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基于FPGA的VXI總線寄存器基模塊接口電路設(shè)計(jì)(06-100)

　　引言　　VXI總線技術(shù)經(jīng)過十幾年的發(fā)展，以其開放的系統(tǒng)環(huán)境,模塊化的設(shè)計(jì)，緊湊的機(jī)械結(jié)構(gòu),良好的電磁兼容性及可靠性，小型便攜和靈活的通信能力等一系列優(yōu)點(diǎn)滿足了工業(yè)領(lǐng)域?qū)y試與測量的需求。如今，VXI總線作為新一代的測試與測量總線已經(jīng)毋庸置疑，而研制基于VXI總線的測試與測量儀器也成為當(dāng)務(wù)之急，近幾年各種類型的VXI總線器件相繼推出，VXI總線器件主要分為：寄存器基模塊、消息基模塊、存儲器基模塊和擴(kuò)展器器件四種。目前寄存器基器件在應(yīng)用中所占比例最大(約占70%)，其實(shí)現(xiàn)方法在遵守VME協(xié)議規(guī)范的前提
關(guān)鍵字： FPGA VXI

　　引言　　測試是成本中應(yīng)避免的支出。移動電話的生產(chǎn)測試成本可能會占項(xiàng)目總成本較大的一部分。在移動電話測試中，決定其參數(shù)和功能測試的程度是相當(dāng)復(fù)雜的，必須對生產(chǎn)線變化以及在測試過程和設(shè)計(jì)成熟時(shí)加以評估。以調(diào)試為目的進(jìn)行的測試與其它測試略有差別，調(diào)試在生產(chǎn)過程中是重要的增值步驟，而不單只是驗(yàn)證過程。調(diào)試的需求直接與器件的設(shè)計(jì)相關(guān)，在此階段采用PXI模塊儀器有助于改進(jìn)生產(chǎn)率和降低對功能測試的要求。　　生產(chǎn)測試過程　　印刷電路板(PCB)生產(chǎn)和手機(jī)生產(chǎn)是兩個(gè)分開的制程。測試過程是從PCB生產(chǎn)線已裝滿
關(guān)鍵字：模塊儀器 VXI PXI 移動電話

　前言　　磁約束核聚變已在常規(guī)(非超導(dǎo))托卡馬克裝置上取得了突破性的進(jìn)展，其科學(xué)可行性已得到證實(shí)。各國正在競相建造或計(jì)劃建造大型超導(dǎo)托卡馬克聚變實(shí)驗(yàn)裝置。非圓截面超導(dǎo)托卡馬克將成為未來穩(wěn)態(tài)、安全、高效運(yùn)行的托卡馬克聚變反應(yīng)堆提供寶貴的物理及工程技術(shù)基礎(chǔ)。　　　　1994年底，等離子體物理所成功地改建成我國第一臺超導(dǎo)托卡馬克裝置HT-7及其附屬系統(tǒng)，并于1995年初進(jìn)行了首次放電實(shí)驗(yàn)。HT-7的建成使我國成為繼法國、日本、俄羅斯之后世界上第四個(gè)擁有超導(dǎo)托卡馬克裝置的國家，為我國核聚變研究走向
關(guān)鍵字： VXI

摘要：本文介紹了調(diào)用VISA函數(shù)來實(shí)現(xiàn)動態(tài)鏈接庫的設(shè)計(jì)，提出軟件設(shè)計(jì)的整體框架和實(shí)現(xiàn)方案。動態(tài)鏈接庫的設(shè)計(jì)包括三個(gè)部分：初始化通信環(huán)境、傳送數(shù)據(jù)和事件回調(diào)函數(shù)的設(shè)計(jì)。通過這種方法，實(shí)現(xiàn)了在Windows環(huán)境下通過調(diào)用動態(tài)鏈接庫完成同一個(gè)VXI機(jī)箱內(nèi)安裝在不同槽位的嵌入式計(jì)算機(jī)之間的數(shù)據(jù)傳遞。關(guān)鍵詞：VXI ；VISA函數(shù)；動態(tài)鏈接庫引言在VXI系統(tǒng)中，控制器可以選用各種流行的控制機(jī)和操作系統(tǒng)。嵌入式控制機(jī)無疑是一種很好的選擇。但在一些由VXI組成的大型、復(fù)雜系統(tǒng)中
關(guān)鍵字： VISA函數(shù) VXI 動態(tài)鏈接庫

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