在線測試技術的現狀和發(fā)展（二）

2.5 針床測試的改進

　　面對高密度PCB測試中出現的越來越多的問題，針床測試技術不斷發(fā)展改進，主要體現在針床的密度提高，夾具設計制造的創(chuàng)新和優(yōu)化，輔助測試的引入，數據采用優(yōu)化，測試技術(開關卡)的完善。

　　(1)針床密度的變化

　　一般的針床測試針的中心距為2540μm，稱單密度針床，隨著測試點數的增加和測試密度的提高，已有許多廠家推出雙密度針床，測試針的中心距為1778μm，圖10為單密度測試針床和雙密度針床的比較，現在，也有廠家在研制四密度測試設備，雖然在一定程度上可以解決測試點數問題，但精度的問題仍然存在。

　　(2)夾具設計制造技術的革新

　　作為測試精度的主要影響因素，夾具的設計制造極為關鍵，在許多成功地進行高密度測試的針床測試設備中，夾具設計多都有獨到之處，如ECT的夾具設計軟件，仔細考慮了測試探針的傾斜度、摩擦力等問題，使制作出的夾具與探針中心正對測試點，保證了精度與設計一致，在探針較少的區(qū)域，夾具在x、y和z 3個方向受力均衡，不產生彎曲變形而造成偏差，自動對準系統(tǒng)還可以檢測和補償定位孔與外層圖形間的偏差，在夾具材料的選擇上，使用模塊化、受溫濕度影響下小的材料，保證尺寸精確、穩(wěn)定。

　　(3)導電橡膠模塊的引入

　　有些針床測試設備中，對于某些極為精細的部分，如TAB，倒裝芯片，μBGA或QFP等，測試點中心距在0.1mm左右，用針測試定位困難。采用導電橡膠模塊，進行局部測試，可以克服針床測試的不足，這個模塊通過氣動導管與夾具相連，由相應的夾具設計軟件自動定位，若多個區(qū)域需要用到這個模塊，模塊可多次采用，但導電橡膠模塊將所覆蓋區(qū)域的所有測試點短連，其內部的短路無法測出，僅用于被測區(qū)域與外界的連通性，若要測試內部短路，必須將這些網選出，采用其他的方法(如移動探針)測試。

　　(4)開關卡技術的改進

　　為適應測試準確性的要求，開關卡要求能耐高壓，在"關"的狀態(tài)下無泄露，在"開"的狀態(tài)下電阻能得到補償，保證測試正確性，開關卡本身采用SMT封裝，占用體積小，并有ESD(靜電放電保護)。

　　針床測試技術由于本身原理及方法限制，雖然面臨嚴峻的技術挑戰(zhàn)，但它某些方面，如效率等仍然存在其他方法所沒有的優(yōu)勢，加之夾具技術的改進和新技術的配合使用，它還將在測試領域具有強壯的生命力。

　　3 飛針式測試技術

　　現今電子產品的設計和生產承受著上市時間的巨大壓力，產品更新的時間周期越來越短，因此在最短時間內開發(fā)新產品和實現批量生產對電子產品制