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ni connect 文章 進(jìn)入ni connect技術(shù)社區(qū)
NI攜手RIGOL和北京信息科技大學(xué)共同開(kāi)發(fā)電路實(shí)驗(yàn)教程
- 近日，在北京信息科技大學(xué)，美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)與北京普源精電科技有限公司(簡(jiǎn)稱RIGOL)一起對(duì)外發(fā)布其全新開(kāi)發(fā)的電子電路實(shí)驗(yàn)教程。北信科大電子信息與控制國(guó)家級(jí)實(shí)驗(yàn)教學(xué)示范中心常務(wù)副主任高晶敏、RIGOL副總裁兼市場(chǎng)部總經(jīng)理邢飛、NI中國(guó)市場(chǎng)部經(jīng)理徐赟出席了該發(fā)布會(huì)。并分別就校企合作、課件開(kāi)發(fā)的相關(guān)情況和內(nèi)容做了闡述。之后三方共同為此課程揭牌，標(biāo)志著此課程正式投入使用。
- 關(guān)鍵字： NI RIGOL 虛擬儀器
NI發(fā)布全新PXI機(jī)箱拓展領(lǐng)先地位
- 新聞要點(diǎn) The NI PXIe-1066DC機(jī)箱基于PXI出眾的系統(tǒng)生命周期和靈活性，是已部署、嚴(yán)格任務(wù)級(jí)應(yīng)用的理想選擇。 在全新的機(jī)箱中，NI為PXI平臺(tái)系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能，顯著增加了系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間。
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)試 PXI PXIe-1066DC
NI拜訪國(guó)家能源智能電網(wǎng)（上海）研發(fā)中心
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)副總裁Owen Golden和全球能源部技術(shù)經(jīng)理Roberto Piacentini于近期拜訪了位于上海交通大學(xué)的國(guó)家能源智能電網(wǎng)(上海)研發(fā)中心，與嚴(yán)正、唐厚君、李國(guó)杰等教授和馮冬涵副教授就智能電網(wǎng)中心的前沿研究領(lǐng)域，以及NI從事于相關(guān)領(lǐng)域的研發(fā)方向、雙方的合作空間進(jìn)行了探討。
- 關(guān)鍵字： NI 智能電網(wǎng)
NI發(fā)布全新SC Express PXI傳感器測(cè)量RTD模塊
- 電阻溫度探測(cè)器(RTD)模塊進(jìn)一步擴(kuò)展了測(cè)量性能，能夠提供更高的溫度精度。 工程師可使用NI SC Express 產(chǎn)品家族中的NI PXIe-4357 RTD模塊，PXI以及LabVIEW實(shí)時(shí)模塊來(lái)創(chuàng)建穩(wěn)定的傳感器測(cè)量系統(tǒng)，其通道數(shù)可從十?dāng)U展至數(shù)千 SC Express將數(shù)據(jù)采集與信號(hào)調(diào)理集成在一個(gè)PXI模塊中，從而實(shí)現(xiàn)高性能、穩(wěn)定的傳感器測(cè)量，以及速度和精度的優(yōu)化
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)量 SC Express
基于NI PXI平臺(tái)的電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
- 挑戰(zhàn): 使用最新的商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)，設(shè)計(jì)和部署靈活、可擴(kuò)展的模塊化電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)?！ 〗鉀Q方案: 使 ...
- 關(guān)鍵字： NI PXI 電子戰(zhàn) 模擬系統(tǒng)
NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》
- 新聞要點(diǎn) · 該趨勢(shì)展望報(bào)告探討了影響當(dāng)前和未來(lái)的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O。 · 經(jīng)過(guò)多年的自動(dòng)化測(cè)試，NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識(shí)和第三方研究中吸取經(jīng)驗(yàn)，并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見(jiàn)解。 · 報(bào)告中著重介紹了新興的移動(dòng)設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu)，公司機(jī)構(gòu)如何通過(guò)建立測(cè)試組織來(lái)奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢(shì)。
- 關(guān)鍵字： NI 自動(dòng)化測(cè)試
美國(guó)國(guó)家儀器加入TD技術(shù)論壇
- 為了加速虛擬儀器技術(shù)在移動(dòng)通信測(cè)試領(lǐng)域的本地化推進(jìn)， NI中國(guó)于2012年4月加入TD技術(shù)論壇。 自從1998年，NI 在上海成立了海外第一個(gè)研發(fā)中心，NI 中國(guó)初見(jiàn)雛形以來(lái)， NI一直非常注重中國(guó)本地化的發(fā)展， 并且積極參與本地行業(yè)組織與協(xié)會(huì)的合作。 特別是在移動(dòng)通信領(lǐng)域， NI一直不斷投入研發(fā)資源以支持最新的協(xié)議與標(biāo)準(zhǔn)， 包括TD-LTE。
- 關(guān)鍵字： NI TD-LTE
美國(guó)國(guó)家儀器發(fā)布3U PXI Express嵌入式控制器
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布了NI PXIe-8115高性能嵌入式控制器，配備了最新的Intel?第二代 Core? i5雙核處理器，能夠縮短測(cè)試時(shí)間，是多核應(yīng)用程序的理想選擇。 NI PXIe-8115控制器具有多種外設(shè)I / O端口以及6個(gè)行業(yè)領(lǐng)先的USB 2.0端口。 這些板載外設(shè)端口最大限度地減少了外部適配器的個(gè)數(shù)，幫助工程師搭建符合成本效益的混合系統(tǒng)。 NI PXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)診斷功能能夠判定控制器的健康狀況
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW PXIe-8115
LabVIEW天下會(huì)廣召天下英雄
- LabVIEW天下會(huì)是一年一度由NI和中國(guó)第一個(gè)圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì) (GSD，Graphical System Design) 門(mén)戶網(wǎng)站GSDzone聯(lián)合主辦，提供交流分享LabVIEW應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)與切磋編程技術(shù)的LabVIEW年度盛會(huì)。今年4月，第三屆LabVIEW天下會(huì)的戰(zhàn)鼓再次敲響。前兩屆LabVIEW天下會(huì)，報(bào)名來(lái)自全球華人超過(guò)700人，聚集了國(guó)內(nèi)重點(diǎn)高校和工業(yè)領(lǐng)域頂尖編程人才。與前兩屆比賽相比，本屆組委會(huì)方面會(huì)投入更多精力策劃，將再次云集更多中國(guó)大陸地區(qū)和臺(tái)灣地區(qū)的LabVIEW高手，希望能將此次比賽辦
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW
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