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          工藝設(shè)計(jì)套件推進(jìn)創(chuàng)新

          作者: 時(shí)間:2017-12-23 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            半導(dǎo)體新的完整功能工藝設(shè)計(jì)套件,推進(jìn)無源器件制造的小型化和創(chuàng)新。我們提供各種工具給設(shè)計(jì)人員,使他們開發(fā)出無線、便攜、和射頻器件應(yīng)用的創(chuàng)新小巧解決方案。對(duì)于考慮采用集成無源器件 (IPD) 加速開發(fā)或避免使用大型表貼器件 (SMD) 的設(shè)計(jì)人員,如今利用適用于 National Instruments 應(yīng)用波研究 (AWR) 環(huán)境的 PDK 套件可以輕松完成設(shè)計(jì)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201712/373447.htm

            今年發(fā)布的 NI AWR PDK 套件支持我們先進(jìn)的一流 IPD1 和 IPD2 工藝。此款 PDK 套件配備完全可擴(kuò)展的布局參數(shù)單元 (Pcell)、先進(jìn)布局實(shí)用程序以及準(zhǔn)確的電磁 (EM) 仿真功能。此套件可應(yīng)客戶要求供下載。

            不熟悉 IPD 設(shè)計(jì)?我們提供了設(shè)計(jì)示例和教程,逐步指導(dǎo)采用我們極好的 IPD 工藝。我們確保減少設(shè)計(jì)人員的布局時(shí)間。我們的符號(hào)和原理圖均兼容 Cadence。利用預(yù)定義的基板定義和預(yù)配置的設(shè)置,您可輕松愉快地完成 EM 仿真。

            隨著行業(yè)尋求更加小型的無線產(chǎn)品和高性能,我們的 IPD1 和 IPD2 工藝將更進(jìn)一步發(fā)展和獲得更廣泛應(yīng)用。這種增長(zhǎng)已帶動(dòng)對(duì) NI AWR 設(shè)計(jì)環(huán)境下 IPD PDK 的需求。我們的共同客戶可利用此新的PDK 縮短開發(fā)周期,并加快部署創(chuàng)新的產(chǎn)品。

            欲了解更多詳細(xì)信息,請(qǐng)參考鏈接:http://www.onsemi.cn/PowerSolutions/content.do?id=16699

            作者:Sreeharsha Nanduri,半導(dǎo)體



          關(guān)鍵詞: 安森美 IPD

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