基于ARM+FPGA的重構(gòu)控制器設(shè)計(jì)
可重構(gòu)技術(shù)是指利用可重用的軟硬件資源,根據(jù)不同的應(yīng)用需求,靈活地改變自身體系結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)方法。常規(guī)SRAM工藝的FPGA都可以實(shí)現(xiàn)重構(gòu),利用硬件復(fù)用原理,本文設(shè)計(jì)的可重構(gòu)控制器采用ARM核微控制器作為主控制器,以FPGA芯片作為協(xié)處理器配合主控制器工作。用戶事先根據(jù)需求設(shè)計(jì)出不同的配置方案,并存儲(chǔ)在重構(gòu)控制器內(nèi)部的存儲(chǔ)器中,上電后,重構(gòu)控制器就可以按需求將不同設(shè)計(jì)方案分時(shí)定位到目標(biāo)可編程器件內(nèi),同時(shí)保持其他部分電路功能正常,實(shí)現(xiàn)在系統(tǒng)靈活配置,提高系統(tǒng)工作效率。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/148981.htm1 SVF格式配置文件
很多嵌入式系統(tǒng)中都用到了FPGA/CPLD等可編程器件,在這些系統(tǒng)中利用SVF格式配置文件就可以方便地通過微控制器對(duì)可編程器件進(jìn)行重新配置。目前可編程芯片廠商的配套軟件都可以生成可編程器件的SVF格式配置文件,串行矢量格式(SVF)是一種用于說明高層IEEE 1149.1(JTAG)總線操作的語法規(guī)范。SVF由Texas Instruments開發(fā),并已成為數(shù)據(jù)交換標(biāo)準(zhǔn)而被Teradyne,Tektronix等JTAG測(cè)試設(shè)備及軟件制造商采用。Xilinx的 FPGA以及配置PROM可通過JTAG接口中TAP控制器接收SVF格式的編程指令。由于SVF文件由ASCII語句構(gòu)成,它要求較大的存儲(chǔ)空間,并且存儲(chǔ)效率很低,無法勝任嵌入式應(yīng)用。為了在嵌入式系統(tǒng)中充分利用其有限的存儲(chǔ)空間,并不直接利用SVF文件對(duì)可編程器件進(jìn)行在系統(tǒng)編程,而是將SVF文件轉(zhuǎn)換成另一種存儲(chǔ)效率比較高的二進(jìn)制格式的文件,把它存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器中。Xilinx公司提供用于創(chuàng)建器件編程文件的iMPACT工具,該工具隨附于標(biāo)準(zhǔn)Xilinx ISETM軟件內(nèi)。iMPACT軟件能自動(dòng)讀取標(biāo)準(zhǔn)的BIT/MCS器件編程文件,并將其轉(zhuǎn)換為緊湊的二進(jìn)制XSVF格式。
本設(shè)計(jì)是基于“ARM處理器+FPGA”結(jié)構(gòu)的重構(gòu)控制器,重構(gòu)控制器中的FPGA能夠根據(jù)ARM處理器傳送來的命令,對(duì)目標(biāo)可編程器件 JTAG接口進(jìn)行控制,并負(fù)責(zé)解譯XSVF格式的配置文件信息,生成xilinx器件所用的編程指令、數(shù)據(jù)和控制信號(hào)(TMS,TDI,TCK序列)向目標(biāo)可編程器件的JTAG TAP控制器提供所需的激勵(lì),從而執(zhí)行最初在XSVF文件內(nèi)指定的編程和(可選的)測(cè)試操作。使目標(biāo)可編程器件內(nèi)的TAP狀態(tài)機(jī)進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換,將指令和數(shù)據(jù)掃描到FPGA內(nèi)部邊界掃描電路指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器中。完成一次目標(biāo)可編程器件配置,實(shí)現(xiàn)用戶此時(shí)所要求功能,在下一時(shí)段,可根據(jù)用戶新的要求,調(diào)用重構(gòu)控制器內(nèi)部存儲(chǔ)器中不同方案在系統(tǒng)重新配置目標(biāo)可編程器件,這樣就實(shí)現(xiàn)了硬件復(fù)用,減少成本。
2邊界掃描(JTAG)原理
2.1 JTAG接口基本結(jié)構(gòu)
JTAG(Joint Test,Action Group,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),其工作原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)測(cè)試訪問端口(TestAccess Port,TAP),通過專用的JTAG測(cè)試工具對(duì)內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試和調(diào)試。TAP是一個(gè)通用的端口,外部控制器通過TAP可以訪問芯片提供的所有數(shù)據(jù)寄存器和指令寄存器?,F(xiàn)在JTAG接口還常用于芯片的在線配置(In-System Programmable,ISP),對(duì)PLD,F(xiàn)LASH等器件進(jìn)行配置。JTAG允許多個(gè)器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起,形成一個(gè)JTAG鏈,實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)器件分別測(cè)試和在系統(tǒng)配置。
JTAG主要由三部分構(gòu)成:TAP控制器、指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器,如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口有四組輸出線:TMS,TCK,TDI,TDO,以及1個(gè)可選信號(hào)TRST。
TCK:JTAG測(cè)試時(shí)鐘輸入,當(dāng)TCK保持在零狀態(tài)時(shí),測(cè)試邏輯狀態(tài)應(yīng)保持不變;
TMS:測(cè)試模式選擇,控制JTAG狀態(tài),如選擇寄存器、數(shù)據(jù)加載、測(cè)試結(jié)果輸出等,出現(xiàn)在TMS的信號(hào)在TCK的上升沿由測(cè)試邏輯采樣進(jìn)入TAP控制器;
TDI:測(cè)試數(shù)據(jù)輸入,測(cè)試數(shù)據(jù)在TCK的上升沿采樣進(jìn)入移位寄存器(SR);
TDO:測(cè)試數(shù)據(jù)輸出,測(cè)試結(jié)果在TCK的下降沿從移位寄存器(SR)移出,輸出數(shù)據(jù)與輸入到TDI的數(shù)據(jù)應(yīng)不出現(xiàn)倒置;
TRST:可選復(fù)位信號(hào),低電平有效。
Xilinx器件接受使用JTAG TAP的編程指令和測(cè)試指令。在IEEE 1149.1的標(biāo)準(zhǔn)中,用于CPLD,F(xiàn)PGA以及配置PROM的常見指令有:旁路(BYPASS)指令,通過用1 b長(zhǎng)的BYPASS寄存器將TDI與TDO直接連接,繞過(即旁路)邊界掃描鏈中的某個(gè)器件;EXTEST指令,將器件I/O引腳與內(nèi)部器件電路分離,以實(shí)現(xiàn)器件間的連接測(cè)試,它通過器件引腳應(yīng)用測(cè)試值并捕獲結(jié)果;IDCODE指令,返回用于定義部件類型、制造商和版本編號(hào)的32位硬件級(jí)別的識(shí)別碼; HIGHZ指令,使所有器件引腳懸置為高阻抗?fàn)顟B(tài);CFG_IN/CFG_OUT指令,允許訪問配置和讀回所用的配置總線;JSTART,當(dāng)啟動(dòng)時(shí)鐘= JTAGCLK時(shí)為啟動(dòng)時(shí)序提供時(shí)鐘。
評(píng)論