芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測試基本原理分析

　　電源消耗(ICC，IDD，IEE)。該項測試決定器件的電源消耗規(guī)格，也就是電源管腳在規(guī)定的電壓條件下的最大電流消耗，電源消耗測試可分為靜態(tài)電源消耗測試和動態(tài)電源消耗測試，靜態(tài)電源消耗測試決定器件在空閑狀態(tài)下時最大的電源消耗，而動態(tài)電源消耗測試決定器件工作時的最大電源消耗。

　　2.3 交流參數(shù)測試

　　交流參數(shù)測試測量器件晶體管轉(zhuǎn)換狀態(tài)時的時序關(guān)系。交流測試的目的是保證器件在正確的時間發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換，輸入端輸入指定的輸入邊沿，特定的時間后在輸出端檢測預(yù)期的狀態(tài)轉(zhuǎn)換。

　　常用的交流測試有傳輸延遲測試，建立和保持時間測試，以及頻率測試等。

　　傳輸延遲測試是指在輸入端產(chǎn)生一個狀態(tài)(邊沿)轉(zhuǎn)換和導(dǎo)致相應(yīng)的輸出端的狀態(tài)(邊沿)轉(zhuǎn)換之間的延遲時間，該時間從輸出端的某一特定的電壓開始到輸出端的某一特定的電壓結(jié)束，一些更嚴(yán)格的時序測試還會包括以下的這些項目：

　　三態(tài)轉(zhuǎn)換時間測試

　　TLZ，THZ：從輸出使能關(guān)閉到輸出三態(tài)完成的轉(zhuǎn)換時間。

　　TZL，TZH：從傳輸使能開始到輸出有效數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換時間。

　　存儲器讀取時間--從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時間，測試讀取時間的步驟一般如下所示

　　(1)往單元A寫入數(shù)據(jù)0，

　　(2)往單元B寫入數(shù)據(jù)1，

　　(3)保持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A的值，

　　(4)地址轉(zhuǎn)換到單元B，

　　(5)轉(zhuǎn)換時間就是從地址轉(zhuǎn)換開始到數(shù)據(jù)變換之間的時間。

　　寫入恢復(fù)時間--在寫操作之后的到能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時間。

　　暫停時間--內(nèi)存單元能保持它們狀態(tài)的時間，本質(zhì)上就是測量內(nèi)存數(shù)據(jù)的保持時間。

　　刷新時間--刷新內(nèi)存的最大允許時間。

　　建立時間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必須提前鎖定輸入時鐘的時間。

　　保持時間--在鎖定輸入時鐘之后輸入數(shù)據(jù)必須保持的時間。

　　頻率--通過反復(fù)運行功能測試，同時改變測試周期，來測試器件運行的速度，周期和頻率通常通過二進(jìn)制搜索的辦法來進(jìn)行變化。頻率測試的目的是找到器件所能運行的最快速度。