西門(mén)子推出Calibre 3DThermal軟件,持續(xù)布局3D IC市場(chǎng)
● Calibre 3DThermal可為3D IC提供完整的芯片和封裝內(nèi)部熱分析,幫助應(yīng)對(duì)從芯片設(shè)計(jì)和 3D 組裝的早期探索到項(xiàng)目 Signoff 過(guò)程中的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證挑戰(zhàn)
● 新軟件集成了西門(mén)子先進(jìn)的設(shè)計(jì)工具,能夠在整個(gè)設(shè)計(jì)流程中捕捉和分析熱數(shù)據(jù)
西門(mén)子數(shù)字化工業(yè)軟件近日宣布推出Calibre? 3DThermal軟件,可針對(duì)3D集成電路(3D IC)中的熱效應(yīng)進(jìn)行分析、驗(yàn)證與調(diào)試。Calibre 3DThermal整合了西門(mén)子Calibre驗(yàn)證軟件和Calibre? 3DSTACK的功能以及Simcenter? Flotherm?的熱場(chǎng)解析引擎,讓芯片設(shè)計(jì)人員能夠從芯片和封裝設(shè)計(jì)的早期內(nèi)部探索到 signoff 階段,針對(duì)設(shè)計(jì)中的熱效應(yīng)進(jìn)行快速建模和可視化呈現(xiàn),從而采取措施緩解此類(lèi)問(wèn)題。Calibre 3DThermal 可為后續(xù)電氣仿真提供必要輸出,以便將熱影響納入考量。此外,Calibre 3DThermal 也可接收輸入邊界條件進(jìn)行分析,及為 Simcenter Flotherm 提供輸出,從而實(shí)現(xiàn)從 IC 到封裝,再到電路板和系統(tǒng)級(jí)別的全過(guò)程熱建模。
Calibre 3DThermal 的開(kāi)發(fā)旨在應(yīng)對(duì) 3D IC 架構(gòu)對(duì)于散熱的強(qiáng)制需求,它提供一種快速、準(zhǔn)確、強(qiáng)大且完整的方法,用于快速識(shí)別并解決復(fù)雜的散熱問(wèn)題。Calibre 3DThermal 擁有強(qiáng)大的靈活性,允許用戶以很少的輸入先開(kāi)始可行性分析,在獲得更多詳細(xì)信息后,再執(zhí)行更加詳細(xì)的分析,并可充分考慮金屬的分布細(xì)節(jié)及其對(duì)散熱的影響。這種漸進(jìn)式方法使得設(shè)計(jì)人員能夠優(yōu)化分析并進(jìn)行各種修復(fù),例如變更版圖布局和添加堆疊過(guò)孔或 TSV,以避免出現(xiàn)熱效應(yīng)熱點(diǎn)并/或進(jìn)行更有效地散熱。這種迭代過(guò)程將一直持續(xù)至組裝完成,進(jìn)而顯著降低在流片時(shí)出現(xiàn)性能、可靠性和制造問(wèn)題的風(fēng)險(xiǎn)。
要提供這種先進(jìn)水平的熱分析,必須對(duì) 3D IC組裝有全面理解,如果一直等到組裝全部完成才發(fā)現(xiàn)和糾正錯(cuò)誤,則可能?chē)?yán)重干擾項(xiàng)目進(jìn)程。 Calibre 3DThermal 通過(guò)自動(dòng)化和集成化降低了這種風(fēng)險(xiǎn),讓工程師能夠在設(shè)計(jì)各個(gè)階段進(jìn)行熱分析迭代。
Calibre 3DThermal 嵌入了定制化的西門(mén)子 Simcenter Flotherm 熱場(chǎng)解析引擎,可創(chuàng)建精準(zhǔn)的 chiplet 級(jí)熱模型,用于整個(gè) 3D IC 組裝的靜態(tài)或動(dòng)態(tài)仿真。結(jié)果的分析調(diào)試可通過(guò)傳統(tǒng)的 Calibre RVE ,集成至各種不同的 IC 設(shè)計(jì)工具中,讓調(diào)試得以簡(jiǎn)化。這些工具的集成可以為 3D IC 設(shè)計(jì)人員的特定需求,提供量身定制的熱分析解決方案。
與所有 Calibre 產(chǎn)品相同,Calibre 3DThermal 可無(wú)縫集成來(lái)自第三方的設(shè)計(jì)工具,以及來(lái)自西門(mén)子的各種軟件,包括新推出的 Innovator3D IC?。在所有設(shè)計(jì)流程中,Calibre 3DThermal 均可以捕捉和分析整個(gè)設(shè)計(jì)生命周期的熱數(shù)據(jù)。
西門(mén)子數(shù)字化工業(yè)軟件 Calibre 產(chǎn)品管理副總裁 Michael Buehler-Garcia 表示:“Calibre 3DThermal 代表了我們?cè)?nbsp;3D IC 設(shè)計(jì)和驗(yàn)證領(lǐng)域取得的重大進(jìn)步,它能夠幫助設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)流程的早期階段應(yīng)對(duì)散熱挑戰(zhàn)。通過(guò)將熱分析直接集成到 IC 設(shè)計(jì)流程的各個(gè)階段,我們的客戶能夠更加充滿信心和高效地創(chuàng)建更可靠的高性能 3D IC。”
與聯(lián)華電子開(kāi)展協(xié)作
西門(mén)子與聯(lián)華電子 (UMC) 攜手合作,為 UMC 客戶部署采用 Calibre 3DThermal 的創(chuàng)新熱分析流程。該流程專(zhuān)門(mén)為 UMC 的晶圓級(jí)堆疊封裝 (wafer-on-wafer) 和 3D IC 技術(shù)量身定制,并已通過(guò)驗(yàn)證,計(jì)劃很快提供給 UMC 的全球客戶。
聯(lián)華電子設(shè)備技術(shù)開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)支持副總裁鄭子銘 (Osbert Cheng) 表示:“半導(dǎo)體行業(yè)面臨著日益嚴(yán)峻的散熱挑戰(zhàn),尤其在先進(jìn) 3D IC 技術(shù)的散熱分析和熱梯度仿真方面,UMC 一直致力于為行業(yè)提供有效解決方案。通過(guò)與西門(mén)子開(kāi)展合作和應(yīng)用 Calibre 3Dthermal,我們現(xiàn)在能夠?yàn)榭蛻籼峁┩暾臒岱治瞿芰?,助其解決關(guān)鍵的散熱問(wèn)題,從而進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,增強(qiáng)產(chǎn)品性能以及可靠性?!?/p>
評(píng)論