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          VDMOS器件損傷的DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射預(yù)兆單元設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2009-12-03 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

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          2.1 預(yù)警方案選取
          針對(duì)上述兩種失效模式,選取合適的預(yù)警方案,在中加人,加入后的/DC結(jié)構(gòu),如圖3所示。報(bào)警信號(hào)采用低電位向高電位的跳變,為此合理的預(yù)兆單元電路,在將要失效時(shí),輸出信號(hào)由低電平變?yōu)楦唠娖健?/p>本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/181163.htm

          2.2 單元電路
          根據(jù)前文所述預(yù)兆單元技術(shù)原理,監(jiān)測(cè)參數(shù)的預(yù)兆單元電路應(yīng)包括下面3部分。(1)情況監(jiān)測(cè)電路;(2)監(jiān)測(cè)信號(hào)放大電路;(3)輸出電路。下面分別介紹各個(gè)功能部分的設(shè)計(jì)過程。(1)監(jiān)測(cè)電路。通過R1和R2給監(jiān)測(cè)固定柵偏壓,這個(gè)柵偏壓是報(bào)警閾值點(diǎn)。當(dāng)監(jiān)測(cè)閾值電壓負(fù)漂到固定柵偏壓時(shí),監(jiān)測(cè)器件導(dǎo)通;(2)監(jiān)測(cè)信號(hào)放大電路。在監(jiān)測(cè)器件的上電位加一負(fù)載,負(fù)載是電阻或p型MOSFET有源負(fù)載,負(fù)載和監(jiān)測(cè)器件構(gòu)成放大器,監(jiān)測(cè)器件閾值電壓負(fù)漂到報(bào)警閾值點(diǎn)時(shí),Vsense由高電平轉(zhuǎn)化為低電平;(3)輸出電路。輸出電路采用抗加固的反相器實(shí)現(xiàn)。抗加固反相器,如圖4所示,增加一個(gè)上拉p型MOSFET(p1),并在n型MOSFET下面引入一個(gè)額外的n型MOSFET(n1)。當(dāng)輸入為高電平時(shí),p1MOSFET關(guān)斷,n1MOSFET開啟,原始的反相器工作不受影響。當(dāng)輸入為低電平時(shí),plMOSFET起上拉作用,使p1MOSFET和n1MOSFET漏端連接點(diǎn)處于高電平,因此n型MOSFET能更有效的關(guān)閉。n型MOSFET源漏電壓減小,降低了漏電流,經(jīng)過輻射后,輸出仍能保持在Vcc附近。整體電路,如圖4所示,當(dāng)器件輻射達(dá)到一定程度時(shí),監(jiān)測(cè)信號(hào)經(jīng)過放大和輸出電路最終輸出高電平信號(hào)。

          3 報(bào)警閾值確定與仿真
          3.1 報(bào)警閾值確定
          報(bào)警閾值點(diǎn)由器件和之間的損傷關(guān)系而定,上述兩種不同的失效模對(duì)應(yīng)不同的失效閾值點(diǎn)。下面的方法可以解決不同閾值點(diǎn)的問題。對(duì)于VDMOS器件不能關(guān)斷失效模式,失效時(shí)閾值電壓漂移量△V1=Vth一V1(V1為PWM輸出低電平電壓)。對(duì)于效率退化失效模式,根據(jù)式(3)和國家軍用標(biāo)規(guī)定推算得閾值電壓漂移量為△V2。對(duì)比兩種失效模式閾值電壓負(fù)漂量,選取負(fù)漂量較小的為失效負(fù)漂量。失效閾值電壓負(fù)漂量減小20%作為監(jiān)測(cè)閾值電壓負(fù)漂量。閾值電壓的監(jiān)測(cè)點(diǎn)由式(4)給出


          3.2 仿真驗(yàn)證
          根據(jù)選取的電路,確定參數(shù)并代入式(4)計(jì)算得Vs=1.2V,調(diào)整R1,R2的阻值,使DUT器件監(jiān)測(cè)電壓為1.2V。在Pspice下仿真結(jié)果,如圖5所示,當(dāng)VDMOS器件閾值電壓負(fù)漂到1.2V時(shí),輸出電壓由低電平變?yōu)楦唠娖?,?shí)現(xiàn)報(bào)警。由于電路采用抗輻射加固設(shè)計(jì),其他器件輻射損傷對(duì)輸出影響不大,仿真結(jié)果沒有變化,在此不再給出仿真結(jié)果。航天用工作在很大的溫度范圍內(nèi),預(yù)兆單元溫度變化仿真結(jié)果,如圖6所示,輸出電壓不受影響,跳變點(diǎn)微小變化對(duì)報(bào)警影響不大。仿真結(jié)果證實(shí)所設(shè)計(jì)的預(yù)兆單元電路和預(yù)警方案是合理可行的。

          4 結(jié)束語
          文中把預(yù)警和健全管理(PHM)方法用于DC/DC轉(zhuǎn)換器抗輻射可靠性研究,研究了VDMOS器件和DC/DC轉(zhuǎn)換器之間的輻射損傷關(guān)系。結(jié)合輻射損傷關(guān)系和預(yù)兆單元技術(shù)原理設(shè)計(jì)了基于VDMOS器件損傷的DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射預(yù)兆單元,仿真結(jié)果證實(shí)所設(shè)計(jì)的預(yù)兆單元可以對(duì)DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射損傷失效提前報(bào)警。

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