基于FPGA實(shí)現(xiàn)邏輯芯片的功能故障測(cè)試

　?。?）在芯片型號(hào)檢索對(duì)話框中輸入“74LS08”型號(hào)后，點(diǎn)擊“確定”按鈕即可完成芯片檢索的流程。

　?。?）自動(dòng)測(cè)試模式下，系統(tǒng)將調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)中被測(cè)芯片的完整測(cè)試數(shù)據(jù)，并且完成整個(gè)測(cè)試集的循環(huán)測(cè)試。

　?。?）打開(kāi)系統(tǒng)的串口后，用戶需要將被測(cè)芯片放入測(cè)試插槽中，然后鎖死插槽以確定被測(cè)芯片的引腳與插槽接觸良好。這時(shí)只需要點(diǎn)擊“開(kāi)始測(cè)試”,系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行循環(huán)測(cè)試。在系統(tǒng)插槽中放入74LS08芯片后的測(cè)試結(jié)果顯示“該芯片功能測(cè)試全部通過(guò)”,其顯示如圖3所示。

圖3 常規(guī)測(cè)試結(jié)果

　　3.2 故障測(cè)試

　　本文以74LS00芯片模擬74LS08芯片的故障片來(lái)進(jìn)行一次故障測(cè)試，以驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)對(duì)故障的識(shí)別。由74LS00芯片和74LS08芯片兩款芯片的引腳數(shù)與引腳分布方式是一樣的。但是在功能上，74LS00芯片為雙輸入四與非門，而74LS08芯片為雙輸入四與門。這就意味著，當(dāng)兩者的輸入值相同時(shí)，芯片功能正確情況下的輸出值應(yīng)該正好相反。這樣的輸入輸出關(guān)系可以用來(lái)模擬74LS08芯片的全故障情況。這時(shí)，用戶需要把74LS00芯片鎖入測(cè)試插槽，點(diǎn)擊“開(kāi)始測(cè)試”后的界面如圖4所示。

圖4 故障測(cè)試結(jié)果

　　此時(shí)，如果被測(cè)芯片依然為74LS00芯片，而從上位機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中重新調(diào)入74LS00芯片的測(cè)試信息進(jìn)行測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果則顯示為“該芯片功能測(cè)試全部通過(guò)”.其顯示界面如圖3所示。由此可以驗(yàn)證，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)芯片功能故障的判斷十分準(zhǔn)確，并且測(cè)試系統(tǒng)可以準(zhǔn)確的識(shí)別存在故障的測(cè)試矢量位置，以便于用戶進(jìn)行進(jìn)一步的分析。

　　4.結(jié)論

　　本文用FPGA進(jìn)行了一個(gè)芯片功能測(cè)試系統(tǒng)，并對(duì)其功能進(jìn)行了驗(yàn)證，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該系統(tǒng)測(cè)試方法簡(jiǎn)單，測(cè)試過(guò)程迅速，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。該系統(tǒng)為芯片功能測(cè)試提供了一個(gè)很好的解決方案，具有重要的應(yīng)用價(jià)值。