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          降低成本提高效率 MEMS動(dòng)態(tài)晶圓測(cè)試系統(tǒng)

          作者: 時(shí)間:2013-10-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          ans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">一個(gè)電容的加速度計(jì)通過兩種生產(chǎn)流程來制造。一種流程使用傳統(tǒng)的方法,而另外一種流程使用方法。STI3000的數(shù)據(jù)使得最終器件級(jí)測(cè)試的合格率提高了40%。

          MEMS傳統(tǒng)測(cè)試方法和動(dòng)態(tài)測(cè)試方法對(duì)比

          降低成本提高效率 MEMS動(dòng)態(tài)晶圓測(cè)試系統(tǒng)


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