IBERT在FPGA中的應(yīng)用
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為確定高速串行接口的參數(shù)是否滿足硬件及多種環(huán)境的需求，可通過在對端器件高速串行接口設(shè)置遠(yuǎn)端環(huán)回，設(shè)置待測試芯片的收發(fā)data pattern為統(tǒng)一模式，常溫及高低溫拷機(jī)，觀察誤碼率是否滿足要求，誤碼率需滿足E-10。例中與圖6對應(yīng)的參數(shù)值條件下，對端器件高速串行接口設(shè)置遠(yuǎn)端環(huán)回誤碼率為4．36E-10，滿足誤碼率要求。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/190002.htm
Sweep Test Setting(掃描測試)其配置頁面如圖7所示，以Rx Sampling Point來進(jìn)行誤碼率測試定性分析信道質(zhì)量為例，較為容易理解，當(dāng)同定在某個(gè)采樣點(diǎn)進(jìn)行誤碼測試時(shí)，誤碼率達(dá)到E-10時(shí)，可判定信道質(zhì)量良好。在整個(gè)UI范圍內(nèi)進(jìn)行采樣點(diǎn)的掃描測試時(shí)，誤碼率達(dá)到E-10的采樣點(diǎn)越多，信號眼圖的眼睛張得越大，距離模板的余量越大，信道質(zhì)量越好。
3 結(jié)束語
通過以上實(shí)例，可見IBERT具有可操作性較強(qiáng)的GUI圖形界面，可操作性強(qiáng)、準(zhǔn)確、易用，可方便地設(shè)置高速串行收發(fā)通道的各項(xiàng)參數(shù)，并提供了多種環(huán)回模式及多種測試激勵(lì)源，并可通過自動(dòng)掃描測試，確定收發(fā)的最佳參數(shù)?？梢詽M足硬件測試時(shí)對高速串行收發(fā)通道信號測試的大部分需求，在故障定位等場合均可使用。在單板的硬件測試初期，使用IBERT可以輔助硬件測試，例如設(shè)置發(fā)送通道的各項(xiàng)參數(shù)，協(xié)助示波器測量信號質(zhì)量，而完全不需額外的開發(fā)FPGA邏輯。進(jìn)行誤碼率測試，作為定量測量眼圖質(zhì)量、jitter等指標(biāo)的補(bǔ)充。從示波器看圖確定出的參數(shù)并非就是最佳參數(shù)。如示波器對于均衡后的信號質(zhì)量無法測試，而通過IBERT測誤碼率能夠測試到均衡之后的節(jié)點(diǎn)，測試范圍更大?？梢灶A(yù)見，集成比特誤碼測試儀IBERT將在FPGA設(shè)計(jì)中獲得廣泛應(yīng)用。
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