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          面向工業(yè)環(huán)境的大功率無線電力傳輸技術(shù)

          • 1.?? 簡介隨著無線電力傳輸技術(shù)在消費(fèi)類電子產(chǎn)品中的日益普及,工業(yè)和醫(yī)療行業(yè)也把關(guān)注焦點轉(zhuǎn)移至這項技術(shù)及其固有優(yōu)勢。在如 WLAN 和藍(lán)牙(Bluetooth)等各項無線技術(shù)的推動下,通信接口日益向無線化發(fā)展,無線電力傳輸技術(shù)也成為一種相應(yīng)的選擇。采用一些全新的方案,不僅能帶來明顯的技術(shù)優(yōu)勢,還能為新的工業(yè)設(shè)計開辟更多可能性。這項技術(shù)提供了許多新的概念,特別是在需要對抗腐蝕性清潔劑、嚴(yán)重污染和高機(jī)械應(yīng)力等惡劣環(huán)境的工業(yè)領(lǐng)域,例如 ATEX、醫(yī)藥、建筑機(jī)械等。比如,它可以替代昂貴且易損
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          仿真看世界之SiC MOSFET單管的并聯(lián)均流特性

          • 開篇前言關(guān)于SiC MOSFET的并聯(lián)問題,英飛凌已陸續(xù)推出了很多技術(shù)資料,幫助大家更好的理解與應(yīng)用。此文章將借助器件SPICE模型與Simetrix仿真環(huán)境,分析SiC MOSFET單管在并聯(lián)條件下的均流特性。特別提醒仿真無法替代實驗,僅供參考。1、選取仿真研究對象SiC MOSFETIMZ120R045M1(1200V/45mΩ)、TO247-4pin、兩并聯(lián)Driver IC1EDI40I12AF、單通道、磁隔離、驅(qū)動電流±4A(min)2、仿真電路Setup如圖1所示,基于雙脈沖的思路,搭建雙管并
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          功率半導(dǎo)體IGBT失效分析與可靠性研究

          • 高端變頻空調(diào)在實際應(yīng)用中出現(xiàn)大量外機(jī)不工作,經(jīng)過大量失效主板分析確認(rèn)是主動式PFC電路中IGBT擊穿失效,本文結(jié)合大量失效品分析與電路設(shè)計分析,對IGBT失效原因及失效機(jī)理分析,分析結(jié)果表明:經(jīng)過對IGBT失效分析及IGBT工作電路失效分析及整機(jī)相關(guān)波形檢測、熱設(shè)計分析、IGBT極限參數(shù)檢測對比發(fā)現(xiàn)IGBT失效由多種原因?qū)е?,IGBT在器件選型、器件可靠性、閂鎖效應(yīng)、驅(qū)動控制、ESD能力等方面存在不足,逐一分析論證后從IGBT本身及電路設(shè)計方面全部提升IGBT工作可靠性。
          • 關(guān)鍵字: 主動式PFC升壓電路  IGBT  SOA  閂鎖效應(yīng)  ESD  熱擊穿失效  202108  MOSFET  

          羅姆即將亮相2021 PCIM Asia深圳國際電力元件、可再生能源管理展覽會

          • 全球知名半導(dǎo)體制造商羅姆將于2021年9月9日~11日參加在深圳國際會展中心舉辦的PCIM Asia 2021深圳國際電力元件、可再生能源管理展覽會(展位號:11號館B39),屆時將展示面向工業(yè)設(shè)備和汽車領(lǐng)域的、以世界先進(jìn)的SiC(碳化硅)元器件為核心的產(chǎn)品及電源解決方案。同時,羅姆工程師還將在現(xiàn)場舉辦的“SiC/GaN功率器件技術(shù)與應(yīng)用分析大會”以及“電動交通論壇”等同期論壇上發(fā)表演講,分享羅姆最新的碳化硅技術(shù)成果。展位效果圖羅姆擁有世界先進(jìn)的SiC為核心的功率元器件技術(shù),以及充分發(fā)揮其性能的控制IC和
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          了解熱阻在系統(tǒng)層級的影響

          • 在電阻方面,電流流動的原理可以比作熱從熱物體流向冷物體時遇到的阻力。每種材料及其接口都有一個熱阻,可以用這些數(shù)字來計算從源頭帶走熱的速率。在整合式裝置中,半導(dǎo)體接面是產(chǎn)生熱的來源,允許接面超過其最大操作溫度將導(dǎo)致嚴(yán)重故障。整合式裝置制造商雖使用一些技術(shù)來設(shè)計保護(hù)措施,以避免發(fā)生過熱關(guān)機(jī)等情況,但不可避免的是仍會造成損壞。一個更好的解決方案,就是在設(shè)計上選擇抑制 (或至少限制) 會造成接面溫度超過其操作最大值的情況。由于無法直接強(qiáng)制冷卻接面溫度,透過傳導(dǎo)來進(jìn)行散熱是確保不會超過溫度的唯一方法。工程師需要在這
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局設(shè)計

          • 討論了BUCK轉(zhuǎn)換器的開通回路、關(guān)斷回路的電流特性,具有高電流變化率di/dt的輸入回路,以及具有高的電壓變化率dV/dt的開關(guān)節(jié)點是其關(guān)鍵回路和關(guān)鍵 節(jié)點,使用盡可能小的環(huán)路,短粗布線,優(yōu)先對其進(jìn)行PCB布局。給出了多層板的信號分配原則,也給出了分立和集成的BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局技巧和一些實例,分析了它們的優(yōu)缺點。
          • 關(guān)鍵字: PCB布局  磁場干擾  電場干擾  MOSFET  202108  

          碳化硅邁入新時代 ST 25年研發(fā)突破技術(shù)挑戰(zhàn)

          • 1996年,ST開始與卡塔尼亞大學(xué)合作研發(fā)碳化硅(SiC),今天,SiC正在徹底改變電動汽車。為了慶祝ST研發(fā)SiC 25周年,我們決定探討 SiC在當(dāng)今半導(dǎo)體行業(yè)中所扮演的角色,ST的碳化硅研發(fā)是如何取得成功的,以及未來發(fā)展方向。Exawatt的一項研究指出,到2030年, 70%的乘用車將采用SiC MOSFET。這項技術(shù)也正在改變其他市場,例如,太陽能逆變器、儲能系統(tǒng)、服務(wù)器電源、充電站等。因此,了解SiC過去25年的發(fā)展歷程是極其重要的,對今天和明天的工程師大有裨益。碳化硅:半導(dǎo)體行業(yè)如何克服技術(shù)
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          Maxim Integrated發(fā)布來自Trinamic子品牌的3相MOSFET柵極驅(qū)動器,可最大程度地延長電池壽命并將元件數(shù)量減半

          • TRINAMIC Motion Control GmbH & Co. KG (Maxim Integrated Products, Inc子公司)近日宣布推出完全集成的TMC6140-LA ?3相MOSFET柵極驅(qū)動器,有效簡化無刷直流(DC)電機(jī)驅(qū)動設(shè)計,并最大程度地延長電池壽命。TMC6140-LA 3相MOSFET柵極驅(qū)動器為每相集成了低邊檢流放大器,構(gòu)成完備的電機(jī)驅(qū)動方案;與同類產(chǎn)品相比元件數(shù)量減半,且電源效率提高30%,大幅簡化設(shè)計。TMC6140-LA針對較寬的電壓范圍進(jìn)行性
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          電動汽車用SiC和傳統(tǒng)硅功率元器件都在經(jīng)歷技術(shù)變革

          • 近年來,在全球“創(chuàng)建無碳社會”和“碳中和”等減少環(huán)境負(fù)荷的努力中,電動汽車(xEV)得以日益普及。為了進(jìn)一步提高系統(tǒng)的效率,對各種車載設(shè)備的逆變器和轉(zhuǎn)換器電路中使用的功率半導(dǎo)體也提出了多樣化需求,超低損耗的SiC 功率元器件(SiC MOSFET、SiC SBD等)和傳統(tǒng)的硅功率元器件(IGBT、SJ-MOSFET 等)都在經(jīng)歷技術(shù)變革。在OBC(車載充電機(jī))方面,羅姆以功率器件、模擬IC 以及標(biāo)準(zhǔn)品這三大產(chǎn)品群進(jìn)行提案。羅姆半導(dǎo)體(上海)有限公司 技術(shù)中心 副總經(jīng)理 周勁1? ?Si
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  202108  

          功率因素校正電路旁路二極管的作用

          • 本文總結(jié)了功率因素校正電路加旁路二極管作用的幾種不同解釋:減少主二極管的浪涌電流;提高系統(tǒng)抗雷擊的能力;減少開機(jī)瞬間系統(tǒng)的峰值電流,防止電感飽和損壞功率MOSFET。具體分析了輸入交流掉電系統(tǒng)重起動,導(dǎo)致功率MOSFET驅(qū)動電壓降低、其進(jìn)入線性區(qū)而發(fā)生損壞,才是增加旁路二極管最重要、最根本的原因。給出了在這種模式下,功率MOSFET發(fā)生損壞的波形和失效形態(tài),同時給出了避免發(fā)生這種損壞的幾個措施。
          • 關(guān)鍵字: 功率因素校正  旁路二極管  線性區(qū)  欠壓保護(hù)  202103  MOSFET  

          簡易直流電子負(fù)載的設(shè)計與實現(xiàn)*

          • 隨著電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)負(fù)載測試電源性能的方法在高科技產(chǎn)品的生產(chǎn)中逐漸暴露出許多的不足之處。為了解決采用傳統(tǒng)負(fù)載測試方法存在功耗較大、效率與調(diào)節(jié)精度低、體積大等問題,設(shè)計并制作一款適合隨頻率、時間變化而發(fā)生改變的被測電源的簡潔、實用、方便的直流電子負(fù)載。系統(tǒng)主要由STC12C5A60S2單片機(jī)主控、增強(qiáng)型N溝道場效應(yīng)管IRF3205功率管、矩陣按鍵、D/A和A/D電路等部分組成。實現(xiàn)了在一定電壓與電流范圍內(nèi)恒壓恒流任意可調(diào),并通過LCD12864液晶顯示屏顯示被測電源的電壓值、電流值及相應(yīng)的設(shè)定值
          • 關(guān)鍵字: STC12C5A60S2單片機(jī)  恒流恒壓  IRF3205  負(fù)載調(diào)整率  202105  MOSFET  

          適用于熱插拔的Nexperia新款特定應(yīng)用MOSFET

          • 新推出的80 V和100 V器件最大限度降低額定值,并改善均流,從而提供最佳性能、高可靠性并降低系統(tǒng)成本?;A(chǔ)半導(dǎo)體器件領(lǐng)域的專家Nexperia今日宣布推出新款80 V和100 V ASFET,新器件增強(qiáng)了SOA性能,適用于5G電信系統(tǒng)和48 V服務(wù)器環(huán)境中的熱插拔與軟啟動應(yīng)用以及需要e-fuse和電池保護(hù)的工業(yè)設(shè)備。 ASFET是一種新型MOSFET,經(jīng)過優(yōu)化,可用于特定應(yīng)用場景。通過專注于對某一應(yīng)用至關(guān)重要的特定參數(shù),有時需要犧牲相同設(shè)計中其他較不重要的參數(shù),以實現(xiàn)全新性能水平。新款熱插拔ASFET
          • 關(guān)鍵字: Nexperia  MOSFET  

          瑞能半導(dǎo)體舉行CEO媒體溝通會

          • 近日,瑞能半導(dǎo)體CEO Markus Mosen(以下簡稱Markus)的媒體溝通會在上海靜安洲際酒店舉行,瑞能半導(dǎo)體全球市場總監(jiān)Brian Xie同時出席本次媒體溝通會。溝通會上首先回顧了瑞能半導(dǎo)體自2015年從恩智浦分離出后,從全新的品牌晉升為如今的知名國際品牌的過程中,在六年內(nèi)保持的相當(dāng)規(guī)模的成長,并取得的驕人成績;結(jié)合瑞能半導(dǎo)體近期推出的第六代碳化硅二極管、碳化硅MOSFET、IGBT、TVS/ESD等多種系列產(chǎn)品,明確了在碳化硅器件行業(yè)內(nèi)的領(lǐng)先地位;在分享后續(xù)發(fā)展策略的同時,強(qiáng)調(diào)了瑞能半導(dǎo)體未來
          • 關(guān)鍵字: MOSFET  

          基本半導(dǎo)體——第三代半導(dǎo)體前景無限

          • 相比于數(shù)字半導(dǎo)體,我國在模擬與功率半導(dǎo)體的差距要更大一些,因為功率器件不僅僅是產(chǎn)品設(shè)計的問題,還涉及到材料等多個技術(shù)環(huán)節(jié)的突破。其中第三代功率器件也是我們重點迎頭趕上的領(lǐng)域之一。作為國內(nèi)第三代半導(dǎo)體領(lǐng)軍企業(yè),基本半導(dǎo)體技術(shù)營銷副總監(jiān)劉誠表示,公司致力于碳化硅功率器件的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化,核心產(chǎn)品包括碳化硅肖特基二極管、碳化MOSFET和車規(guī)級全碳化硅功率模塊等,基本半導(dǎo)體碳化硅功率器件產(chǎn)品性能處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。新能源汽車是碳化硅功率器件最為重要的應(yīng)用領(lǐng)域,市場潛力大,也是基本半導(dǎo)體要重點發(fā)力的市場。站在劉誠的角
          • 關(guān)鍵字: 基本半導(dǎo)體  MOSFET  中國芯  

          變頻電源開關(guān)芯片炸裂的失效分析與可靠性研究

          • 隨著科技的發(fā)展,電器設(shè)備使用越來越廣泛,功能越來越強(qiáng)大,體積也越來越小,對電源模塊的要求不斷增加。開關(guān)電源具有效率高、成本低及體積小的特點,在電氣設(shè)備中獲得了廣泛的應(yīng)用。經(jīng)分析,開關(guān)電源電路多個器件失效主要是電路中高壓瓷片電容可靠性差,導(dǎo)致開關(guān)芯片失效。本文通過增加瓷片電容材料的厚度提高其耐壓性能和其他性能,使產(chǎn)品各項性能有效提高,滿足電路設(shè)計需求,減少售后失效。
          • 關(guān)鍵字: 開關(guān)電源  高壓瓷片電容  芯片  耐壓提升  可靠性  202105  MOSFET  
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