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          利用頻域時(shí)鐘抖動(dòng)分析加快設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程

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          作者: 時(shí)間:2008-01-21 來源: 收藏

            簡(jiǎn)介

            隨著數(shù)據(jù)速率的提高,抖動(dòng)分析的需求也在與日俱增。在高速串行數(shù)據(jù)鏈路中,抖動(dòng)會(huì)影響發(fā)射機(jī)、傳輸線和接收機(jī)的數(shù)據(jù)抖動(dòng)。保證質(zhì)量的測(cè)量也在不斷發(fā)展。目前的重點(diǎn)是針對(duì)比特誤碼率,在時(shí)鐘性能和系統(tǒng)性能之間建立直接聯(lián)系。我們將探討參考時(shí)鐘的作用和時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)數(shù)據(jù)抖動(dòng)的影響,并討論在E5052B()上運(yùn)行的Agilent E5001A精確時(shí)鐘抖動(dòng)分析應(yīng)用軟件所配備的全新測(cè)量技術(shù)。該應(yīng)用軟件提供了前所未有的強(qiáng)大能力,可以對(duì)隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)和周期抖動(dòng)(PJ)分量超低 RJ測(cè)量和實(shí)時(shí)抖動(dòng)頻譜分析,使您能夠提高設(shè)計(jì)質(zhì)量。我們還將對(duì)新解決方案的實(shí)時(shí)測(cè)量功能進(jìn)行討論,這一功能能夠加快設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程。

            參考時(shí)鐘在高速串行應(yīng)用中的作用

            圖1是參考時(shí)鐘的主要分量。發(fā)射機(jī)通常將一組速率較低的并行信號(hào)轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)流。信號(hào)經(jīng)過一條包括多個(gè)背板和電纜的傳輸通道進(jìn)行傳送。接收機(jī)通常會(huì)解釋輸入的串行數(shù)據(jù),從中分離出時(shí)鐘,再把串行數(shù)據(jù)重新轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)流。在許多諸如此類的說明中,參考時(shí)鐘更多地被視為一種分量但不是主要分量,而在高速串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)中,我們必須承認(rèn)參考時(shí)鐘是一種主要分量。通常,參考時(shí)鐘的振蕩速率遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于數(shù)據(jù)速率,但它會(huì)在發(fā)射機(jī)中成倍增長(zhǎng)。發(fā)射機(jī)使用參考時(shí)鐘來確定串行數(shù)據(jù)流中的邏輯變換定時(shí)。發(fā)射的數(shù)據(jù)中包括參考時(shí)鐘的特征。在接收機(jī)中可能會(huì)出現(xiàn)兩種不同的情況。如果未分配參考時(shí)鐘,則接收機(jī)會(huì)利用鎖相環(huán)(PLL)從數(shù)據(jù)流中還原時(shí)鐘――并利用該時(shí)鐘定位采樣時(shí)間點(diǎn)。如果已分配參考時(shí)鐘,則接收機(jī)會(huì)同時(shí)使用數(shù)據(jù)信號(hào)和參考時(shí)鐘來定位采樣點(diǎn)。

            

          參考時(shí)鐘的作用

            圖1.參考時(shí)鐘的作用

            時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)發(fā)射機(jī)數(shù)據(jù)抖動(dòng)的影響

            參考時(shí)鐘是最終的系統(tǒng)定時(shí)源。它為發(fā)射機(jī)、已分配和未分配的時(shí)鐘系統(tǒng)提供時(shí)基,而接收機(jī)的時(shí)鐘恢復(fù)電路可以重現(xiàn)參考時(shí)鐘特征?,F(xiàn)在我們將探討時(shí)鐘抖動(dòng)如何在系統(tǒng)發(fā)射機(jī)中進(jìn)行傳輸。

            發(fā)射機(jī)必須用適當(dāng)?shù)囊驍?shù)乘以參考時(shí)鐘獲得數(shù)據(jù)速率,才能確定邏輯變換定時(shí)。例如,對(duì)于100 MHz參考時(shí)鐘和5 Gb/s輸出信號(hào),發(fā)射機(jī)將用PLL給參考時(shí)鐘乘以因數(shù)50。PLL乘法器不僅放大時(shí)鐘抖動(dòng),還引入其自身的抖動(dòng),主要是PLL壓控振蕩器(VCO)的 RJ。頻率乘以因數(shù)n的結(jié)果是相位噪聲功率載波比乘以n2,所以抖動(dòng)迅速變大。

            

          發(fā)射機(jī)時(shí)鐘抖動(dòng)的結(jié)果

            圖2.發(fā)射機(jī)時(shí)鐘抖動(dòng)的結(jié)果

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            發(fā)射機(jī)中的PLL乘法器具有一定的頻率響應(yīng),通常是如圖3所示的二階響應(yīng)。非均勻頻率響應(yīng)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)值得注意的問題:時(shí)鐘抖動(dòng)實(shí)際上有什么影響?如果PLL非常出色且?guī)挒榱?,那么它將過濾掉所有的時(shí)鐘抖動(dòng),而為發(fā)射機(jī)提供無抖動(dòng)時(shí)基。當(dāng)然,零帶寬意味著無限鎖定時(shí)間,所以我們不得不綜合考慮,但是PLL帶寬越窄,參考時(shí)鐘加入數(shù)據(jù)中的抖動(dòng)就越小。確定時(shí)鐘是否能在系統(tǒng)中正常工作且符合預(yù)期的 BER要求,需要對(duì)抖動(dòng)頻譜進(jìn)行詳細(xì)測(cè)試。

            

          PLL頻率響應(yīng)

            圖3. PLL頻率響應(yīng)

            真實(shí)的抖動(dòng)源

            如果觀察實(shí)際環(huán)境中的高速數(shù)字電路,您會(huì)發(fā)現(xiàn)許多抖動(dòng)源,如圖4所示。跟我們前面討論的一樣,時(shí)鐘信號(hào)通常分配給多個(gè)IC,時(shí)鐘頻率可能進(jìn)行乘法和/或除法運(yùn)算。假設(shè)來自晶體振蕩器的參考時(shí)鐘具有較低的抖動(dòng),因?yàn)镮C帶來的附加噪聲或其他設(shè)備產(chǎn)生的干擾,所以經(jīng)過乘法或除法運(yùn)算的輸出時(shí)鐘也可能不是非常干凈。

            一個(gè)主要污染源就是開關(guān)電源的噪聲。開關(guān)頻率一般為100 kHz到1 MHz。開關(guān)電源噪聲可能會(huì)注入時(shí)鐘信號(hào)線路,它在左下圖中顯示為PJ。

            其他周期抖動(dòng)分量的來源可能是數(shù)據(jù)或時(shí)鐘線路的干擾,經(jīng)互調(diào)后可能位于時(shí)鐘線上,也顯示為PJ分量。只要PJ分量表現(xiàn)的遠(yuǎn)離時(shí)鐘頻率,它就極有可能插入帶通濾波器(或低通濾波器)來消除這些抖動(dòng)。然而,問題是周期抖動(dòng)在什么時(shí)間接近時(shí)鐘頻率,因?yàn)楦哳l高Q濾波器很難得到。參考時(shí)鐘的RJ也一樣,時(shí)鐘除法器可能添加寬帶噪聲,這可能會(huì)使輸出時(shí)鐘信號(hào)的RJ增加。

            要診斷各種問題,設(shè)計(jì)人員必須表征有關(guān)電路物理布局和/或工作環(huán)境下的時(shí)鐘抖動(dòng)。

            

          實(shí)際環(huán)境中的抖動(dòng)源

            圖4.實(shí)際環(huán)境中的抖動(dòng)源

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            通過相位噪聲測(cè)量技術(shù)表征時(shí)鐘抖動(dòng)

            全面分析時(shí)鐘信號(hào)要求達(dá)到飛秒級(jí)精度,只有相位噪聲測(cè)量技術(shù)才能達(dá)到這種精度。相位噪聲分析提供兩種主要測(cè)量:Sψ(fψ)和ψ(t),它們根據(jù)相位噪聲測(cè)量帶寬限制收集時(shí)鐘的所有相位信息。

            在相位噪聲分析儀上分析RJ可以完成兩個(gè)重要目標(biāo)。首先,通過集成RJ頻譜,可以提取預(yù)定帶寬中的相應(yīng)RJ高斯分布寬度。其次,通過分析Sψ(fψ)的冪級(jí)數(shù)行為確定RJ的主要原因。(圖5)

            在相位噪聲頻譜中可以看到PJ分量的雜散。所以PJ頻率知識(shí)對(duì)于診斷問題非常有幫助。參考每個(gè)PJ頻率的PJ rms也能幫您了解每個(gè)PJ分量對(duì)總體時(shí)鐘抖動(dòng)的影響,查看去除主要PJ分量之后總體抖動(dòng)的變化。(圖6)

            

          分析相位噪聲測(cè)量的RJ

            圖5.分析相位噪聲測(cè)量的RJ

            

          相位噪聲測(cè)量的PJ頻率

            圖6.相位噪聲測(cè)量的PJ頻率

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            通過先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)進(jìn)行實(shí)時(shí)抖動(dòng)測(cè)量

            與傳統(tǒng)的抖動(dòng)測(cè)量模式不同,帶有 E5001A軟件的E5052B 可以對(duì)相位噪聲測(cè)量進(jìn)行實(shí)時(shí)抖動(dòng)分析。該儀器使用PLL提供參考源。它能夠自動(dòng)檢測(cè)時(shí)鐘頻率,在幾毫秒內(nèi)把內(nèi)置參考源自動(dòng)調(diào)諧為時(shí)鐘頻率,測(cè)量相位檢波器保持PLL所產(chǎn)生的噪聲信號(hào)。它在250 MSa/s ADC上捕獲噪聲信號(hào),從而可以進(jìn)行100 MHz抖動(dòng)帶寬測(cè)量。該測(cè)量涵蓋OC-192抖動(dòng)分析范圍。實(shí)時(shí)FFT可以獲得頻域數(shù)據(jù),并能顯著提高測(cè)量速度。例如,1 kHz到100 MHz帶寬的測(cè)量每次只需0.3秒。

            

          Agilent E5052B信號(hào)源分析儀的先進(jìn)體系結(jié)構(gòu)

            圖7. Agilent E5052B的先進(jìn)體系結(jié)構(gòu)

            利用交叉關(guān)聯(lián)技術(shù)獲得出色的抖動(dòng)本底噪聲

            E5052B抖動(dòng)測(cè)量分辨率和本底噪聲非常低,通常10Gbps速率時(shí)的RJ本底噪聲僅為幾飛秒。由于ADC的動(dòng)態(tài)范圍有限,且其內(nèi)部參考時(shí)基的剩余抖動(dòng)較大,高性能(實(shí)時(shí)或采樣)示波器的抖動(dòng)本底噪聲通常在一百飛秒以上。E5052B通過檢測(cè)基帶(其中較大的載波信號(hào)已刪除)的相位噪聲來保持寬動(dòng)態(tài)范圍。E5052B利用兩個(gè)獨(dú)立的內(nèi)部測(cè)量通道之間的獨(dú)特交叉關(guān)聯(lián)技術(shù),將抖動(dòng)測(cè)量極限擴(kuò)大到低于其內(nèi)部時(shí)基的殘余抖動(dòng)。(參見圖7)與目前的高性能示波器相比,E5052B利用這種交叉關(guān)聯(lián)技術(shù)把抖動(dòng)本底噪聲降低了100倍到1,000倍。(圖8)

            

          利用交叉關(guān)聯(lián)技術(shù)獲得的出色抖動(dòng)本底噪聲

            圖8.利用交叉關(guān)聯(lián)技術(shù)獲得的出色抖動(dòng)本底噪聲

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            實(shí)時(shí)仿真PLL響應(yīng)

            圖9表示直接應(yīng)用于時(shí)鐘相位噪聲信號(hào)的PLL響應(yīng)功能的結(jié)果。您可以看到如何消除頻譜的不同部分,使您可以分析與應(yīng)用相關(guān)的抖動(dòng)。E5052B對(duì)相位噪聲測(cè)量的實(shí)時(shí)抖動(dòng)分析功能可加快您的設(shè)計(jì)進(jìn)程。 E5052B 可以導(dǎo)入任何PLL響應(yīng)函數(shù),使您可以輕松快速地仿真設(shè)備到設(shè)備的PLL響應(yīng)。

            

          仿真PLL響應(yīng)

            圖9.仿真PLL響應(yīng)

            總結(jié)

            對(duì)于高速串行數(shù)據(jù)應(yīng)用,時(shí)鐘抖動(dòng)分析的主要目的是確定參考時(shí)鐘的抖動(dòng)對(duì)系統(tǒng)比特誤碼率的影響。最精確的方法是對(duì)時(shí)鐘應(yīng)用發(fā)射機(jī)(和接收機(jī))在最壞情況下的傳遞函數(shù),并測(cè)量獲得的時(shí)鐘RJ和PJ。在E5052B上運(yùn)行的E5001A精確時(shí)鐘抖動(dòng)分析軟件改變了傳統(tǒng)的抖動(dòng)測(cè)量方式,它不僅能以飛秒級(jí)分辨率對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)進(jìn)行全面分析,而且具有出色的易用性和實(shí)時(shí)抖動(dòng)分析功能,可以幫助您加快設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程。



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