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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> x射線(xiàn)

          Viscom擴(kuò)大手動(dòng)X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)的全球銷(xiāo)售

          • 自今年四月份以來(lái),Christian Wolff一直負(fù)責(zé)漢諾威Viscom AG手動(dòng)和半自動(dòng)X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)的技術(shù)銷(xiāo)售工作。在加盟Viscom之前,他任職于一家全球性系統(tǒng)制造商,負(fù)責(zé)該公司的國(guó)內(nèi)外銷(xiāo)售工作。
          • 關(guān)鍵字: Viscom  檢測(cè)系統(tǒng)  X射線(xiàn)  

          利用多晶X射線(xiàn)衍射實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)在線(xiàn)測(cè)量

          • 利用成熟的分析探測(cè)儀器作為日常的線(xiàn)上監(jiān)測(cè)工具已經(jīng)成為半導(dǎo)體量測(cè)方法一個(gè)重大的發(fā)展趨勢(shì)。掃描電子顯微鏡(SEM)和X射線(xiàn)熒光譜線(xiàn)(XRF)是兩個(gè)最好的例子,如電子微探針等技術(shù)還在研究之中。這種趨勢(shì)的主要推動(dòng)力是
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  衍射  半導(dǎo)體  在線(xiàn)測(cè)量    

          如何認(rèn)識(shí)磁粉檢測(cè)在容器檢驗(yàn)中的作用

          • 摘要分析對(duì)比了X射線(xiàn)檢驗(yàn)與磁粉檢驗(yàn)的檢測(cè)范圍及優(yōu)缺點(diǎn),舉例說(shuō)明磁粉檢驗(yàn)?zāi)馨l(fā)現(xiàn)X射線(xiàn)檢驗(yàn)沒(méi)有發(fā)現(xiàn)的缺陷,...
          • 關(guān)鍵字: 磁粉檢測(cè)  容器檢驗(yàn)  X射線(xiàn)  

          FDA發(fā)出警告CT使用的X射線(xiàn)造成器械故障

          • FDA發(fā)出警告CT使用的X射線(xiàn)造成器械故障,美國(guó)食品藥品監(jiān)督管理局7月14日發(fā)出警告:CT檢查中使用的X射線(xiàn)可能造成某些植入或體外電子醫(yī)療器械故障。這一警告是FDA的醫(yī)療器械與放射衛(wèi)生中心主任Daniel Schultz博士在一封信中公布的,他說(shuō):FDA已經(jīng)接到了數(shù)個(gè)CT
          • 關(guān)鍵字: FDA  X射線(xiàn)    

          X射線(xiàn):醫(yī)療/牙科設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)

          • X射線(xiàn):醫(yī)療/牙科設(shè)計(jì)注意事項(xiàng),X 射線(xiàn)數(shù)字化成像正在為放射診斷學(xué)帶來(lái)變革。在傳統(tǒng)的 X 射線(xiàn)系統(tǒng)中,每個(gè)組件中的信號(hào)衰退都會(huì)消耗大于 60% 的原始 X 射線(xiàn)信號(hào)能量。在系統(tǒng)的每一級(jí),X 射線(xiàn)信號(hào)都將衰退一定的量,即使是為應(yīng)用專(zhuān)門(mén)優(yōu)化的獨(dú)立組件也
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  注意事項(xiàng)    

          X射線(xiàn)等三種醫(yī)療數(shù)字成像設(shè)備原理解析

          • X射線(xiàn)等三種醫(yī)療數(shù)字成像設(shè)備原理解析,21世紀(jì)數(shù)字成像技術(shù)的出現(xiàn)給我們帶來(lái)優(yōu)異的診斷功能、圖像存檔以及隨時(shí)隨地的檢索功能。自20世紀(jì)70年代早期醫(yī)學(xué)成像數(shù)字技術(shù)出現(xiàn)以來(lái),數(shù)字成像的重要性得以日益彰顯。半導(dǎo)體器件中混合信號(hào)設(shè)計(jì)能力方面的一些新進(jìn)展
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  數(shù)字成像  設(shè)備  原理    

          X射線(xiàn)光電子能譜分析

          • X射線(xiàn)光電子能譜分析X射線(xiàn)光電子能譜法(X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS)在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的 ...
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  光電子  能譜分析  

          微聚焦X射線(xiàn):應(yīng)用優(yōu)勢(shì)明顯 國(guó)產(chǎn)設(shè)備打破壟斷

          •   X射線(xiàn)技術(shù)是一項(xiàng)成熟的老技術(shù),從1895年德國(guó)物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線(xiàn)(又稱(chēng)倫琴射線(xiàn))起,對(duì)于X射線(xiàn)的研究與應(yīng)用已經(jīng)歷了100多年的時(shí)間。但截至目前,對(duì)于X射線(xiàn)最主要的應(yīng)用大都集中在工業(yè)探傷與檢測(cè)上,其次是醫(yī)療檢查和安全檢驗(yàn)方面。電子行業(yè)及半導(dǎo)體領(lǐng)域的微檢測(cè)成像,是一項(xiàng)新興的X光應(yīng)用技術(shù),它對(duì)X光發(fā)生器提出更高的要求,并高度集成了多項(xiàng)工業(yè)自動(dòng)控制軟硬件新技術(shù),結(jié)合半導(dǎo)體及電子封裝工藝特點(diǎn),把 X射線(xiàn)的應(yīng)用延伸到一個(gè)更高的應(yīng)用領(lǐng)域。它可以解決半導(dǎo)體生產(chǎn)研發(fā)中的基片、晶元質(zhì)量判定問(wèn)題,可以檢測(cè)COB(板上芯
          • 關(guān)鍵字: 半導(dǎo)體制造  封裝  CSP芯片  X射線(xiàn)  

          醫(yī)用X射線(xiàn)設(shè)備的發(fā)展簡(jiǎn)史

          • 自1895年以來(lái),X射線(xiàn)診斷與治療技術(shù)有了飛速的發(fā)展,主要進(jìn)展可分為以下幾個(gè)階段: (一)離子X(jué)射線(xiàn)管階段(1895~1912) 這是X射線(xiàn)設(shè)備的早期階段。當(dāng)時(shí)X射線(xiàn)機(jī)的結(jié)構(gòu)非常簡(jiǎn)單,使用效率很低的含氣式冷陰極離子X(jué)射線(xiàn)管,
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  設(shè)備  發(fā)展    

          X射線(xiàn)在醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用

          • (一)X射線(xiàn)診斷 X射線(xiàn)應(yīng)用于醫(yī)學(xué)診斷,主要依據(jù)X射線(xiàn)的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由于X射線(xiàn)穿過(guò)人體時(shí),受到不同程度的吸收,如骨骼吸收的X射線(xiàn)量比肌肉吸收的量要多,那么通過(guò)人體后的X射線(xiàn)量就不一樣
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  中的應(yīng)用    

          X射線(xiàn)數(shù)字化成像為牙科解決方案帶來(lái)變革(二)

          • 在傳統(tǒng)的X射線(xiàn)系統(tǒng)中,每個(gè)組件中的信號(hào)衰退都會(huì)消耗大于60%的原始X射線(xiàn)信號(hào)能量。因此,一般僅有少于40%的原始 ...
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  ECG信號(hào)  ADC  MCU  

          X射線(xiàn)數(shù)字化成像為牙科解決方案帶來(lái)變革(一)

          • 在傳統(tǒng)的X射線(xiàn)系統(tǒng)中,每個(gè)組件中的信號(hào)衰退都會(huì)消耗大于60%的原始X射線(xiàn)信號(hào)能量。因此,一般僅有少于40%的原始 ...
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  CCD  直接轉(zhuǎn)換  ADC  MCU  

          應(yīng)用X射線(xiàn)檢測(cè)PCB板

          •   大多數(shù)測(cè)試工程師都了解X射線(xiàn)檢查系統(tǒng)可以檢查隱藏在元件下面的焊點(diǎn),或檢查其它技術(shù)難以檢測(cè)出來(lái)的微小焊點(diǎn)。但是,他們可能不了解X射線(xiàn)成像技術(shù)有不同的檢查方式,2D發(fā)射設(shè)備會(huì)顯示X射線(xiàn)路徑上的一切物體,而3D系統(tǒng)可以消除來(lái)自雙面電路板上元件的視覺(jué)干擾。盡管2D X射線(xiàn)系統(tǒng)目前還在應(yīng)用,但3D系統(tǒng)卻是高密度雙面電路板檢查的主流檢查設(shè)備。   兩家著名的PCB測(cè)試設(shè)備制造商為電子行業(yè)生產(chǎn)3D X射線(xiàn)檢查系統(tǒng),即安捷倫和泰瑞達(dá)。目前,安捷倫科技的5DX系列在市場(chǎng)上占據(jù)優(yōu)勢(shì),而泰瑞達(dá)的ClearVue系統(tǒng)卻是步
          • 關(guān)鍵字: X射線(xiàn)  PCB板  

          便攜式數(shù)字X射線(xiàn)光錐耦合CCD成像系統(tǒng)研究

          •   引 言   數(shù)字X射線(xiàn)成像系統(tǒng)以其在圖像獲取顯示存儲(chǔ)和傳輸?shù)确矫娴膬?yōu)勢(shì)被廣泛地應(yīng)用于醫(yī)學(xué)影像和工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。這種傳統(tǒng)的醫(yī)用影像和工業(yè)無(wú)損檢測(cè)的X射線(xiàn)成像系統(tǒng)一般具有較大的工作面積,但其圖像分辨力不高,一般不超過(guò)31pixel/mm;而在實(shí)際應(yīng)用中,一些觀察和分析微小部件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的工作,如,集成電路的檢查、材料與元器件的無(wú)損檢測(cè)以及微小零件的探傷等,這些實(shí)際應(yīng)用并不要求有很大的工作面積,卻要求有較高的圖像清晰度,另外,運(yùn)動(dòng)員、部隊(duì)以及野外作業(yè)人員遇到傷害時(shí)的及時(shí)診斷,這項(xiàng)工作要求給受傷病人進(jìn)行及時(shí)
          • 關(guān)鍵字: 消費(fèi)電子  X射線(xiàn)  CCD成像系統(tǒng)  音視頻技術(shù)  

          用于通用X射線(xiàn)應(yīng)用的晶圓級(jí)有源像素CMOS圖像傳感器

          • 摘要: 本文以使用標(biāo)準(zhǔn)CMOS技術(shù)和有源像素架構(gòu)的CMOS有源像素傳感器為研究對(duì)象。該傳感器專(zhuān)為X射線(xiàn)成像系統(tǒng)而設(shè)計(jì),具有噪聲低和感光度高等特點(diǎn)。這種傳感器已使用標(biāo)準(zhǔn)0.35μm技術(shù)和8″晶圓得到生產(chǎn)。傳感器分辨率為每40 x 40μm2 面積3360 x 3348像素。其對(duì)角長(zhǎng)度略大于190mm。本文對(duì)傳感器的圖紙?jiān)O(shè)計(jì)、拼接圖和已得到開(kāi)發(fā)的電子光學(xué)性能進(jìn)行了論述。       &nbs
          • 關(guān)鍵字: CMOS  X射線(xiàn)  電源技術(shù)  晶圓級(jí)  模擬技術(shù)  圖像傳感器  有源像素  其他IC  制程  設(shè)備診斷類(lèi)  
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          x射線(xiàn)介紹

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