晶體硅太陽電池擴(kuò)散氣氛場均勻性研究
1 引言
晶體硅太陽電池能夠取得高效轉(zhuǎn)換效率的原因主要是基于表面鈍化、濕氧氧化等技術(shù)的應(yīng)用。新技術(shù)的開發(fā)與運用同時也極大地促進(jìn)了太陽電池的商業(yè)化發(fā)展。在過去的10年,全球太陽電池的生產(chǎn)以年平均30%的速度快速增長,單晶硅和多晶硅太陽電池的增長所占比重最大,超過整個太陽電池增長的80%。
除產(chǎn)業(yè)化運用新技術(shù)外,太陽電池制作中工藝優(yōu)化也非常重要的。太陽電池產(chǎn)業(yè)化所面臨的主要問題之一是如何在保證電池高轉(zhuǎn)換效率前提下提高產(chǎn)能。擴(kuò)散制作P -N結(jié)是晶體硅太陽電池的核心,也是電池質(zhì)量好壞的關(guān)鍵之一。對于擴(kuò)散工序,最大問題在于如何保障擴(kuò)散的均勻性。擴(kuò)散均勻性好的電池。其后續(xù)工藝參數(shù)可控性高??梢暂^好地保證電池電性能和參數(shù)的穩(wěn)定性。擴(kuò)散均勻性在高效率低成本電池產(chǎn)業(yè)推廣方面主要有兩個方向:一個是太陽電池P-N結(jié)新結(jié)構(gòu)設(shè)計的應(yīng)用,比如N型電池、SE(selective emitter)電池等;另一個是由于其他工序或材料新技術(shù)的應(yīng)用需要尋求相應(yīng)的擴(kuò)散工藝路線,比如冶金硅用于太陽電池、Sunpower公司的Low- cost rear-contact solar cells和夏普公司的back-contact solarcells等。這些都是擴(kuò)散對均勻性要求新的研究方向。晶體硅產(chǎn)業(yè)化擴(kuò)散制作P-N結(jié)所采用的擴(kuò)散爐主要為管式電阻加熱方式(普遍選用 Kanthal加熱爐絲),裝載系統(tǒng)主要有懸臂式(loading/unloading)和軟著陸(soft contact load-ing,簡稱SCL)兩種,國內(nèi)擴(kuò)散爐以懸臂式為主,國外以SCL為主。相對于配置懸臂裝載機(jī)構(gòu)的擴(kuò)散爐,SCL式擴(kuò)散爐因其爐口密封性更易保障,并不采用石英保溫檔圈來保證爐門低溫狀態(tài)。工藝反應(yīng)過程中SiC槳退出反應(yīng)石英管外,這些設(shè)計上的優(yōu)點減少擴(kuò)散均勻性的影響因素,在工藝生產(chǎn)中能更好地保證擴(kuò)散的均勻性;同時也極大地降低工藝粘污風(fēng)險,為高效太陽電池產(chǎn)業(yè)應(yīng)用提供硬件保障。這也是SCL式擴(kuò)散爐逐步取代懸臂裝載式擴(kuò)散爐的原因所在。早期的工藝路線主要包括開管擴(kuò)散與閉管擴(kuò)散,鑒于對擴(kuò)散均勻性要求的不斷提高和對高轉(zhuǎn)換效率電池大規(guī)模生產(chǎn)成本降低的要求,現(xiàn)基本采用閉管工藝路線。對懸臂管式擴(kuò)散爐中影響擴(kuò)散均勻性的氣氛場因素進(jìn)行相關(guān)的研究,以達(dá)到優(yōu)化工藝參數(shù)、降低生產(chǎn)成本的目的。
2 擴(kuò)散均勻性影響因素
針對管式擴(kuò)散爐的特點,優(yōu)化擴(kuò)散的均勻性主要采取溫區(qū)補償技術(shù)。在大規(guī)模生產(chǎn)中,補償方法主要通過調(diào)整工藝反應(yīng)時間、氣體流量和反應(yīng)溫度三者實現(xiàn)。配備懸臂裝載機(jī)構(gòu)擴(kuò)散爐本身的特點及恒溫區(qū)位置的固定,確保了SiC槳、石英保溫檔圈、均流板和石英舟是固定位置使用。影響擴(kuò)散均勻性因素除相關(guān)物件固定放置位置外,工藝氣體總流量、廢氣排放流量與爐內(nèi)壓強(qiáng)的平衡設(shè)置,均流板的氣體均勻分流設(shè)計,廢氣排放位置與氣流變化對溫度穩(wěn)定抗干擾的平衡設(shè)置等因素也至關(guān)重要,因這些因素相互關(guān)聯(lián)影響,使得生產(chǎn)中的工藝優(yōu)化相對困難,尤其是氣氛場因素更難控制,這也是該研究領(lǐng)域至今未建立擴(kuò)散均勻性氣氛場工程模型的難點。根據(jù)氣氛場因素的特點,作出擴(kuò)散氣氛場結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。圖1中,箭頭方向為氣體示意流向;廢氣排放管和Profile TC套管處于同一水平面上,工藝廢氣經(jīng)廢氣排放管排到液封吸收瓶(工業(yè)生產(chǎn)常用酸霧處理塔)處理,處理合格后排氣。
工業(yè)化生產(chǎn)中擴(kuò)散爐的均勻性主要通過測試擴(kuò)散后硅片的方塊電阻來反映。工藝反應(yīng)時間、氣體流量和工藝反應(yīng)溫度的變化非常直觀地體現(xiàn)在方塊電阻值的變化上,即增加工藝反應(yīng)時間和工藝反應(yīng)溫度將導(dǎo)致方塊電阻值的降低,磷源流量的減小反映在方塊電阻值的升高;反之亦然。
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