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          測試測量技術(shù)發(fā)展趨勢

          作者:徐赟 NI中國技術(shù)市場工程師 時(shí)間:2009-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            面對(duì)這樣的挑戰(zhàn),一種以為核心的無線測試平臺(tái)正嶄露頭角。信號(hào)的上下變頻和數(shù)字化由模塊化的射頻硬件完成,而編解碼和調(diào)制解調(diào)的過程全部通過實(shí)現(xiàn)。這樣,在統(tǒng)一的模塊化硬件平臺(tái)上,只需修改就可以滿足不同無線標(biāo)準(zhǔn)的測試需求,使得工程師有能力在第一時(shí)間測試最新的標(biāo)準(zhǔn),加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/95265.htm

             和PXI RF平臺(tái)就是這樣一個(gè)軟件無線電的測試平臺(tái),多年來已經(jīng)成為工程師和科學(xué)家們開發(fā)無線標(biāo)準(zhǔn)和測試無線應(yīng)用的必備工具。例如德州大學(xué)奧斯汀分校的師生基于的軟件無線電平臺(tái),在短短6周時(shí)間內(nèi)開發(fā)出MIMO-OFDM 4G的系統(tǒng)原型;成都華日通信公司(國內(nèi)無線電頻譜管理設(shè)備主要供應(yīng)商)利用 PXI矢量信號(hào)分析儀和開發(fā)了帶有自主產(chǎn)權(quán)的HR-100寬帶無線電接收機(jī)和監(jiān)測系統(tǒng),已廣泛應(yīng)用于國內(nèi)的頻譜監(jiān)測和信號(hào)定向領(lǐng)域。聚星儀器(NI大陸地區(qū)系統(tǒng)聯(lián)盟商)也開發(fā)出了全球首個(gè)支持C1G2 RFID標(biāo)準(zhǔn)全部指令的測試設(shè)備,并實(shí)現(xiàn)了與RFID標(biāo)簽微秒級(jí)的實(shí)時(shí)通信。

            趨勢五:協(xié)議感知ATE將影響

            半導(dǎo)體的測試

            如今的半導(dǎo)體器件變得愈加復(fù)雜,高級(jí)的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言,需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)的功能測試。現(xiàn)在器件的功能也不再是通過簡單的并行數(shù)字接口實(shí)現(xiàn),而是更多依賴于高速串行總線和無線協(xié)議進(jìn)行輸出,這就要求測試設(shè)備和器件之間能夠在指定的時(shí)鐘周期內(nèi)完成高速的激勵(lì)和響應(yīng)測試。

            復(fù)雜的測試需求催生了協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE的誕生,Andrew Evans在2007國際測試會(huì)議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE - Protocol Aware”中首次提出了這個(gè)概念。這是一種模仿器件真實(shí)使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法,按照器件期望的使用方式,進(jìn)行有針對(duì)性的器件功能測試和驗(yàn)證。

            國際半導(dǎo)體測試協(xié)會(huì)(STC)和新近成立的半導(dǎo)體測試合作聯(lián)盟(CAST)都在考慮為自動(dòng)化測試廠商制定開放的測試架構(gòu),以滿足日益增加的半導(dǎo)體測試需求和降低測試成本。NI作為STC協(xié)會(huì)便攜式測試儀器模塊()工作組的主席,正在致力于創(chuàng)建一種新的指南和標(biāo)準(zhǔn),使工程師能夠?qū)⒌谌降哪K化測試儀器(如PXI)集成到傳統(tǒng)的半導(dǎo)體ATE中,以實(shí)現(xiàn)更為靈活自定義、符合“協(xié)議感知”要求的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。

            把握發(fā)展趨勢,占據(jù)市場先機(jī),在全球經(jīng)濟(jì)步入調(diào)整期的今天,相信測試測量行業(yè)仍會(huì)有一個(gè)美好的未來。

            參考文獻(xiàn):

            [1] NI 虛擬儀器動(dòng)力之源[R/OL].http://www.ni.com/labview/zhs/

            [2] 朱君.測試測量儀器技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入2.0時(shí)代[J].儀器儀表. 2007.5

            [3] 新一代的自動(dòng)化測試[R/OL]. http://www.ni.com/automatedtest/zhs/

            [4] PXI自動(dòng)測試平臺(tái)[R/OL].http://www.ni.com/pxi/zhs/

            [5] Evans A.The New ATE - Protocol Aware[C]. 2007國際測試會(huì)議(ITC)


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