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          微捷碼QuickCap NX可支持40納米工藝iRCX格式

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          作者: 時間:2009-06-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

             NX:寄生提取領(lǐng)域黃金標準

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/95378.htm

             NX常被主流半導體公司用作為寄生提取參考標準。作為一款高度精確的3D提取器,它可提供光學鄰近效應(yīng)糾正(OPC)、化學機械研磨(CMP)、梯形布線等先進工藝效應(yīng)的精確建模。經(jīng)證明, NX通過與精確分析解決方案和芯片測量密切聯(lián)系,可提供了芯片測量的1%以內(nèi)的電容值。

            同時,通過提供有關(guān)每個網(wǎng)絡(luò)的拔入精度和誤差界限報告,它還為用戶提供了對結(jié)果精度的完整控制,讓用戶對結(jié)果精度充滿信心。目前,QuickCap NX更密切匹配芯片測量的能力已得到領(lǐng)先的代工廠的確認;通過將工藝效應(yīng)考慮在內(nèi),QuickCap NX電容值 與實際芯片測量間平均差已從9.79%降低為只有0.11%。

            微捷碼流程中的QuickCap NX

            在微捷碼流程中,QuickCap NX可被用以進行布局后分析。同時,QuickCap技術(shù)可被合并進Talus®物理設(shè)計軟件系統(tǒng)中以支持芯片實現(xiàn)期間高度精確的時序和噪音分析;它還可被用于計算Talus和Quartz™ RC簽核提取工具內(nèi)所用的高度精確的電容規(guī)則。


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