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針對(duì)SMD晶體器件檢測(cè)的機(jī)器視覺系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
- SMD(晶體諧振器)晶體器件檢測(cè)是在晶體器件生產(chǎn)流程中一道至關(guān)重要的工序，晶體器件的所有電性能指標(biāo)經(jīng)過該道工序的檢測(cè)后，合格品即可包裝出廠。由于其是最后一道檢測(cè)工序，因此其檢測(cè)的正確率直接影響到出廠產(chǎn)品的品質(zhì)。一般來說，在批量生產(chǎn)中同一批次的產(chǎn)品中誤測(cè)率必須小于2ppm，即一百萬個(gè)出廠產(chǎn)品中，不能出現(xiàn)2個(gè)不合格品，否則購買該批次產(chǎn)品的用戶就會(huì)要求退貨。而對(duì)于出口產(chǎn)品，用戶的要求則會(huì)更加嚴(yán)格，除了要求電性能指標(biāo)要符合要求外，印制在SMD器件外殼上的標(biāo)記的方向也必須保持一致。因此，為了提高產(chǎn)品的出廠品質(zhì)，除了
- 關(guān)鍵字： SMD 晶體 201107
PTC熱敏電阻-馬達(dá)啟動(dòng)
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