惠瑞捷推出零空間占用的低成本測(cè)試系統(tǒng)V101

　　半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和集成電路、微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長(zhǎng)的上市時(shí)間壓力。

　　V101測(cè)試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國(guó)加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會(huì)議中心舉行的SEMICON WEST展覽會(huì)上展出。

　　惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測(cè)試技術(shù)專業(yè)知識(shí)惠及這一細(xì)分市場(chǎng)。這一成本敏感型市場(chǎng)要求測(cè)試方案以最低的測(cè)試成本提供最大的整體價(jià)值。有鑒于此，我們?cè)O(shè)計(jì)了一種自行安裝、自行診斷和自行維護(hù)的系統(tǒng)。”

　　V101測(cè)試系統(tǒng)擁有多達(dá)1024個(gè)輸入/輸出通道，數(shù)字時(shí)鐘頻率高達(dá)100 MHz，其性能保證可以經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試目前對(duì)成本最為敏感的集成電路和微控制器，尤其是廣泛應(yīng)用于低端移動(dòng)通信和消費(fèi)類產(chǎn)品。

　　V101擁有獨(dú)特的Tester-on-BoardTM架構(gòu)，可直接在測(cè)試板上布置數(shù)字直流資源，從而簡(jiǎn)化了測(cè)試儀硬件和配置。該架構(gòu)支持高效率的多站點(diǎn)測(cè)試，數(shù)據(jù)吞吐量高，同時(shí)可降低測(cè)試成本，而標(biāo)準(zhǔn)化組件使得V101易于安裝和維護(hù)。

　　魏津補(bǔ)充說(shuō)：“V101是一個(gè)簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)、易用的系統(tǒng)，可為客戶提供前所未有的價(jià)值。因此，尚未使用過(guò)惠瑞捷解決方案的客戶也開(kāi)始對(duì)我們的產(chǎn)品感興趣，其中有需要測(cè)試多種芯片的客戶，還有專注于成本敏感型MCU市場(chǎng)的測(cè)試廠和制造商。”