DDR測試系列之一――力科DDR2測試解決方案
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下圖為JEDEC標準中所繪制的一個簡單的寫操作波形。對比上圖的讀操作波形，我們可以看出兩者時序上的區(qū)別主要在于，DDR2寫操作時DQ或DM的數(shù)據(jù)中心與DQS信號邊沿對齊，DQS前導信號的低脈沖長度明顯減小，大約為半個時鐘周期或以下。
1.讀操作DQS跳變點與DQ跳變沿對齊，寫操作DQS跳變點對齊DQ中心。
2.讀操作DQS前導信號為大約一個時鐘周期，寫操作DQS前導信號大約為半個時鐘周期或以下。
3.比較波形峰峰值。一般情況下，在內(nèi)存控制器端測量時，寫操作峰峰值高；在內(nèi)存芯片端測量時讀操作峰峰值高。
對DDR2信號進行精確的讀寫分離是比較困難的，原因在于讀寫時序本身比較復雜，中間涉及到內(nèi)存芯片各工作狀態(tài)之間的轉(zhuǎn)換、讀寫B(tài)urst、連讀連寫及Burst中斷等等各種可能因素。依靠手工分離DDR2讀寫信號不但費時且精度不高，同時由于讀寫信號分離是DDR2很多參數(shù)測量的前提，能否正確高效的進行讀寫分離便成為了DDR2測量的一個關(guān)鍵點。力科QPHY-DDR2軟件可以自動對輸入示波器的大量DDR2數(shù)據(jù)及時鐘信號進行分析，精確地從雙向數(shù)據(jù)線中分離出讀寫信號并進行后續(xù)的相關(guān)參數(shù)測試，從而保證了DDR2一致性測試的精確性與高效率。
三）時序測試
時序測試部分主要對DDR2數(shù)據(jù)、時鐘及控制線上各種時序進行測量，包括數(shù)據(jù)輸入建立/保持時間、數(shù)據(jù)輸出保持時間、數(shù)據(jù)讀/寫時DQS前導/后續(xù)時間、時鐘半周期寬度、DQS輸入高/低脈沖寬度等等二十余項參數(shù)。其中，在對數(shù)據(jù)輸入建立/保持時間（tDS、tDH）進行測量時，JEDEC標準規(guī)定需要根據(jù)寫數(shù)據(jù)時的DQ及DQS信號斜率對測得的建立保持時間進行修正。下表為JEDEC標準中對應DDR2 667/800的輸入建立/保持時間修正參數(shù)表。例如，寫操作時當DQ測得的斜率為1.5V/ns，DQS斜率為3.0V/ns時，測得的DQ – DQS建立/保持時間需要加上67ps的修正值之后方能與標準中規(guī)定的最小建立/保持時間相比較。
為了在上表中查到對應的修正值，需要首先得出相應信號的斜率。JEDEC標準規(guī)定了兩種斜率計算方法，即直連斜率norminal slew rate和切線斜率tangent slew rate，分別在不同數(shù)據(jù)波形時采納。兩種斜率計算方法如下圖所示。
圖四 直連斜率norminal slew rate
圖五 切線斜率tangent slew rate
當信號波形在陰影標定區(qū)域內(nèi)一直早于直連斜率這根藍色直線時使用直連斜率計算并查找建立/保持時間修正值，當信號波形在陰影標定區(qū)域內(nèi)有任何一點落在直連斜率線之后時則需使用圖五所示的切線斜率計算和查找建立/保持時間修正值。
由上可知，對DDR2數(shù)據(jù)輸入建立/保持時間（tDS、tDH）測量是一件比較繁瑣且費時的過程，而應用力科QPHY-DDR2軟件測量時，以上的所有操作均由軟件自動完成，這些復雜的流程對操作者完全透明，在大大減輕DDR2測試復雜度的同時提高了測試結(jié)果的準確性。如下圖所示，在tDS 測試時QPHY-DDR2自動找出了對應的67ps建立時間修正值。
力科DDR2一致性測試解決方案QPHY-DDR2
力科QPHY-DDR2測試解決方案可以對DDR2總線進行全方位的自動化測試，支持所有標準速率的DDR2內(nèi)存系統(tǒng)（400/533/667/800/1066M）及用戶自定義的其他DDR2工作速度，可對JEDEC組織及Intel規(guī)定的所有DDR2測試項目進行測試。
QPHY-DDR2的操作非常簡單，如右圖所示，它使用友好的圖形化界面引導用戶從探頭與被測系統(tǒng)連接開始一步步完成DDR2的所有測試。目前為止,力科DDR軟件包是能支持的測試項目最多的。
圖六 QPHY-DDR2 圖形化用戶界面
對于DDR2眾多的測試指標，用戶可以在QPHY-DDR2中任意選擇測量DDR2中的某一項或多項指標（如下圖7所示），也可以選擇一次測量所有規(guī)定的測試項目。測試完成后，所有的測試結(jié)果及相應的波形均被列入到自動生成的測試報告中（如下圖8所示），用戶可以一目了然地了解被測DDR2系統(tǒng)的各指標性能。
圖7 測試參數(shù)選擇界面
圖8 DDR2測試報告首頁
除了完成全面的測試工作外，QPHY-DDR2還可以對DDR2讀寫波形分別繪制眼圖（如右圖9所示），方便用戶觀察被測DDR2系統(tǒng)數(shù)據(jù)線上的信號完整性并對可能出現(xiàn)的問題進行及時觀測與調(diào)試。
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