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NI無(wú)線通信實(shí)踐動(dòng)手課程實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字： NI 無(wú)線通信實(shí)驗(yàn)室動(dòng)手實(shí)踐課程

由于以 NI-DAQmx 作為核心驅(qū)動(dòng)程序進(jìn)行 NI PXI-4472 模塊的程序設(shè)計(jì)，可降低成本并達(dá)到高通道數(shù)，因此我們針對(duì)自己的 noiseLAB 軟件使用 LabVIEW 開(kāi)發(fā)環(huán)境。- Carsten Thomsen, DELTA 挑戰(zhàn)：在循國(guó)際電工委員會(huì) (I
關(guān)鍵字： DELTA NI 平臺(tái)開(kāi)發(fā) 量測(cè)系統(tǒng)

　　新聞發(fā)布——2012年7月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于7月19日在哈爾濱成功舉辦了第八屆NI高校教師交流會(huì)(Professor Day 2012) 。會(huì)議圍繞“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力創(chuàng)新型工程教學(xué)與高效率院?？蒲?rdquo;這一主題，共吸引了來(lái)自全國(guó)22個(gè)省/直轄市、110所高校的244余名教師共赴這場(chǎng)年度最新技術(shù)和成果展示交流盛會(huì)。　　　　在今年的主題演講中,
關(guān)鍵字： NI LabVIEW 圖形化系統(tǒng)

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于7月19日在哈爾濱成功舉辦了第八屆NI高校教師交流會(huì)(Professor Day 2012) 。會(huì)議圍繞“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力創(chuàng)新型工程教學(xué)與高效率院校科研”這一主題，共吸引了來(lái)自全國(guó)22個(gè)省/直轄市、110所高校的244余名教師共赴這場(chǎng)年度最新技術(shù)和成果展示交流盛會(huì)。
關(guān)鍵字： NI LabVIEW

新聞要點(diǎn): AWR設(shè)計(jì)環(huán)境? 中的新NI LabVIEW元素為AWR視覺(jué)系統(tǒng)模擬器?(VSS)的用戶擴(kuò)充了信號(hào)處理和儀器連接。 NI于6月19-21日，在加拿大蒙特利爾舉行的國(guó)際微波研討會(huì)(IMS)1315號(hào)展位上，展示其最新的連接。
關(guān)鍵字： NI AWR LabVIEW

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布了一款新型無(wú)線網(wǎng)關(guān)和兩款新型測(cè)量節(jié)點(diǎn)，進(jìn)一步擴(kuò)展了NI 無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)平臺(tái)的性能，證實(shí)了NI在推動(dòng)無(wú)線測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展上所作出的承諾。
關(guān)鍵字： NI 無(wú)線測(cè)控

時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中，一家國(guó)際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái)，為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事：一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
關(guān)鍵字： Labview PXI NI James Truchard 孫基康

行業(yè)趨勢(shì)：當(dāng)今市場(chǎng)上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以...
關(guān)鍵字： LabVIEW 自動(dòng)化測(cè)試 NI TestStand

　　軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況，即雇傭的軟件工程師比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開(kāi)發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的縮短，當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧，以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上， 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試

當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器，所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高，無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試系統(tǒng) DUT

軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。
關(guān)鍵字： NI 系統(tǒng)軟件棧

構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案，滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。
關(guān)鍵字： NI ST-Ericsson

我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
關(guān)鍵字： NI LCD PXI

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級(jí)嵌入式設(shè)備，配備了實(shí)時(shí)處理器、Spartan-6現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè)，可用于實(shí)現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應(yīng)用。
關(guān)鍵字： NI 嵌入式處理器