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          不合格光刻膠致大量晶圓報廢 臺積電雷霆換將:新設(shè)檢測部門

          作者:蘇亞 時間:2019-04-24 來源:TechWeb 收藏

          爆發(fā)規(guī)格不符事件導(dǎo)致大量報廢晶圓,牽動公司內(nèi)部兩部門的人事異動,包括這次事件爆發(fā)地的 14 廠廠長已換將。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201904/399852.htm

          今日宣布計劃將成立一個品質(zhì)管理檢測單位,規(guī)模達到200人,進一步對相關(guān)供應(yīng)鏈的產(chǎn)品進行檢驗把關(guān)。200人的投入,再加上所需設(shè)備,縱使這樣的巨無霸企業(yè),也是一筆不小的投資。

          臺積電這次的產(chǎn)生晶圓報廢事件,是源自于一批原物料廠商供應(yīng)的規(guī)格與過去的規(guī)格有相當(dāng)誤差,影響數(shù)量高達十萬片,主要是 16 nm 和 12 nm 工藝產(chǎn)品,受影響客戶包括蘋果、高通、NVIDIA、AMD、海思、聯(lián)發(fā)科等六大客戶,公司也指出此事件讓第一季營收減少 5.5 億美元,毛利率減少 2.6 個百分點。

          過去臺積電也有進行檢測的部門,但是作業(yè)的方式會以抽樣測試為主,而且受限于品管單位的規(guī)模,檢測的內(nèi)容也比較不全面。

          在成立相關(guān)專門的品管部門之后,除了會逐步落實每一次材料或產(chǎn)品都進行檢測作業(yè)之外,檢測的內(nèi)容也會更加全面。供應(yīng)鏈指出,目前臺積電正逐步與相關(guān)供應(yīng)商合作中,逐步確認(rèn)檢測的標(biāo)準(zhǔn)與內(nèi)容。

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          關(guān)鍵詞: 光刻膠 臺積電

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