小尺寸集成電路CDM測試
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摘要：本文將探討小器件CDM測試的難處，并提出一些已經(jīng)嘗試用于使用場致CDM測試方法改善小器件可測試性的構(gòu)想。
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/115740.htm簡介
集成電路(IC)的靜電放電(ESD)強(qiáng)固性可藉多種測試來區(qū)分。最普遍的測試類型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。這兩種ESD測試類型旨在揭示包含基本ESD控制的制造環(huán)境下，電路在ESD應(yīng)力下的存續(xù)情況如何。HBM是應(yīng)用最久的ESD測試，但工廠ESD控制專家普遍認(rèn)為，在現(xiàn)代高度自動(dòng)化的組裝運(yùn)營中，CDM是更重要的ESD測試。CDM應(yīng)力的大小會(huì)隨著器件的尺寸而變化。有關(guān)CDM的“傳統(tǒng)智慧”更認(rèn)為不需要測試尺寸極小的集成電路，因?yàn)榉逯惦娏骺?/p>
小尺寸集成電路CDM測試
IC CDM Test for Small Devices Robert Ashton 安森美半導(dǎo)體，Marty Johnson 國家儀器，Scott Ward 德州儀器 速變小直至消失。我們在此前的文章中曾指出，極小器件的峰值電流并不像通常認(rèn)為的那樣快速變小直至消失。高速示波器測量顯示，即使脈沖寬度變得很窄，極小器件的峰值電流仍令人吃驚地保持高電平。過去，由于這些大峰值電流被忽略，因?yàn)槭褂昧藞鲋翪DM測試標(biāo)準(zhǔn)所提倡的1 GHz示波器，而場致CDM測試 是最普及的CDM測試形式。
測試小器件時(shí)面臨的問題
觀測到極小集成電路超出預(yù)料的峰值電流，對負(fù)責(zé)測試極小器件(尺寸僅為較小的個(gè)位數(shù)毫米等級)的ESD測試工程師而言可不是什么好消息。圖1顯示了置于場致CDM測試裝置上的8球柵(ball)芯片級封裝。必須接觸每個(gè)被測引腳的探針(的尺寸)占到整個(gè)集成電路尺寸的不小比例。顯而易見，移動(dòng)被測器件并不需要太多的探針接觸;只是要求反復(fù)調(diào)整器件的位置。
在場致CDM測試期間，按慣例要使用真空來固持(hold)被測器件(DUT)的位置。真空通常不能非常安全地固持極小的器件。此外，真空孔(的截面積)占到被測器件尺寸的不小比例，可能會(huì)影響器件應(yīng)力。當(dāng)真空孔尺寸超過被測器件面積的18%時(shí)，應(yīng)力的大小就開始下降。圖2比較了置于真空孔與不置于真空孔上 的器件在峰值電流或完整電荷(total charge)條件下測量得到的應(yīng)力大小。
在CDM測試期間使用真空來固持器件，由此帶來兩個(gè)問題。首先，它不起作用，即便起作用，也會(huì)開始影響測試結(jié)果。業(yè)界已經(jīng)嘗試使用兩種方法來改善小器件的可測試性——將小封裝貼在某類夾具(holder)上，或以支撐結(jié)構(gòu)或模板來固持器件的位置。
使用夾具固持小器件
已經(jīng)在三種條件下使用6 μSMD 裸片來進(jìn)行CDM測試：僅器件本身、器件貼裝在14DIP轉(zhuǎn)換板上，以及在36LLP替代板(Surrogate Board)上，如圖3所示。圖4顯示了這三種條件下以500 V電壓采用8 GHz示波器所獲得的CDM測試波形。這些結(jié)果顯示，貼裝在電路板上會(huì)增加施加給集成電路的應(yīng)力。36LLP替代板上應(yīng)力的增加頗為適度，可以視為易于操作性與更可靠測試結(jié)果之間的最佳折衷。貼裝在14DIP轉(zhuǎn)換板上的應(yīng)力增加更為嚴(yán)重，大概不是一個(gè)可接受的折衷辦法。好消息是36LLP替代板實(shí)際上比測試期間會(huì)移動(dòng)的14DIP轉(zhuǎn)換板更易于操作。
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