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          IC 設(shè)計:為下一節(jié)點做好準備

          作者: 時間:2020-02-06 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          簡介

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202002/409654.htm

          盡管有關(guān)瀕臨消亡或跟不上時代的傳聞不絕于耳,但半導體行業(yè)似乎多半仍在繼續(xù)開發(fā)新工藝和日益復(fù)雜的設(shè)計。因此,各家公司幾乎無休止地在為下一做準備,進而過渡至新的。

          對晶圓代工廠而言,這種準備工作以新器件、新工藝工具和新工藝流程為中心。同時,他們必須確保為客戶提供合格規(guī)則集(規(guī)則文檔)。設(shè)計公司專注于定義電路功能和性能目標,同時確保他們擁有所需的設(shè)計軟件和硬件并已經(jīng)準備好進行使用,以便在合理的周轉(zhuǎn)時間內(nèi)實現(xiàn)設(shè)計 signoff。

          雖然很少談?wù)摰?,但電子設(shè)計自動化  (EDA)  行業(yè)也一直在為下一節(jié)點做準備。隨著各種新工藝技術(shù)和新設(shè)計功能的不斷涌現(xiàn),現(xiàn)在越來越需要提高自動化能力,以自動利用一套經(jīng)過晶圓代工廠驗證的工具進行驗證,同時在不增加運行時間的情況下保持最高的準確度。本文將深入探討下一節(jié)點的開發(fā)挑戰(zhàn),以及Mentor, a Siemens Business 如何為每個“下一節(jié)點”準備 Calibre? nmPlatform。

          下一節(jié)點的計算挑戰(zhàn)

          衡量半導體行業(yè)向前發(fā)展勢頭的經(jīng)典指標是設(shè)計中的集成電路  (IC)  晶體管數(shù)量。描述的是經(jīng)驗觀察:每片  IC  的晶體管數(shù)量以往大約每兩年翻一番。近年來,宣稱瀕臨消亡的聲音似乎一直不絕于耳,但經(jīng)驗證據(jù)持續(xù)表明事實并非如此。圖 1 顯示了最廣為人知的 IC 芯片的晶體管數(shù)量隨時間變化的最新復(fù)合圖  [1]。數(shù)據(jù)顯示,晶體管數(shù)量在整個四十五年間一直穩(wěn)定增加,大多數(shù)現(xiàn)代芯片的晶體管數(shù)量接近 20 萬億個。

          QQ截圖20200206093730.png

          圖 1:IC 晶體管數(shù)量隨時間的變化。

          (數(shù)據(jù)來源:https://en.wikipedia.org/wiki/Transistor_count;數(shù)據(jù)可視化:OurWorldinData.org;Max Roser 根據(jù)CC-BY-SA授權(quán)使用。)

          設(shè)計規(guī)則檢查 (DRC) 復(fù)雜度與設(shè)計中的多邊形數(shù)量成正比。雖然晶體管數(shù)量對前道工序 (FEOL) 層多邊形數(shù)量有直接影響,但它本身并不能說明多邊形總數(shù)的整體增加。中段工序  (MOL)  和后道工序  (BEOL)  層不僅顯示每層多邊形數(shù)量的增加,而且顯示先進工藝節(jié)點通常需要額外的互連層。多邊形數(shù)量增加的多種來源意味著像 Calibre 套件這樣的驗證工具必須應(yīng)對超過摩爾定律增長率的多邊形處理量。

          當然,與晶圓代工廠工藝相關(guān)的設(shè)計規(guī)則不只是與設(shè)計中的總設(shè)計層數(shù)呈函數(shù)關(guān)系。隨著時間推移,由于更復(fù)雜的環(huán)境感知且對變化敏感的設(shè)計組件和工藝技術(shù)被整合到最先進的工藝節(jié)點中,在任何給定層上必須檢查的問題類型也會增加。圖  2  顯示了其中幾項新工藝技術(shù)和設(shè)計敏感性,它們不僅需要更多的檢查,而且需要全新的檢查類型。該圖將層數(shù)的增加與所需檢查類型的增加相對照,說明了設(shè)計規(guī)則的數(shù)量和實現(xiàn)這些規(guī)則所需的運算是如何隨著工藝節(jié)點發(fā)展而增加的。每次檢查都需要很多行編碼來實現(xiàn),圖上的平均 DRC 運算數(shù)說明了軟件為正確檢查設(shè)計而實際必須執(zhí)行的步驟數(shù)。

          QQ截圖20200206093805.png

          圖 2:不同工藝節(jié)點的新功能要求和 DRC 規(guī)則/代碼復(fù)雜度。

          最終,驗證現(xiàn)代  IC  所需的計算能力和資源是由規(guī)則復(fù)雜度乘以設(shè)計的總多邊形數(shù)決定的。任何懂數(shù)學的人都會立即注意到,兩個指數(shù)增長的趨勢相乘會帶來相當困難的問題需要克服。Mentor 意識到,為了解決這個似乎巨大無比的挑戰(zhàn),我們要跳出傳統(tǒng)解決方案的思維,探求所有可能的途徑來擴展和提高工具集的性能與生產(chǎn)力。Calibre 團隊不斷為 Calibre 工具庫添加基本的新功能,以便為新的和擴展的需求提供準確的自動檢查,同時仍然讓公司能夠滿足其上市時間安排。

          夯實基礎(chǔ)

          應(yīng)對這種爆炸性計算挑戰(zhàn)的兩個最明顯要素是原始引擎速度和存儲器。盡管  Calibre  套件已經(jīng)存在了幾十年,但基礎(chǔ)代碼庫在不斷優(yōu)化,甚至完全重寫,不僅僅是為了添加新功能,還為了顯著提高其執(zhí)行現(xiàn)有功能的能力,以及利用現(xiàn)代分布式和云計算基礎(chǔ)設(shè)施。

          圖 3 顯示了同一 Calibre? nmDRC? 運行集(運行文檔)的不同軟件版本的歸一化運行時間趨勢。每個數(shù)據(jù)點代表平均 20 個實際的客戶設(shè)計,反映了 Calibre 底層引擎這個單一因素(其他因素均保持不變)隨著軟件版本的更替所實現(xiàn)的改進。在這三年的時間跨度內(nèi),引擎速度提高了 80%。這一趨勢表明了 Mentor 優(yōu)化所有 Calibre 物理和電路驗證工具性能的方式。

          QQ截圖20200206093909.png

          圖 3:不同軟件版本的歸一化 Calibre 引擎運行時間趨勢。

          存儲器使用率也是提高工具性能的關(guān)鍵因素。圖 4 比較了最近的兩個 Calibre nmDRC 版本在六種不同  7  nm  設(shè)計上的表現(xiàn)。隨著底層數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和存儲器管理技術(shù)的改進,存儲器使用率穩(wěn)定下降  40-50%。同樣,這一進展代表了 Calibre nmPlatform 所實現(xiàn)的性能改進。雖然  Calibre  nmPlatform  在使用最少存儲器方面已經(jīng)處于業(yè)界領(lǐng)先地位,但 Mentor 仍在不斷尋求進一步改進的機會。

          QQ截圖20200206093915.png

          圖 4:Calibre nmDRC 工具最近發(fā)布的各版本在存儲器使用率方面的改進比較。

          ……未完待續(xù)……

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          關(guān)鍵詞: 摩爾定律 節(jié)點

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