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          一種新的晶圓級1/f噪聲測量方法

          作者:黃麗華 時間:2009-08-31 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            3. 測量架構(gòu)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/97638.htm

            a) 噪聲測量配置

            噪聲測量配置是由的系列測量儀器構(gòu)成的,包括半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)KI4200-SCS、可編程低KI428-PROG和,以及的ACS(自動特征分析套件)軟件。在構(gòu)建這一配置時,特別注意要最大限度地減少外界電磁噪聲。

            圖1. 新的測量配置方案原理圖

            測試配置的原理圖如圖1所示,其中虛線表示ACS控制流,實線表示數(shù)據(jù)流。

            b) 測試系統(tǒng)設(shè)計

            安裝了ACS軟件的KI 4200-SCS和KI 4200-SCP2,能夠完成提供輸入電壓,控制電流-電壓的測量,測量噪聲信號,控制,和分析測試結(jié)果等工作。

            我們采用一個KI 4200 SMU和一個0.5Hz濾波器提供器件的輸入偏壓。由于能夠消除所有高于0.5Hz的噪聲,因此測量的精度大大提高了。采用一個金屬盒將該濾波器屏蔽起來以避免引入外界電磁干擾,這樣盡可能地使輸入偏壓為一直流偏壓。

            采用一個探針臺測量晶圓級。探針臺、DUT(待測器件)和濾波器都用電磁屏蔽金屬盒屏蔽起來,從而消除和減少了外部噪聲的干擾。



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