測試測量技術(shù)發(fā)展趨勢

　　現(xiàn)在，NI提供的R系列數(shù)據(jù)采集和FlexRIO產(chǎn)品家族將高性能的FPGA集成到現(xiàn)成可用的I/O 板卡上，供用戶根據(jù)應用進行定制和重復配置，同時配合LabVIEW FPGA直觀方便的圖形化編程，用戶能夠在無需編寫底層VHDL代碼的情況下，快速地配置和編程FPGA的功能，用于自動化測試和控制應用(見圖3)。

　　前段時間，歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強大的粒子加速度器——大型強子對撞機(LHC)配備了超過120套帶有可重復配置I/O模塊的NI PXI系統(tǒng)，用于控制瞄準儀的運動軌跡和監(jiān)測其實時位置，從而確保粒子在既定的路徑中運作。為了保證極高的可靠性和精確性，F(xiàn)PGA成為其必備的測試和控制技術(shù)。

　　隨著對FPGA技術(shù)應用復雜性的簡化，可以預計，擁有高性能和靈活性的FPGA技術(shù)將越來越多地被應用于未來的儀器系統(tǒng)中。

　　趨勢四：無線標準測試的爆炸性增長

　　近年來無線通信標準的發(fā)展可謂是日新月異，從2000年前只有四五種的無線標準到現(xiàn)在眾多新標準如雨后春筍般涌現(xiàn)。越來越多的消費電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少地集成了無線通信的功能，像蘋果公司最新的3G版iPhone手機，更是同時集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍牙等多種最新的無線標準。這些都給無線技術(shù)的開發(fā)和測試帶來了巨大的挑戰(zhàn)，測試技術(shù)如何跟上無線技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統(tǒng)射頻儀器的購買周期是5~7年，而新標準和新技術(shù)的推出周期卻是每兩年一輪，購買的射頻測試設(shè)備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發(fā)展速度。