在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI
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NI的解決方案為此應(yīng)用帶來(lái)了許多益處。 首先，NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺(tái)式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器，測(cè)試時(shí)間將會(huì)更長(zhǎng)。
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/190845.htm– Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies
The Challenge:
在緊迫的開(kāi)發(fā)期限內(nèi)，開(kāi)發(fā)一套包括RF通信測(cè)試的生產(chǎn)測(cè)試儀，用于測(cè)試FDA II類醫(yī)療血糖儀和胰島素輸送系統(tǒng)的子組件。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件、NI頻譜測(cè)量工具包、NI TestStand和NI PXI RF硬件，開(kāi)發(fā)快速、可重復(fù)的測(cè)試方案。
Author(s):
Matthew Kelton - Find this author in the NI Developer Community
Venkat Raghavan - Find this author in the NI Developer Community
Advanced Instrument Technologies, Inc.(AIT)是一家工程技術(shù)服務(wù)公司，為客戶應(yīng)對(duì)測(cè)試工程挑戰(zhàn)提供定制和交鑰匙解決方案。 AIT提供的服務(wù)小至工程支持，大至完整的解決方案。 它為眾多行業(yè)的客戶提供服務(wù)，內(nèi)容涉及研發(fā)、制造以及質(zhì)量保證測(cè)試。 自2003年以來(lái)，AIT一直是National Instruments Alliance Partner的一員。憑借其先前與合同制造商積極的合作以及和多年使用NI軟硬件的經(jīng)驗(yàn)，AIT被選定接手此項(xiàng)應(yīng)用工作，為此項(xiàng)目開(kāi)發(fā)了軟件并協(xié)助硬件設(shè)計(jì)。
評(píng)論