中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案
集成電路的測(cè)試技術(shù)隨著集成電路開(kāi)發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。集成電路測(cè)試儀按測(cè)試門(mén)類可分為:數(shù)字集成電路測(cè)試儀、存儲(chǔ)器測(cè)試儀、模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀、在線測(cè)試系統(tǒng)和驗(yàn)證系統(tǒng)等。目前市場(chǎng)上的測(cè)試儀產(chǎn)品功能較單一,價(jià)格非常昂貴,給電路的測(cè)試、維護(hù)帶來(lái)不便。因此,研究開(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單快捷、具有一定智能化的集成電路測(cè)試儀有很高的實(shí)用價(jià)值[1-2]。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/195432.htm在高等學(xué)校的電子實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,經(jīng)常要用到如模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)、555集成定時(shí)電路、3524開(kāi)關(guān)電源控制器等中規(guī)模集成電路。由于學(xué)生通常是初次接觸使用芯片,經(jīng)常會(huì)由于操作不當(dāng)造成電路芯片的損傷或損壞,而表面上卻無(wú)法作出正確的判斷。在這種情況下,非常需要有適當(dāng)?shù)募呻娐返臏y(cè)試儀,用于測(cè)試、判斷芯片的好壞。而市面上又沒(méi)有合適的測(cè)試儀可供選購(gòu)。因此,本文設(shè)計(jì)制作了可用于一些特定的中規(guī)模電路的測(cè)試儀。根據(jù)具體的需要選取了ADC0809、DAC0832、LM555、WC3524等幾種芯片作為測(cè)試對(duì)象,并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的專門(mén)測(cè)試儀。
測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意框圖如圖1所示。該測(cè)試儀器的控制器采用了Atmel 公司的八位單片機(jī)89C55,用于完成界面管理和自動(dòng)檢測(cè)控制功能[3]。其中采用了Maxim公司的MAX197高精度的A/D轉(zhuǎn)換器來(lái)完成模擬信號(hào)的測(cè)試[4]。下面分別介紹各類器件的測(cè)試原理和方法。
1 測(cè)試原理和測(cè)試電路
測(cè)試一個(gè)器件的功能或特性參數(shù),通常采取該器件的典型應(yīng)用電路,把功能體現(xiàn)出來(lái),把參數(shù)值直接或間接地反映出來(lái)。
1.1 模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809的測(cè)試
模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809的測(cè)試電路圖如圖2所示。根據(jù)測(cè)試電路,ADC0809的8個(gè)通道輸入同樣的模擬量,該模擬量同樣也輸送給MAX197。控制器選擇ADC0809的1個(gè)模擬通道,并發(fā)出啟動(dòng)轉(zhuǎn)換信號(hào),使ADC0809開(kāi)始轉(zhuǎn)換,然后控制MAX197也開(kāi)始轉(zhuǎn)換。等待轉(zhuǎn)換結(jié)束,分別讀取兩者的轉(zhuǎn)換結(jié)果,并進(jìn)行數(shù)值比較,根據(jù)誤差限確定器件功能是否正常。改變通道繼續(xù)測(cè)試,直到8個(gè)通道測(cè)試完畢,顯示其結(jié)果。
1.2 DAC0832的測(cè)試
D/A轉(zhuǎn)換器DAC0832是8位二進(jìn)制數(shù)模轉(zhuǎn)換器,8個(gè)數(shù)字量輸入端分別為DI7~DI0,其中DI7為MSB,DI0為L(zhǎng)SB。它的模擬量輸出端為電流輸出IOUT1和IOUT2,當(dāng)輸入的數(shù)字量最大時(shí),IOUT1端輸出的電流最大;當(dāng)輸入的數(shù)字量為零時(shí),輸出電流最小。IOUT2端的電流輸出情況正好相反。這兩個(gè)端子可以和外部的運(yùn)算放大器相接實(shí)現(xiàn)電流/電壓的變換。此芯片內(nèi)部還有1個(gè)反饋電阻,可以作為外部運(yùn)算放大器的反饋電阻,DAC0832 測(cè)試原理圖如圖3所示。芯片內(nèi)有兩級(jí)輸入寄存器,使之具備雙緩沖、單緩沖和直通3種輸入方式,以適于各種電路的需要,例如要求多路D/A異步輸入、同步轉(zhuǎn)換等。
由單片機(jī)輸送1個(gè)8位的二進(jìn)制數(shù)字量給DAC0832,使兩級(jí)緩沖的寫(xiě)控制和片選控制都有效時(shí),開(kāi)始D/A轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換速度為微秒級(jí)。經(jīng)過(guò)數(shù)模轉(zhuǎn)換后,輸出的電流再經(jīng)過(guò)運(yùn)放轉(zhuǎn)換成電壓,該電壓經(jīng)過(guò)MAX197轉(zhuǎn)換成數(shù)字量讀回到單片機(jī)中,然后和原輸出的數(shù)字量相比較,以判斷被測(cè)芯片正常與否。
評(píng)論