筑波科技與美商泰瑞達攜手ETS 開創化合物半導體IC的動態測試新紀元

圖 筑波科技華南區銷售總監黃博彥Fred Huang、ETS動態測試方案

筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作，推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案，為半導體行業市場帶來突破性的競爭優勢。半導體功能測試（FT）向來需要克服各種挑戰，包括復雜的案例設計、執行和系統維護、數據分析管理，以及對測試環境穩定性的高度要求。如何以單一機臺實現CP與FT測試的一機多用，實現DUT批次特性驗證，產線大批量生產並兼顧「動態和靜態」測試，成為了業界關注的焦點。

ETS 動態測試整合方案結合多種專為IPM/PIM測試而設計之硬體配置（包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head），ETS-88擁有雙扇區設計，為系統帶來高度靈活性，使其能在LAB環境下驗證CP&FT。該方案集成動態RDSon測試和AC測試功能，其獨特一體化測試頭設計，更在靜動態測試實現重大突破，確保高度的穩定整合與便利。

該方案展現業界領先的多項優勢：DC測試提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC測試(2KV/2KA)、SC測試(8KA)、支持動態RDSon、至多10組的多脈沖測試、動靜一體式的測試頭、小于20nH的測試頭雜散電感、最小的電流精度nA等，同時提供多Site的FT測試和CP測試，搭配標準軟件客制化，整體開發周期短于兩個月，同時能夠獲得本地服務支持?？傮w而言，ETS GaN Mos FT以其價格合理、靈活性高和一體化整合等特點，為客戶帶來全新測試體驗。

透過與泰瑞達ETS的合作，筑波科技為客戶提供全面的解決方案，實現高效、高便捷性的測試。ETS GaN Mos整合四大關鍵性能：業界領先的高測試效率、100%高穩定性、靈活高效的動態測試性能，以及自主研發的便捷使用及調適功能軟件。這些性能實現重復循環測試，支持任意脈沖數開關測試，實現不同電流等級開關參數的一次性測試，不影響測試時間。此外，還支持多模式的短路電流測試，可實現上下管單管短路和上下管直通短路測試，并可選擇VIN和ITRIP(CSC)作為關斷信號，測試程序的自動轉載及數據輸出工具一鍵操作，在批次測試結束時自動生成Excel格式數據，實現繼電器的可視化調適和壽命管控，以及測試項目的快速選擇工具。

筑波科技結合泰瑞達ETS在全球超過6600臺以上的裝機量市場優勢，共同提供軟件客制化整合策略：融合方案整合設計(探針臺/卡、分選機、Load Board、Socket之一站式ATE連接DUT設計)、特殊環境模擬設備、ETS系列、研發類One Box機臺，實現AC to DC一體測試（AC/DC），現在到未來的一機實現（650 vs 3KV），單工位到多工位的一架多位（1~16 Site），從研發到量產（CP/FT/Module）、單機到整合（Customized Software）等全方位方案。筑波科技在臺灣及中國深圳設有半導體工程中心，可提供本地化的即使服務。