSG5000X 支持協(xié)議文件播放，內置常用協(xié)議文件，?可產生5G NR, LTE, WLAN, WCDMA, 
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          • 關鍵字：
                        LO  發(fā)射器  DUT                          
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          CAN一致性測試隔離和非隔離供電的電路區(qū)別
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　汽車電子中有隔離和非隔離DUT，常用于在與發(fā)動機、BMS等容易產生瞬時高壓的設備部分會采用隔離的通訊連接，隔離DUT的目的是為防止電磁干擾影響DUT通信信號以及瞬時高壓脈沖損壞DUT;而非隔離DUT，則常用于與低壓車載電子設備的通信。根據DUT類型，CANDT設計兩種供電模式，隔離供電與非隔離供電，本文與讀者淺談隔離與非隔離電路原理和接線方式的區(qū)別，以及其對測試的影響。常見的CAN設備分為隔離和非隔離兩類?！　∫?、隔離供電DUT設備　　隔離ECU內部的收發(fā)器和控制器之間有隔離模塊(包括數字隔離芯片和隔
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          • 關鍵字：
                        CAN  DUT                          
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          如何準確測量CAN節(jié)點的信號邊沿參數
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　CAN總線設計規(guī)范對于CAN節(jié)點的信號邊沿各項參數都有著嚴格的規(guī)定，如果不符合規(guī)范，則在現(xiàn)場組網后容易出現(xiàn)不正常的工作狀態(tài)，各節(jié)點間出現(xiàn)通信故障。具體要求如表 1所示，為測試標準“GMW3122信號邊沿標準”。
　　表 1 GMW3122信號邊沿標準

　　所以每個廠家在產品投入使用前，都要進行CAN節(jié)點DUT(被測設備)的信號邊沿參數測試。一般是使用GMW3122信號邊沿測試的CAN測試方法，如下描述：
　　如圖 1所示，我們以信號跳變過程的20% ~ 80%定義為該
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          • 關鍵字：
                        CAN  DUT                          
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          ICE時代正在悄然離去
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　硬件仿真是唯一一個可以部署在多個操作模式中的驗證工具。事實上，它可應用于四個主要模式中，而且模式間的結合使用可以增加靈活性?；谝韵聝蓚€特征對硬件仿真的應用模式進行分類：對映射到硬件仿真器中被測設計(DUT)的激勵類型，以及DUT的響應過程。具體包括：
　　1.內電路硬件仿真(ICE)模式： 使用物理目標設備，通過頻率適配器來驅動硬件仿真器中的DUT。
　　2. 基于事務的硬件仿真或加速模式： 使用虛擬目標設備，通過驗證IP來驅動硬件仿真器中的DUT。
　　3. 軟件仿真測試平臺加速模式：通過程
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          • 關鍵字：
                        ICE  DUT                          
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          理解RF器件性能測量過程中的紋波：理論與實驗(下)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　本小節(jié)將計算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數。圖2顯示了該介電模塊內正常入射層波多次相互作用情況。

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          • 關鍵字：
                        RF  DUT  TEM                          
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          理解RF器件性能測量過程中的紋波：理論與實驗(上)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　在RF器件參數描述(例如：增益、線性和回波損耗等)期間，我們有時會看到紋波。出現(xiàn)這些紋波的原因是，信號在線纜、連接器、評估板線路、受測器件(DUT)和封裝內傳播時存在多次反射情況。這些互連結點上的阻抗錯配，導致這些紋波的出現(xiàn)。

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          • 關鍵字：
                        RF  DUT  TEM                          
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          新的吉時利電源允許高達10kV的安全擊穿測試
          
                                                            
            
                    	
          • 　　先進電氣測試儀器與系統(tǒng)的世界級領導者-吉時利儀器日前宣布，推出兩款優(yōu)化的高壓電源，用于高電壓的設備和材料測試，高能物理和材料科學研究。2290-5?5kV型電源和2290-10型?10kV電源非常適合于功率半導體器件的高電壓擊穿測試。包括由當前和下一代寬禁帶半導體材料組成的器件，例如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)，專為“綠色”、高效節(jié)能發(fā)電、傳輸系統(tǒng)、混合動力和全電動汽車使用。　　2290系列電源所擁有的許多內置功能是市場上其他提供10kV電壓產品所不具備的。例如，作為標準配置
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          • 關鍵字：
                        吉時利  2290  SMU  DUT                          
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          吉時利推出經濟型雙通道與三通道可編程電源最高性價比產品
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 吉時利儀器公司，作為先進電性測試儀器與測試系統(tǒng)的行業(yè)領導者，日前宣布2200系列可編程直流電源又增加兩款多通道電源產品。同現(xiàn)有競爭產品相比，這兩款電源產品具有更大的輸出準確度優(yōu)勢，不僅價格優(yōu)勢明顯，而且提高了易用性，非常適合在電路設計、大學生實驗室、材料研究以及器件測試等要求使用一臺以上電源的場合應用。
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          • 關鍵字：
                        吉時利  測量儀器  DUT                          
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          支持4個雙天線DUT的非信令2G/3G/LTE綜測方案
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 智能手機和平板電腦的旺盛市場需求迫使生產線尋求更大吞吐量的無線綜測解決方案，專攻生產線測試解決方案的Litepoint公司今年6月14日應時而動，推出了同時支持1、4和8部DUT的2G/3G/LTE智能手機和平板電腦無線綜測儀I
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          • 關鍵字：
                        方案  2G/3G/LTE  DUT  天線  支持                          
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          基于NI TestStand 和LabVIEW開發(fā)模塊化的軟件架構
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 當今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測試成本越來越高。由于設備的復雜性不斷增加，所以測試這些設備的成本也在不斷提高。因為測試對于產品質量至關重要,而更加復雜的電子設備需要更新式、更先進的測試儀器，所以產品的測試成本過高，無法與其較低的制造成本保持一致。
            • 
                    	                        
          • 關鍵字：
                        NI  測試系統(tǒng)  DUT                          
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          如何提高射頻測試儀的精度
          
                                                            
            
                    	
          • 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
            • 
                    	                        
          • 關鍵字：
                        射頻測試儀器  射頻測量  DUT                          
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          dut介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條dut!
           
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          熱門主題
          
      			
          
      			
          
       	          						DUT   
										樹莓派   
					linux   
      			
          
    		
          
  		
          
		
          
	
          
	
          

          

          
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