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          在線測試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展(二)

          作者: 時間:2013-07-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          作上是至關(guān)重要的。飛針測試技術(shù)是目前電氣測試一些主要問題的最新解決辦法,它才探針來取代針床,使用多個由電動機驅(qū)動、能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進行接觸并進行電氣測量,這種儀器最初是為裸板而設(shè)計的,也需要復(fù)雜的軟件和程序來支持,現(xiàn)在已經(jīng)能夠有效地進行模擬,飛針測試的出現(xiàn)已經(jīng)改變了小批量與快速轉(zhuǎn)換(quick -turn)裝配產(chǎn)品的測試方法,以前需要幾周時間開發(fā)的測試現(xiàn)在僅需幾個小時,大大縮短了產(chǎn)品設(shè)計周期和投入市場的時間。

            3.1 飛針測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)特點

            飛針式測試儀是對傳統(tǒng)針床儀的一種改進,它用探針來代替針床,在x-y機構(gòu)上裝有可分別高速移動的4個頭共8根測試探針,最小測試間隙為0.2mm,如圖11。工作時在測單元(UUT,unit under test)通過皮帶或者其他UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機內(nèi),然后固定,測試儀的探針接觸測試焊盤(test pad)和通路孔(via),從而測試在測單元(UUT)的單個元件,測試探針通過多路傳輸系統(tǒng)連接到驅(qū)動器(信號發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬用表、頻率計數(shù)器等)來測試UUT上的元件。當(dāng)一個元件正在測試的時候,UUT上的其他元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

            飛針測試儀可以檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個相機來幫助查找丟失元件。用相機來檢查方向明確的元件形狀,如極性電容。隨著探針定位精度和可重復(fù)性達到5-15μm的范圍,飛針測試儀可精確地探測UUT。飛針測試解決了在PCB裝配中見到的大量現(xiàn)有問題:如可能長達到4-6周期的測試開發(fā)周期:大約10 000-50 000美元的夾具開發(fā)成本:不能經(jīng)濟地測試小批量生產(chǎn);以及不能快速地測試原型樣機(prototype)裝配。

            

          在線測試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展(二)

            3.2 測試開發(fā)與調(diào)試

            飛針測試儀的編程比傳統(tǒng)的針床系統(tǒng)更容易、更快捷,以Teradyne公司的Javelin 1004為例,它采用Windows NT平臺和直觀的用戶界面,以及專用編程和測試系統(tǒng),使編程時間縮短,用戶可在1-2天內(nèi)將PCB的CAD數(shù)據(jù)通過FAB master軟件轉(zhuǎn)換成PCB測試數(shù)據(jù),由圖形流程表進行探針控制,程序自動生產(chǎn)、調(diào)試程序可借助元器件測試表單,使編程和調(diào)試速度加快,測試程序的安裝同樣很簡單,表明飛針系統(tǒng)具有極佳靈活性和快速適應(yīng)能力,相反,傳統(tǒng)針床在線測試系統(tǒng)的編程與夾具開發(fā)可能需要160h和調(diào)試140h。

            3.3 飛針測試的缺點

            由于具有編程容易,能夠在數(shù)小時內(nèi)測試原型樣機裝配,以及測試低產(chǎn)量的產(chǎn)品而沒有典型的夾具開發(fā)費用,飛針測試可解決生產(chǎn)環(huán)境中的許多問題,但是還不是所有的生產(chǎn)測試問題都可以通過使用飛針測試來解決。

            和任何事情一樣,飛針測試也有其缺點,因為測試探針與通路孔和測試焊盤上的焊錫發(fā)生物理接觸,可能會在焊錫上留下小凹坑。而對于某些OEM客戶來說,這些小凹坑可能被認(rèn)為是外觀缺陷,造成拒絕接受,因為有時在沒有測試焊盤的地方探針會接觸到元件引腳,所以可能會錯過松脫或焊接不良的元件引腳。

            飛針測試時間過長是另一個不足,傳統(tǒng)的針床測試探針數(shù)目有500-3000只,針床與PCB一次接觸即可完成在線測試的全部要求,測試時間只要幾十秒,而飛針探針只有4支,針床一次接觸所完成的測試,飛針需要許多次運動才能完成,時間顯然要長的多,另外針床測試儀可使用頂面夾具同時測試雙面PCB的頂面與底面元件,而飛針測試儀要求操作員測試完一面,然后翻轉(zhuǎn)再測試另一面,由此看出飛針測試并不能很好適應(yīng)大批量生產(chǎn)的要求。

            3.4 飛針測試的優(yōu)點

            盡管有上述這些缺點,飛針測試儀仍不失為一個有價值的工具,其優(yōu)點包括:

            (1)較短的測試開發(fā)周期,系統(tǒng)接收到CAD文件后幾小時內(nèi)就可以開始生產(chǎn),因此,原型電路板在裝配后數(shù)小時即可測試,而不象針床測試,高成本的測試開發(fā)與夾具可能將生產(chǎn)周期延誤幾天甚至幾個月。



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