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矢網(wǎng)Wiltron360B應用在RF仿真中的
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 Wiltron360B DUT 射頻仿真
如何降低測試系統(tǒng)開關(guān)噪聲(04-100)
- 為測試電子和機電器件設(shè)計開關(guān)系統(tǒng)所遇到的問題和設(shè)計產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關(guān)系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時候更加重要。 本文所述的噪聲降低技術(shù)準則是針對信號頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。 任何新式測試系統(tǒng)都用很多信號和電源線來仿真和測量DUT(待測器件)，并有各種各樣的開關(guān)進行自動連接。通用測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示于圖1?？刂瓶偩€示于圖中左邊。模擬、數(shù)字和電源總線作為垂直線對示于不同子系統(tǒng)后面。
- 關(guān)鍵字： 測試 噪聲 DUT
沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)
- 消費類電子產(chǎn)品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問題。大的和復雜的SoC往往是消費類產(chǎn)品的心臟，不管它們的性能多么先進，其成本必須是低的。 各種內(nèi)裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內(nèi)部性能，導致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，F(xiàn)ibreChannel和Serial RapidIO)的全面測試。這些高速鏈路在計算、通信和音視頻娛樂前進中是不可缺少的。 重視測試成本是一個重要的問題，設(shè)計人員已應用BI
- 關(guān)鍵字： BIST DUT
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